無(wu)損檢(jian)(jian)(jian)測就(jiu)是(shi)利用(yong)聲、光(guang)、磁(ci)和(he)電等(deng)特(te)性(xing)(xing),在(zai)不損害或不影(ying)響被(bei)檢(jian)(jian)(jian)對(dui)象(xiang)使用(yong)性(xing)(xing)能的(de)(de)(de)前(qian)提下,檢(jian)(jian)(jian)測被(bei)檢(jian)(jian)(jian)對(dui)象(xiang)中是(shi)否存在(zai)缺陷或不均勻性(xing)(xing),給出缺陷的(de)(de)(de)大(da)小(xiao)、位置、性(xing)(xing)質和(he)數量等(deng)信息(xi),進而(er)判定被(bei)檢(jian)(jian)(jian)對(dui)象(xiang)所處技術狀態(如合格(ge)與(yu)否、剩余壽命等(deng))的(de)(de)(de)所有(you)技術手段的(de)(de)(de)總(zong)稱。常(chang)用(yong)的(de)(de)(de)無(wu)損檢(jian)(jian)(jian)測方法:超聲檢(jian)(jian)(jian)測(UT)、磁(ci)粉(fen)檢(jian)(jian)(jian)測(MT)、液體(ti)滲透(tou)檢(jian)(jian)(jian)測(PT)及X射線檢(jian)(jian)(jian)測(RT)。
超聲波檢(jian)測已經單獨詳細的介(jie)紹(shao)過了,下面就簡單地對剩(sheng)下的三個進行(xing)介(jie)紹(shao)和對比。
首先來了解一下(xia),磁(ci)(ci)(ci)粉檢(jian)測的原理。鐵磁(ci)(ci)(ci)性材料和(he)工(gong)件被磁(ci)(ci)(ci)化(hua)后,由于不連(lian)續(xu)性的存在(zai),工(gong)件表面(mian)和(he)近(jin)表面(mian)的磁(ci)(ci)(ci)力線發生局(ju)部畸變(bian),而(er)產生漏磁(ci)(ci)(ci)場,吸附施加在(zai)工(gong)件表面(mian)的磁(ci)(ci)(ci)粉,形成在(zai)合適光照下(xia)目視可見的磁(ci)(ci)(ci)痕(hen),從而(er)顯示出不連(lian)續(xu)性的位置、形狀和(he)大小(xiao)。
磁粉檢測的(de)適用性和局限(xian)性有:
1. 磁粉探傷(shang)適用(yong)于檢測鐵磁性(xing)材料(liao)表面(mian)和近表面(mian)尺寸(cun)很小、間隙極窄目(mu)視難以看出的不連續性(xing)。
2. 磁粉檢(jian)測可(ke)對多種情況(kuang)下(xia)的零(ling)部件檢(jian)測,還可(ke)多種型件進行(xing)檢(jian)測。
3. 可(ke)發現裂紋、夾(jia)雜、發紋、白點、折疊(die)、冷隔和疏松(song)等缺陷。
4. 磁(ci)粉檢測不(bu)能檢測奧氏體(ti)不(bu)銹(xiu)鋼材料和用奧氏體(ti)不(bu)銹(xiu)鋼焊條焊接的焊縫,也不(bu)能檢測銅鋁鎂鈦等非磁(ci)性材料。對于表面淺劃傷(shang)、埋(mai)藏較深洞和與(yu)工件表面夾角小于20°的分(fen)層和折(zhe)疊很難發(fa)現。
液(ye)(ye)體(ti)滲(shen)(shen)透檢測(ce)的(de)基本原理,零(ling)件表面被施(shi)涂(tu)含有熒光(guang)染(ran)料(liao)或(huo)著色(se)染(ran)料(liao)后,在(zai)一(yi)段(duan)時間的(de)毛(mao)細管作(zuo)用下(xia),滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)可(ke)以滲(shen)(shen)透進表面開口缺(que)(que)陷(xian)中;經去除零(ling)件表面多余的(de)滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)后,再(zai)在(zai)零(ling)件表