無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)就是(shi)利用聲、光(guang)、磁(ci)和電等(deng)特(te)性(xing)(xing)，在(zai)不損害或不影響被(bei)檢(jian)(jian)對(dui)象使用性(xing)(xing)能的(de)前提下，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)被(bei)檢(jian)(jian)對(dui)象中是(shi)否存在(zai)缺(que)(que)陷或不均勻性(xing)(xing)，給出缺(que)(que)陷的(de)大(da)小、位置、性(xing)(xing)質(zhi)和數量等(deng)信息(xi)，進(jin)而判定被(bei)檢(jian)(jian)對(dui)象所處技(ji)術狀態(如合格與否、剩余壽命(ming)等(deng))的(de)所有技(ji)術手段的(de)總稱。常用的(de)無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法：超聲檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(UT)、磁(ci)粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(MT)、液體(ti)滲透檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(PT)及X射線檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(RT)。
超聲(sheng)波(bo)檢測已經(jing)單獨詳細的(de)介(jie)紹過(guo)了，下(xia)面(mian)就簡單地對剩下(xia)的(de)三個進行介(jie)紹和對比。
首先來了解一下(xia)，磁(ci)粉(fen)檢測的(de)原理。鐵磁(ci)性(xing)材(cai)料和工(gong)件被磁(ci)化(hua)后，由于(yu)不(bu)連(lian)續性(xing)的(de)存在(zai)，工(gong)件表(biao)面(mian)和近表(biao)面(mian)的(de)磁(ci)力線發生局部(bu)畸變，而產(chan)生漏磁(ci)場，吸附施(shi)加在(zai)工(gong)件表(biao)面(mian)的(de)磁(ci)粉(fen)，形成在(zai)合適光照(zhao)下(xia)目視可見的(de)磁(ci)痕(hen)，從而顯示(shi)出不(bu)連(lian)續性(xing)的(de)位(wei)置、形狀和大小(xiao)。
磁粉檢測的適用性和局(ju)限性有(you)：
1. 磁粉(fen)探傷適用(yong)于檢測鐵(tie)磁性(xing)材(cai)料表面和近(jin)表面尺寸很小、間隙極窄(zhai)目視難以(yi)看出的(de)不連續性(xing)。
2. 磁粉檢(jian)測可(ke)對多(duo)種情況下的(de)零(ling)部(bu)件檢(jian)測，還可(ke)多(duo)種型件進行檢(jian)測。
3. 可發現(xian)裂紋、夾雜、發紋、白點、折疊、冷(leng)隔和疏松(song)等缺陷(xian)。
4. 磁(ci)粉(fen)檢測不(bu)能檢測奧氏(shi)(shi)體(ti)不(bu)銹鋼材料(liao)和(he)(he)用奧氏(shi)(shi)體(ti)不(bu)銹鋼焊(han)(han)條焊(han)(han)接的焊(han)(han)縫，也不(bu)能檢測銅鋁(lv)鎂鈦等非磁(ci)性材料(liao)。對(dui)于表面淺(qian)劃傷(shang)、埋藏較(jiao)深(shen)洞和(he)(he)與工件表面夾角小于20°的分(fen)層和(he)(he)折疊很難發現(xian)。
液(ye)(ye)體(ti)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)檢(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)基本原(yuan)理(li)，零(ling)件(jian)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)被(bei)施涂含(han)有熒光(guang)(guang)(guang)染(ran)料(liao)或(huo)著色染(ran)料(liao)后，在(zai)一(yi)段時(shi)間(jian)的(de)(de)(de)毛細(xi)管作用下(xia)(xia)(xia)，滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)可以滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)進表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)開口缺陷(xian)中；經去除零(ling)件(jian)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)多余(yu)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)后，再(zai)在(zai)零(ling)件(jian)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)施涂顯像劑(ji)，同樣，在(zai)毛細(xi)管的(de)(de)(de)作用下(xia)(xia)(xia)，顯像劑(ji)將(jiang)吸(xi)引缺陷(xian)中保留的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)，滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)回滲(shen)(shen)(shen)到顯像劑(ji)中，在(zai)一(yi)定(ding)的(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)源下(xia)(xia)(xia)(紫外線光(guang)(guang)(guang)或(huo)白(bai)光(guang)(guang)(guang))，缺陷(xian)處的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)痕跡被(bei)現實，(黃綠色熒光(guang)(guang)(guang)或(huo)鮮(xian)艷紅色)，從而(er)探測(ce)(ce)出缺陷(xian)的(de)(de)(de)形(xing)貌及分布狀(zhuang)態。
滲透檢(jian)測(ce)的優(you)點：1. 可檢測各(ge)種材料； 2. 具有較高(gao)的靈敏度；3. 顯示直觀、操作方便、檢測費用(yong)低。
滲透檢測(ce)的缺點：1. 不(bu)適于檢查多孔性疏(shu)松材料制(zhi)成的(de)(de)(de)工件和表(biao)面(mian)粗(cu)糙的(de)(de)(de)工件；2. 滲透檢測(ce)只能(neng)檢出(chu)(chu)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)分布(bu)，難以確定缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)實際深度(du)，因(yin)而很難對缺(que)陷(xian)做出(chu)(chu)定量(liang)評價。檢出(chu)(chu)結果(guo)受(shou)操作者的(de)(de)(de)影響也(ye)較(jiao)大。
最后(hou)一種(zhong)，射(she)線(xian)檢測，是因(yin)為(wei) X射(she)線(xian)穿(chuan)過被(bei)照射(she)物體后(hou)會(hui)有(you)損耗，不(bu)(bu)同厚度(du)不(bu)(bu)同物質對它們的吸收(shou)率不(bu)(bu)同，而底(di)片(pian)放在被(bei)照射(she)物體的另一側，會(hui)因(yin)為(wei)射(she)線(xian)強度(du)不(bu)(bu)同而產生相應(ying)的圖形,評片(pian)人員就可以根據影(ying)像來判斷物體內部的是否有(you)缺陷以及(ji)缺陷的性質。
射(she)線檢(jian)測(ce)的適用(yong)性(xing)(xing)和局限性(xing)(xing)： 1. 對(dui)檢(jian)測(ce)體積型的缺陷(xian)(xian)比(bi)較(jiao)敏感，比(bi)較(jiao)容易對(dui)缺陷(xian)(xian)進行定性(xing)(xing)。 2. 射(she)線底片易于(yu)保留(liu)，有追溯性(xing)(xing)。3. 直觀顯示缺陷(xian)(xian)的形狀和類型。 4. 缺點不能定位缺陷(xian)(xian)的埋(mai)藏(zang)深度，同時檢(jian)測(ce)厚度有限，底片需專門送洗，并(bing)且(qie)對(dui)人身體有一(yi)定害(hai)，成本(ben)較(jiao)高。
總(zong)而言之(zhi)，超聲波(bo)、X射(she)線(xian)探(tan)(tan)傷適(shi)用于(yu)探(tan)(tan)傷內(nei)部缺(que)(que)陷(xian)；其中超聲波(bo)適(shi)用于(yu)5mm以上(shang)，且(qie)形狀規則的部件，X射(she)線(xian)不能定位缺(que)(que)陷(xian)的埋藏(zang)深(shen)度(du)，有輻射(she)。 磁(ci)(ci)粉、滲透探(tan)(tan)傷適(shi)用于(yu)探(tan)(tan)傷部件表面缺(que)(que)陷(xian)；其中磁(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷僅限(xian)于(yu)檢測磁(ci)(ci)性材料，滲透探(tan)(tan)傷僅限(xian)于(yu)檢測表面開口缺(que)(que)陷(xian)。
