什么(me)是無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)測(ce)？ 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)測(ce)是指在(zai)(zai)不損(sun)(sun)害(hai)或不影響(xiang)被(bei)檢(jian)(jian)測(ce)對象(xiang)使用(yong)性(xing)(xing)能(neng)、不傷害(hai)被(bei)檢(jian)(jian)測(ce)對象(xiang)內部組織的(de)(de)(de)(de)前提下，利用(yong)材料內部結構存在(zai)(zai)異常或缺(que)陷而(er)引(yin)起的(de)(de)(de)(de)熱、聲、光、電、磁等(deng)反應變(bian)化(hua)(hua)，以(yi)物理或化(hua)(hua)學方(fang)法為手段(duan)，借助(zhu)現代化(hua)(hua)的(de)(de)(de)(de)技術和設備器(qi)材，對試件(jian)內部及(ji)表面的(de)(de)(de)(de)結構、性(xing)(xing)質、狀(zhuang)態及(ji)缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)類型、性(xing)(xing)質、數量、形(xing)狀(zhuang)、位置、尺寸、分(fen)布及(ji)其變(bian)化(hua)(hua)進(jin)行檢(jian)(jian)查和測(ce)試的(de)(de)(de)(de)方(fang)法。 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)(de)(de)優點(dian) 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)測(ce)具有(you)非破壞(huai)(huai)性(xing)(xing)、互容性(xing)(xing)、動態性(xing)(xing)等(deng)優點(dian)而(er)得到(dao)公眾的(de)(de)(de)(de)廣泛認可，也在(zai)(zai)一定程度上反映了(le)一個國家的(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)業發展(zhan)水平，是工(gong)(gong)業發展(zhan)必(bi)(bi)不可少(shao)的(de)(de)(de)(de)有(you)效工(gong)(gong)具。 非破壞(huai)(huai)性(xing)(xing) 非破壞(huai)(huai)性(xing)(xing)是指在(zai)(zai)獲(huo)得檢(jian)(jian)測(ce)結果(guo)的(de)(de)(de)(de)同時，除了(le)剔(ti)除不合格品(pin)外，不損(sun)(sun)失零(ling)件(jian)。因此，檢(jian)(jian)測(ce)規模不受零(ling)件(jian)多少(shao)的(de)(de)(de)(de)限制，既可抽樣檢(jian)(jian)驗(yan)，又可在(zai)(zai)必(bi)(bi)要(yao)時采用(yong)普檢(jian)(jian)。

  互容(rong)性(xing)(xing)即指檢(jian)驗方法(fa)(fa)的(de)(de)互容(rong)性(xing)(xing)，即同(tong)(tong)一零件可同(tong)(tong)時(shi)或依(yi)次采(cai)用(yong)不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)檢(jian)驗方法(fa)(fa)，而且(qie)又可重(zhong)復地進行同(tong)(tong)一檢(jian)驗。當然(ran)，這也是(shi)非破壞(huai)性(xing)(xing)帶來的(de)(de)好處。 動態(tai)性(xing)(xing) 動態(tai)性(xing)(xing)是(shi)指無(wu)損(sun)探傷方法(fa)(fa)可對使用(yong)中(zhong)的(de)(de)零件進行檢(jian)驗，而且(qie)能夠適(shi)時(shi)考察產品運行期的(de)(de)累(lei)計影響，可查明結構的(de)(de)失效機理。 無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)的(de)(de)方法(fa)(fa) 無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)的(de)(de)方法(fa)(fa)很多，據美國國家宇(yu)航局調研(yan)分(fen)析可分(fen)為(wei)六大類約70余種。但在實際應(ying)用(yong)中(zhong)，比較常見的(de)(de)有目視檢(jian)測(ce)(VT)、射(she)線照相法(fa)(fa)(RT)、超聲波(bo)檢(jian)測(ce)(UT)、磁粉檢(jian)測(ce)(MT)、滲(shen)透檢(jian)測(ce)(PT)、渦流檢(jian)測(ce)(ECT)、聲發射(she)(AE)、超聲波(bo)衍射(she)時(shi)差法(fa)(fa)(TOFD)等。