工業無損探(tan)傷的方(fang)法(fa)(fa)很多，目(mu)前國內外最常用(yong)的探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)有五種(zhong)，即(ji)人們常稱的五大常規探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)。本文將首先介紹五大常規探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)及其特(te)點(dian)，并結合汽車維(wei)修中(zhong)的特(te)定條件(jian)和需求，選出更(geng)適(shi)合于汽車維(wei)修的探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)。
五大常(chang)規方法(fa)(fa)是指(zhi)射線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)RT、超聲波探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)UT、磁粉探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)MT、渦流探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)ET和滲透探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)PT。
1. 射(she)線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)性和直線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性來(lai)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。這些射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不會(hui)像可(ke)(ke)見(jian)光那樣(yang)憑肉(rou)眼(yan)就(jiu)能直接(jie)(jie)察知，但它可(ke)(ke)使照相(xiang)底(di)(di)片(pian)感光，也(ye)可(ke)(ke)用(yong)(yong)特(te)殊(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)器(qi)(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)。常用(yong)(yong)于(yu)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有x光和同位素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，分別(bie)稱(cheng)為x光探(tan)傷(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)。當這些射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)（照射(she)(she)(she)(she)(she)）物質時，該(gai)物質的(de)(de)(de)(de)(de)密(mi)度(du)越(yue)大(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)減弱(ruo)得(de)(de)(de)越(yue)多，即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能穿(chuan)透(tou)過(guo)(guo)該(gai)物質的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)越(yue)小。此時，若(ruo)用(yong)(yong)照相(xiang)底(di)(di)片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)，則(ze)底(di)(di)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)感光量(liang)就(jiu)小；若(ruo)用(yong)(yong)儀器(qi)(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)，獲得(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)信號(hao)就(jiu)弱(ruo)。因此，用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零部件時，若(ruo)其內(nei)部有氣孔、夾渣等(deng)缺(que)陷，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)有缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑比沒有缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑所透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物質密(mi)度(du)要小得(de)(de)(de)多，其強(qiang)度(du)就(jiu)減弱(ruo)得(de)(de)(de)少(shao)些，即(ji)透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)大(da)些，若(ruo)用(yong)(yong)底(di)(di)片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)，則(ze)感光量(liang)就(jiu)大(da)些，就(jiu)可(ke)(ke)以(yi)從底(di)(di)片(pian)上反映出缺(que)陷垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平面投影；若(ruo)用(yong)(yong)其它接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)器(qi)(qi)也(ye)同樣(yang)可(ke)(ke)以(yi)用(yong)(yong)儀表來(lai)反映缺(que)陷垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平面投影和射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)(guo)量(liang)。由此可(ke)(ke)見(jian)，一般情況(kuang)下，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是(shi)不易發(fa)現裂紋(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)，或(huo)者(zhe)說，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對裂紋(wen)是(shi)不敏感的(de)(de)(de)(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對氣孔、夾渣、未(wei)焊(han)透(tou)等(deng)體積(ji)型缺(que)陷最敏感。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)適(shi)(shi)宜(yi)用(yong)(yong)于(yu)體積(ji)型缺(que)陷探(tan)傷(shang)(shang)，而不適(shi)(shi)宜(yi)面積(ji)型缺(que)陷探(tan)傷(shang)(shang)。
2. 超聲波探傷方法
人們的(de)(de)(de)(de)(de)耳朵(duo)能直接接收(shou)到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)(lv)范圍(wei)通常(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率(lv)(lv)低于(yu)(yu)20 Hz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，高于(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。工業(ye)上(shang)常(chang)用(yong)(yong)數兆赫茲超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)傷。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)頻(pin)率(lv)(lv)高，則傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)直線性強，又易(yi)于(yu)(yu)在固體中傳播(bo)，并(bing)且遇到(dao)兩種不同介(jie)質(zhi)形(xing)(xing)成的(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)時易(yi)于(yu)(yu)反射，這樣就(jiu)可以(yi)用(yong)(yong)它(ta)來(lai)探(tan)(tan)傷。通常(chang)用(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)(tan)頭(tou)與待探(tan)(tan)工件(jian)表(biao)(biao)面(mian)(mian)良(liang)好(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)接觸，探(tan)(tan)頭(tou)則可有(you)效地向工件(jian)發射超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，并(bing)能接收(shou)（缺(que)陷(xian)）界面(mian)(mian)反射來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，同時轉(zhuan)換(huan)成電信號，再(zai)傳輸給(gei)儀器進行(xing)處理。根據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在介(jie)質(zhi)中傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)速度（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)速）和傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)時間，就(jiu)可知(zhi)道缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)位置。