無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)測(ce)就(jiu)是利用(yong)聲(sheng)、光、磁(ci)(ci)和電等(deng)特性(xing)(xing),在(zai)不(bu)損(sun)(sun)害或不(bu)影響(xiang)被檢(jian)(jian)對(dui)象(xiang)(xiang)使用(yong)性(xing)(xing)能的(de)(de)前提下,檢(jian)(jian)測(ce)被檢(jian)(jian)對(dui)象(xiang)(xiang)中是否(fou)存在(zai)缺陷或不(bu)均勻性(xing)(xing),給出缺陷的(de)(de)大小、位置、性(xing)(xing)質和數量等(deng)信息,進而判定被檢(jian)(jian)對(dui)象(xiang)(xiang)所處技(ji)術狀態(如合(he)格與否(fou)、剩余壽命等(deng))的(de)(de)所有技(ji)術手段(duan)的(de)(de)總(zong)稱。常用(yong)的(de)(de)無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)測(ce)方法:超(chao)聲(sheng)檢(jian)(jian)測(ce)(UT)、磁(ci)(ci)粉檢(jian)(jian)測(ce)(MT)、液體(ti)滲透檢(jian)(jian)測(ce)(PT)及X射(she)線檢(jian)(jian)測(ce)(RT)。       


  超聲(sheng)波檢測(ce)已經單(dan)獨詳細的介(jie)紹(shao)過(guo)了,下(xia)面(mian)就簡(jian)單(dan)地對剩(sheng)下(xia)的三個進行介(jie)紹(shao)和對比。       


 首先來了解一下,磁(ci)(ci)粉檢(jian)測的(de)原理(li)。鐵磁(ci)(ci)性(xing)材料和(he)工件被磁(ci)(ci)化后,由(you)于不(bu)(bu)連續性(xing)的(de)存(cun)在(zai),工件表(biao)(biao)面和(he)近表(biao)(biao)面的(de)磁(ci)(ci)力線發(fa)生局(ju)部(bu)畸變(bian),而(er)產(chan)生漏磁(ci)(ci)場,吸附施加在(zai)工件表(biao)(biao)面的(de)磁(ci)(ci)粉,形(xing)(xing)成在(zai)合適(shi)光(guang)照下目視可(ke)見的(de)磁(ci)(ci)痕,從而(er)顯(xian)示出不(bu)(bu)連續性(xing)的(de)位置、形(xing)(xing)狀和(he)大小。       


 磁粉檢(jian)測的適用性和局限性有:


 1. 磁(ci)粉探傷適用于檢(jian)測鐵(tie)磁(ci)性(xing)(xing)材料表面和近(jin)表面尺寸很(hen)小、間隙極窄(zhai)目視難以看(kan)出的不連續性(xing)(xing)。       


 2. 磁粉檢(jian)測可對多種情況下(xia)的(de)零部(bu)件檢(jian)測,還可多種型(xing)件進行檢(jian)測。       


 3. 可(ke)發(fa)現裂(lie)紋、夾雜(za)、發(fa)紋、白(bai)點、折疊、冷隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁粉檢(jian)測不(bu)(bu)能檢(jian)測奧(ao)氏體不(bu)(bu)銹鋼材料和用奧(ao)氏體不(bu)(bu)銹鋼焊條焊接(jie)的(de)焊縫(feng),也(ye)不(bu)(bu)能檢(jian)測銅(tong)鋁鎂鈦等非磁性材料。對于表面淺劃傷、埋藏較深洞和與工件(jian)表面夾角小于20°的(de)分(fen)層和折疊(die)很難發現。


