自從Devanathan 和 Stachurski 首次采用電化學滲透的方法研究氫擴散以來，由于其設備簡單，且具有高靈敏度及靈活性而被認可和在研究中使用，這種技術簡稱為D-S雙電解池滲氫技術，現已成為研究金屬常溫氫腐蝕問題的常規手段。

 李謀成在氫對材料腐蝕電化學性能的研究中指出，氫的進人會導致雙相不銹(xiu)鋼(gang)腐蝕反應阻力減小，氫與各種缺陷綜合在一起，使這些缺陷成為腐蝕活性點，降低反應的活化能力，降低材料的耐蝕性能。喬利杰等人發現，氫在雙相不銹鋼中通過晶格按Fick定律向基體擴散，同時吸附在位錯露頭處由位錯攜帶進入金屬基體。而位錯運動帶入的氫運動速度要比氫自身擴散更快。田野等人通過研究指出高硅含量可使不銹鋼回火后碳化物細化且彌散分布，而碳化物與基體的界面是強的氫陷阱，因此，可以使氫分布均勻，抑制氫向裂紋尖端擴展，降低不銹鋼充氫后氫脆敏感性，抑制氫致滯后塑性變形。張海兵等人發現充氫后，高強度不銹鋼中留存的可擴散氫含量遠大于低強度不銹鋼；高強度不銹鋼斷裂脆性明顯增加，氫脆系數明顯高于低強度剛。A.H.S.Bueno 等人在對不銹鋼氫脆研究中指出，一部分氫進入機體后會引起氫鼓泡，一部分隨著位錯的移動而進入金屬體內，破壞金屬間原子的結合能，與各種缺陷結合成為腐蝕活性點。何健宏等人研究了鐵素體－奧氏體雙相不銹鋼的氫致開裂過程，發現氫致開裂力強度因子門檻值隨奧氏體含量增加而增加，隨著充氫電流密度增加而下降，奧氏體相能夠阻礙氫致裂紋的擴展。駱鴻、董超芳等人研究了氫在2205雙相不銹鋼的擴散系數、可擴散氫濃度和氫陷阱密度。結果表明，與純鐵素體相比，2205雙相不銹鋼有效氫擴散系數更小，氫陷阱密度高達1027,氫穿透時間長達1500秒。曾小利等人運用電化學滲透技術對304不銹鋼中氫擴散進行研究發現，隨著不銹鋼表面氫含量增加，氫原子間存在交互作用，會阻礙氫擴展，雖然進人試樣的氫含量增加，但氫的表觀擴散系數變小。

 R.Ash提出了氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)在(zai)(zai)(zai)多(duo)層金(jin)(jin)屬(shu)薄片(pian)（ABCD···)中的(de)(de)擴(kuo)散時間(jian)求(qiu)解方法，其中多(duo)層金(jin)(jin)屬(shu)薄片(pian)是(shi)由(you)不(bu)同種金(jin)(jin)屬(shu)組(zu)成。S.K.Yen等人(ren)(ren)在(zai)(zai)(zai)430不(bu)銹鋼(gang)基體上(shang)電鍍(du)氧化鋯涂層后，利用D-S雙(shuang)電解池(chi)滲氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)技術，通(tong)過(guo)假設和(he)驗(yan)證在(zai)(zai)(zai)不(bu)銹鋼(gang)及涂層中的(de)(de)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)濃度(du)分(fen)布(bu)，結(jie)合(he)擴(kuo)散定(ding)律(lv)，建立了氧化膜／鋼(gang)基氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)擴(kuo)散模型，得(de)到(dao)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)在(zai)(zai)(zai)兩種材料中的(de)(de)擴(kuo)散系(xi)數和(he)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)濃度(du)分(fen)布(bu)。I.B.Huang等人(ren)(ren)通(tong)過(guo)研究氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)在(zai)(zai)(zai)430不(bu)銹鋼(gang)中的(de)(de)擴(kuo)散行為，建立了晶(jing)(jing)內／晶(jing)(jing)界模型，得(de)到(dao)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)在(zai)(zai)(zai)晶(jing)(jing)內與晶(jing)(jing)界中的(de)(de)擴(kuo)散通(tong)量(liang)和(he)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)濃度(du)分(fen)布(bu)，并結(jie)合(he)擴(kuo)散定(ding)律(lv)推導出具有(you)（ABABAB···)多(duo)層結(jie)構材料的(de)(de)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)擴(kuo)散系(xi)數及氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)濃度(du)分(fen)布(bu)的(de)(de)求(qiu)解方法。V.Olden等人(ren)(ren)在(zai)(zai)(zai)對雙(shuang)相(xiang)不(bu)銹鋼(gang)和(he)馬氏體不(bu)銹鋼(gang)的(de)(de)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)擴(kuo)散和(he)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)致開裂模型研究中，結(jie)合(he)擴(kuo)散定(ding)律(lv)給出了在(zai)(zai)(zai)薄金(jin)(jin)屬(shu)板和(he)厚金(jin)(jin)屬(shu)板中的(de)(de)氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)濃度(du)計(ji)算公式，以及存(cun)在(zai)(zai)(zai)可(ke)逆氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)陷阱時氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)擴(kuo)散系(xi)數的(de)(de)計(ji)算方法，氫(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)(qing)在(zai)(zai)(zai)雙(shuang)相(xiang)不(bu)銹鋼(gang)中有(you)可(ke)逆陷阱存(cun)在(zai)(zai)(zai)時的(de)(de)擴(kuo)散系(xi)數。