無損檢(jian)(jian)(jian)(jian)測就是(shi)利用聲、光、磁(ci)和(he)電等(deng)特(te)性(xing)，在不損害(hai)或不影(ying)響被(bei)檢(jian)(jian)(jian)(jian)對象使用性(xing)能的前(qian)提下，檢(jian)(jian)(jian)(jian)測被(bei)檢(jian)(jian)(jian)(jian)對象中(zhong)是(shi)否存在缺陷或不均勻性(xing)，給出缺陷的大小、位置(zhi)、性(xing)質和(he)數量等(deng)信息，進而判定被(bei)檢(jian)(jian)(jian)(jian)對象所(suo)處技(ji)(ji)術(shu)狀態(如合(he)格與否、剩余(yu)壽命等(deng))的所(suo)有技(ji)(ji)術(shu)手段(duan)的總稱。常用的無損檢(jian)(jian)(jian)(jian)測方法(fa)：超聲檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(UT)、磁(ci)粉檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(MT)、液體滲透檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(PT)及X射線檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(RT)。       


  超(chao)聲波檢測(ce)已經單獨詳(xiang)細的介(jie)紹過(guo)了，下(xia)面就簡單地(di)對剩下(xia)的三個進行介(jie)紹和對比。       


 首先來了解一(yi)下，磁粉(fen)檢測的原(yuan)理。鐵(tie)磁性材料和工件被磁化后(hou)，由于(yu)不(bu)連(lian)(lian)續性的存在，工件表面和近表面的磁力線(xian)發生局部(bu)畸(ji)變，而產生漏磁場，吸附(fu)施加在工件表面的磁粉(fen)，形(xing)(xing)成(cheng)在合適光照(zhao)下目視可見的磁痕，從(cong)而顯(xian)示出不(bu)連(lian)(lian)續性的位置、形(xing)(xing)狀和大小。       


 磁粉檢(jian)測的適用性和局限性有：


 1. 磁粉探傷(shang)適用于檢測(ce)鐵磁性材料表(biao)面(mian)和近表(biao)面(mian)尺寸很小、間隙極窄目視難以看(kan)出的(de)不連續性。       


 2. 磁粉檢(jian)(jian)測可對(dui)多種情況下(xia)的零部件(jian)檢(jian)(jian)測，還(huan)可多種型件(jian)進行檢(jian)(jian)測。       


 3. 可(ke)發現裂紋、夾(jia)雜(za)、發紋、白點、折(zhe)疊、冷隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁粉檢(jian)測(ce)不能(neng)檢(jian)測(ce)奧氏體不銹鋼(gang)材料和用(yong)奧氏體不銹鋼(gang)焊(han)(han)條焊(han)(han)接(jie)的(de)焊(han)(han)縫，也(ye)不能(neng)檢(jian)測(ce)銅(tong)鋁鎂(mei)鈦等(deng)非(fei)磁性(xing)材料。對于(yu)表面淺劃傷、埋藏較(jiao)深洞(dong)和與(yu)工(gong)件(jian)表面夾角小于(yu)20°的(de)分層和折(zhe)疊很難發(fa)現。


  液(ye)(ye)體滲(shen)透檢測(ce)的(de)基本原理(li)，零件(jian)(jian)表面(mian)(mian)被施涂(tu)含有熒光(guang)染料或(huo)著色染料后(hou)，在一(yi)段(duan)時(shi)間(jian)的(de)毛細管作(zuo)用下，滲(shen)透液(ye)(ye)可以滲(shen)透進(jin)表面(mian)(mian)開口(kou)缺(que)陷(xian)中；經(jing)去除(chu)零件(jian)(jian)表面(mian)(mian)多(duo)余(yu)的(de)滲(shen)透液(ye)(ye)后(hou)，再在零件(jian)(jian)表面(mian)(mian)施涂(tu)顯像劑，同樣，在毛細管的(de)作(zuo)用下，顯像劑將吸引缺(que)陷(xian)中保留的(de)滲(shen)透液(ye)(ye)，滲(shen)透液(ye)(ye)回滲(shen)到顯像劑中，在一(yi)定的(de)光(guang)源下(紫外線光(guang)或(huo)白光(guang))，缺(que)陷(xian)處的(de)滲(shen)透液(ye)(ye)痕跡被現(xian)實，(黃綠色熒光(guang)或(huo)鮮艷紅色)，從(cong)而探(tan)測(ce)出缺(que)陷(xian)的(de)形貌(mao)及分(fen)布狀態(tai)。        


 滲透檢測的(de)優(you)點(dian)：1. 可檢測各(ge)種(zhong)材料； 2. 具有較(jiao)高的靈敏度；3. 顯示(shi)直觀、操作方便、檢測費用低。       


 滲透檢(jian)測(ce)的(de)缺點：1. 不適(shi)于檢(jian)查多孔性疏(shu)松材料制成(cheng)的(de)工件和表面粗糙的(de)工件；2. 滲透檢(jian)測只能檢(jian)出(chu)缺陷的(de)表面分(fen)布，難(nan)以確定(ding)缺陷的(de)實際深度，因而很難(nan)對(dui)缺陷做出(chu)定(ding)量評價。檢(jian)出(chu)結果(guo)受操作者的(de)影(ying)響(xiang)也較大。       


 最后一種，射(she)線(xian)檢(jian)測，是因為 X射(she)線(xian)穿過被(bei)照射(she)物體(ti)后會有損耗(hao)，不(bu)同(tong)厚度(du)不(bu)同(tong)物質對它們的(de)吸收率不(bu)同(tong)，而(er)底片(pian)放在被(bei)照射(she)物體(ti)的(de)另(ling)一側，會因為射(she)線(xian)強度(du)不(bu)同(tong)而(er)產生相應的(de)圖形,評片(pian)人員就可以根據影(ying)像來判(pan)斷物體(ti)內(nei)部(bu)的(de)是否有缺(que)陷(xian)以及缺(que)陷(xian)的(de)性(xing)質。 


 射線(xian)檢測的(de)適(shi)用性(xing)和局限性(xing)：   1. 對(dui)檢測體(ti)積型的(de)缺陷比較(jiao)敏感，比較(jiao)容易(yi)對(dui)缺陷進行定(ding)性(xing)。 2. 射線(xian)底(di)片(pian)易(yi)于保留，有追溯性(xing)。3. 直觀顯示缺陷的(de)形(xing)狀和類型。  4. 缺點不能定(ding)位缺陷的(de)埋藏深度，同時檢測厚度有限，底(di)片(pian)需專門(men)送洗，并且對(dui)人身體(ti)有一定(ding)害，成(cheng)本較(jiao)高(gao)。     


  總(zong)而言之(zhi)，超聲(sheng)波、X射線探(tan)(tan)傷適用于(yu)(yu)(yu)探(tan)(tan)傷內部(bu)缺陷(xian)；其中超聲(sheng)波適用于(yu)(yu)(yu)5mm以上，且形狀規則的部(bu)件，X射線不(bu)能定位缺陷(xian)的埋藏深度，有輻射。 磁粉、滲透探(tan)(tan)傷適用于(yu)(yu)(yu)探(tan)(tan)傷部(bu)件表面(mian)缺陷(xian)；其中磁粉探(tan)(tan)傷僅(jin)限(xian)于(yu)(yu)(yu)檢測磁性材(cai)料，滲透探(tan)(tan)傷僅(jin)限(xian)于(yu)(yu)(yu)檢測表面(mian)開口缺陷(xian)。