面施(shi)涂(tu)顯像(xiang)(xiang)劑(ji)(ji),同樣,在(zai)毛(mao)細管的(de)作(zuo)用下(xia),顯像(xiang)(xiang)劑(ji)(ji)將(jiang)吸(xi)引(yin)缺(que)(que)陷(xian)中保留的(de)滲(shen)(shen)透液(ye)(ye),滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)回滲(shen)(shen)到顯像(xiang)(xiang)劑(ji)(ji)中,在(zai)一(yi)定(ding)的(de)光(guang)源下(xia)(紫外(wai)線光(guang)或(huo)白光(guang)),缺(que)(que)陷(xian)處的(de)滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)痕跡(ji)被現實,(黃綠色(se)熒光(guang)或(huo)鮮艷紅(hong)色(se)),從而(er)探測(ce)出缺(que)(que)陷(xian)的(de)形貌及分布狀態(tai)。
滲透檢測(ce)的優點:1. 可檢測各種材料; 2. 具有較高的靈敏度;3. 顯示直觀、操作方便、檢測費用低。
滲透檢測的缺點:1. 不(bu)適于檢查多孔性疏松材料制成的(de)(de)工(gong)件和表(biao)面粗糙的(de)(de)工(gong)件;2. 滲透檢測只能檢出缺陷的(de)(de)表(biao)面分布,難以確定缺陷的(de)(de)實(shi)際深度,因而(er)很(hen)難對(dui)缺陷做出定量(liang)評價。檢出結果受操作者(zhe)的(de)(de)影響(xiang)也較(jiao)大。
最后一種,射(she)線(xian)(xian)檢測,是因為 X射(she)線(xian)(xian)穿過被(bei)照射(she)物(wu)體后會有(you)損耗,不同(tong)(tong)厚度不同(tong)(tong)物(wu)質(zhi)對它們的(de)吸(xi)收率(lv)不同(tong)(tong),而底片(pian)(pian)放在被(bei)照射(she)物(wu)體的(de)另一側,會因為射(she)線(xian)(xian)強度不同(tong)(tong)而產(chan)生相應的(de)圖形,評片(pian)(pian)人員就可以(yi)(yi)根據影像來(lai)判(pan)斷物(wu)體內部的(de)是否有(you)缺陷以(yi)(yi)及缺陷的(de)性質(zhi)。
射(she)線檢(jian)測的(de)適(shi)用性和局限(xian)性: 1. 對(dui)檢(jian)測體積(ji)型(xing)的(de)缺(que)陷比(bi)較(jiao)(jiao)敏感(gan),比(bi)較(jiao)(jiao)容易(yi)對(dui)缺(que)陷進(jin)行定性。 2. 射(she)線底(di)片(pian)易(yi)于保(bao)留,有追溯性。3. 直觀顯示缺(que)陷的(de)形(xing)狀和類(lei)型(xing)。 4. 缺(que)點不能定位缺(que)陷的(de)埋藏深度,同時檢(jian)測厚度有限(xian),底(di)片(pian)需(xu)專門送洗,并且對(dui)人身(shen)體有一(yi)定害,成本較(jiao)(jiao)高(gao)。
總而(er)言之,超聲(sheng)波、X射線探傷(shang)(shang)適(shi)用于(yu)探傷(shang)(shang)內部(bu)缺陷;其中(zhong)超聲(sheng)波適(shi)用于(yu)5mm以上,且形狀規(gui)則的(de)部(bu)件(jian),X射線不(bu)能(neng)定(ding)位缺陷的(de)埋藏(zang)深度,有輻(fu)射。 磁粉、滲透探傷(shang)(shang)適(shi)用于(yu)探傷(shang)(shang)部(bu)件(jian)表面缺陷;其中(zhong)磁粉探傷(shang)(shang)僅(jin)限(xian)于(yu)檢測(ce)磁性(xing)材料,滲透探傷(shang)(shang)僅(jin)限(xian)于(yu)檢測(ce)表面開口缺陷。

