什么是(shi)(shi)無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)測？ 無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)測是(shi)(shi)指在(zai)不(bu)損(sun)害或(huo)不(bu)影響(xiang)被檢(jian)(jian)測對(dui)(dui)象使用性能、不(bu)傷害被檢(jian)(jian)測對(dui)(dui)象內(nei)(nei)部(bu)組織的(de)(de)(de)前(qian)提下，利用材料(liao)內(nei)(nei)部(bu)結構存在(zai)異常或(huo)缺陷而(er)引起的(de)(de)(de)熱、聲、光(guang)、電、磁等反應變化(hua)(hua)，以物理或(huo)化(hua)(hua)學方法為手段，借助(zhu)現代(dai)化(hua)(hua)的(de)(de)(de)技(ji)術和設備(bei)器材，對(dui)(dui)試件內(nei)(nei)部(bu)及表面的(de)(de)(de)結構、性質(zhi)、狀(zhuang)態及缺陷的(de)(de)(de)類型、性質(zhi)、數(shu)量、形(xing)狀(zhuang)、位置、尺寸、分布及其變化(hua)(hua)進行(xing)檢(jian)(jian)查和測試的(de)(de)(de)方法。 無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)測的(de)(de)(de)優點 無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)測具有(you)非(fei)(fei)破(po)壞性、互(hu)容性、動態性等優點而(er)得(de)(de)到公眾的(de)(de)(de)廣泛認(ren)可(ke)，也在(zai)一(yi)定程(cheng)度上反映了一(yi)個國家的(de)(de)(de)工業發(fa)展(zhan)水(shui)平，是(shi)(shi)工業發(fa)展(zhan)必不(bu)可(ke)少(shao)的(de)(de)(de)有(you)效(xiao)工具。 非(fei)(fei)破(po)壞性 非(fei)(fei)破(po)壞性是(shi)(shi)指在(zai)獲得(de)(de)檢(jian)(jian)測結果的(de)(de)(de)同(tong)時，除(chu)了剔除(chu)不(bu)合格品外(wai)，不(bu)損(sun)失零件。因此，檢(jian)(jian)測規模不(bu)受零件多少(shao)的(de)(de)(de)限制，既可(ke)抽樣檢(jian)(jian)驗，又可(ke)在(zai)必要時采用普檢(jian)(jian)。

  互容(rong)性即指(zhi)檢(jian)(jian)驗(yan)方(fang)法(fa)的(de)(de)互容(rong)性，即同(tong)(tong)一零(ling)件可(ke)(ke)(ke)同(tong)(tong)時或依次采(cai)用(yong)不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)檢(jian)(jian)驗(yan)方(fang)法(fa)，而且(qie)又可(ke)(ke)(ke)重復(fu)地(di)進(jin)行同(tong)(tong)一檢(jian)(jian)驗(yan)。當然，這也(ye)是(shi)非破壞性帶來的(de)(de)好處(chu)。 動態性 動態性是(shi)指(zhi)無損探(tan)傷方(fang)法(fa)可(ke)(ke)(ke)對使(shi)用(yong)中(zhong)的(de)(de)零(ling)件進(jin)行檢(jian)(jian)驗(yan)，而且(qie)能(neng)夠(gou)適時考(kao)察(cha)產品(pin)運行期的(de)(de)累(lei)計影響(xiang)，可(ke)(ke)(ke)查明結構(gou)的(de)(de)失效機理(li)。 無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)法(fa) 無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)法(fa)很多(duo)，據(ju)美國(guo)(guo)國(guo)(guo)家宇航局調研分析可(ke)(ke)(ke)分為六大(da)類(lei)約70余種。但在實際應用(yong)中(zhong)，比較常見(jian)的(de)(de)有(you)目視檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(VT)、射線照相(xiang)法(fa)(RT)、超(chao)聲(sheng)波(bo)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(UT)、磁粉檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(MT)、滲透檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(PT)、渦流檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ECT)、聲(sheng)發射(AE)、超(chao)聲(sheng)波(bo)衍射時差(cha)法(fa)(TOFD)等。