  液(ye)(ye)體滲(shen)透檢測(ce)的基本(ben)原理,零件表(biao)面被(bei)施涂含有熒光(guang)染(ran)料(liao)或著色(se)染(ran)料(liao)后(hou),在(zai)一段時(shi)間的毛(mao)細(xi)管作用下,滲(shen)透液(ye)(ye)可以滲(shen)透進(jin)表(biao)面開口缺(que)陷(xian)中(zhong);經(jing)去除零件表(biao)面多余(yu)的滲(shen)透液(ye)(ye)后(hou),再在(zai)零件表(biao)面施涂顯像劑(ji),同樣,在(zai)毛(mao)細(xi)管的作用下,顯像劑(ji)將吸引缺(que)陷(xian)中(zhong)保留(liu)的滲(shen)透液(ye)(ye),滲(shen)透液(ye)(ye)回滲(shen)到顯像劑(ji)中(zhong),在(zai)一定的光(guang)源下(紫(zi)外線光(guang)或白光(guang)),缺(que)陷(xian)處的滲(shen)透液(ye)(ye)痕跡被(bei)現實,(黃綠(lv)色(se)熒光(guang)或鮮艷紅色(se)),從(cong)而探測(ce)出缺(que)陷(xian)的形貌及分(fen)布狀態。        


 滲透(tou)檢測的優點:1. 可檢測各種(zhong)材料; 2. 具(ju)有較高的靈敏(min)度;3. 顯示直觀、操作方(fang)便、檢測費用低。       


 滲透檢(jian)測的缺點:1. 不(bu)適于檢(jian)查(cha)多孔性疏(shu)松材(cai)料制成的(de)工(gong)件和(he)表(biao)面(mian)(mian)粗糙的(de)工(gong)件;2. 滲(shen)透(tou)檢(jian)測只能(neng)檢(jian)出(chu)(chu)缺陷的(de)表(biao)面(mian)(mian)分布,難以確定缺陷的(de)實際(ji)深度,因而很難對缺陷做出(chu)(chu)定量(liang)評價。檢(jian)出(chu)(chu)結果受操作(zuo)者的(de)影響也較大。       


 最后一種(zhong),射(she)線檢測,是(shi)(shi)因(yin)為(wei)(wei) X射(she)線穿過被照射(she)物(wu)(wu)體后會有(you)(you)損(sun)耗(hao),不(bu)同(tong)厚度(du)不(bu)同(tong)物(wu)(wu)質對它們的(de)吸(xi)收率不(bu)同(tong),而(er)底(di)片放在被照射(she)物(wu)(wu)體的(de)另一側,會因(yin)為(wei)(wei)射(she)線強度(du)不(bu)同(tong)而(er)產生相應(ying)的(de)圖形,評片人(ren)員就(jiu)可以根據影像來判(pan)斷物(wu)(wu)體內部的(de)是(shi)(shi)否有(you)(you)缺陷以及缺陷的(de)性質。 


 射線(xian)(xian)檢測的(de)適用(yong)性和局限(xian)性:   1. 對(dui)檢測體積型的(de)缺陷比較(jiao)敏感,比較(jiao)容易(yi)對(dui)缺陷進(jin)行(xing)定性。 2. 射線(xian)(xian)底片易(yi)于(yu)保留,有追溯性。3. 直觀顯示缺陷的(de)形狀和類(lei)型。  4. 缺點不(bu)能定位缺陷的(de)埋藏(zang)深度(du)(du),同時檢測厚(hou)度(du)(du)有限(xian),底片需專門送洗,并且對(dui)人身(shen)體有一定害,成(cheng)本較(jiao)高(gao)。     


  總而言(yan)之,超(chao)聲(sheng)波(bo)、X射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)適用于(yu)(yu)探(tan)傷(shang)內部(bu)(bu)缺陷;其中超(chao)聲(sheng)波(bo)適用于(yu)(yu)5mm以上(shang),且(qie)形狀規(gui)則的部(bu)(bu)件,X射(she)線(xian)不能定位(wei)缺陷的埋藏(zang)深度(du),有輻射(she)。 磁粉、滲透探(tan)傷(shang)適用于(yu)(yu)探(tan)傷(shang)部(bu)(bu)件表面缺陷;其中磁粉探(tan)傷(shang)僅(jin)限(xian)于(yu)(yu)檢測磁性材(cai)料(liao),滲透探(tan)傷(shang)僅(jin)限(xian)于(yu)(yu)檢測表面開口缺陷。