當缺(que)陷(xian)越大(da)，反射面(mian)(mian)則越大(da)，其(qi)反射的(de)(de)(de)(de)(de)能量(liang)也就(jiu)越大(da)，故可根據(ju)反射能量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)來(lai)查知(zhi)各缺(que)陷(xian)（當量(liang)）的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)。常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷波(bo)(bo)形(xing)(xing)有(you)縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表(biao)(biao)面(mian)(mian)波(bo)(bo)等，前(qian)二者適用(yong)(yong)于(yu)(yu)探(tan)(tan)測內部缺(que)陷(xian)，后(hou)者適宜于(yu)(yu)探(tan)(tan)測表(biao)(biao)面(mian)(mian)缺(que)陷(xian)，但(dan)對表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)條件(jian)要求高。
3. 磁(ci)粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)是建立在(zai)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)(shang)的(de)(de)一種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)線穿(chuan)過鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其(qi)(qi)(qi)制(zhi)(zhi)品時，在(zai)其(qi)(qi)(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不連續處將產(chan)生漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時撒上(shang)(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)或澆上(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液(ye)，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)，產(chan)生用(yong)肉眼能(neng)直接(jie)觀察(cha)的(de)(de)明(ming)顯(xian)(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)(yin)此，可借(jie)助(zhu)于(yu)(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其(qi)(qi)(qi)制(zhi)(zhi)品的(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)法可探(tan)(tan)測(ce)露出(chu)表(biao)(biao)面(mian)，用(yong)肉眼或借(jie)助(zhu)于(yu)(yu)放(fang)大(da)鏡也(ye)不能(neng)直接(jie)觀察(cha)到的(de)(de)微小缺(que)(que)陷(xian)(xian)，也(ye)可探(tan)(tan)測(ce)未(wei)露出(chu)表(biao)(biao)面(mian)，而是埋藏在(zai)表(biao)(biao)面(mian)下幾毫米的(de)(de)近(jin)表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)。用(yong)這種(zhong)方(fang)法雖然也(ye)能(neng)探(tan)(tan)查氣孔、夾(jia)雜、未(wei)焊(han)透等體積(ji)(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，但對面(mian)積(ji)(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)更(geng)靈敏，更(geng)適于(yu)(yu)檢查因(yin)(yin)淬火、軋(ya)制(zhi)(zhi)、鍛造、鑄(zhu)造、焊(han)接(jie)、電鍍(du)、磨削、疲勞等引起的(de)(de)裂紋。 磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)中對缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)方(fang)法有多種(zhong)，有用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，也(ye)有不用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)，因(yin)(yin)它顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)直觀、操作簡單(dan)、人們(men)樂于(yu)(yu)使用(yong)，故它是最常(chang)用(yong)的(de)(de)方(fang)法之一。不用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，習慣(guan)上(shang)(shang)稱(cheng)為(wei)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)，它常(chang)借(jie)助(zhu)于(yu)(yu)感應(ying)線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元(yuan)件(jian)等來反映缺(que)(que)陷(xian)(xian)，它比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)更(geng)衛生，但不如前(qian)者直觀。由于(yu)(yu)目(mu)前(qian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)來顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，因(yin)(yin)此，人們(men)有時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)直接(jie)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)，其(qi)(qi)(qi)設備(bei)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)設備(bei)。
4. 渦流(liu)探(tan)傷方(fang)法
渦(wo)(wo)(wo)流(liu)探傷(shang)是(shi)由交流(liu)電(dian)流(liu)產(chan)生的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)交變磁場作用于待(dai)探傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)導電(dian)材料，感應出電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)。如(ru)果材料中(zhong)有(you)缺陷(xian)，它(ta)將(jiang)干(gan)擾所產(chan)生的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)，即形(xing)成干(gan)擾信(xin)號(hao)(hao)(hao)。用渦(wo)(wo)(wo)流(liu)探傷(shang)儀檢測出其(qi)干(gan)擾信(xin)號(hao)(hao)(hao)，就可(ke)知道缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)狀況(kuang)。影響渦(wo)(wo)(wo)流(liu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)因(yin)(yin)素(su)很(hen)多(duo)，即是(shi)說渦(wo)(wo)(wo)流(liu)中(zhong)載有(you)豐富(fu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)，這些信(xin)號(hao)(hao)(hao)與(yu)材料的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)很(hen)多(duo)因(yin)(yin)素(su)有(you)關，如(ru)何(he)將(jiang)其(qi)中(zhong)有(you)用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)從諸多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)中(zhong)一(yi)(yi)(yi)一(yi)(yi)(yi)分離出來(lai)，是(shi)目(mu)前渦(wo)(wo)(wo)流(liu)研究工作者的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)難題(ti)，多(duo)年來(lai)已經取(qu)得了(le)一(yi)(yi)(yi)些進展(zhan)，在一(yi)(yi)(yi)定(ding)條件下可(ke)解決一(yi)(yi)(yi)些問題(ti)，但(dan)還遠不能滿足現場的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)要求(qiu)，有(you)待(dai)于大力發(fa)展(zhan)。
渦流探傷(shang)的顯著特(te)點是對導電材(cai)料就能起作(zuo)用，而不(bu)一(yi)定是鐵磁材(cai)料，但對鐵磁材(cai)料的效(xiao)果較差。其次，待探工件表面的光(guang)潔(jie)度、平整度、邊介等(deng)對渦流探傷(shang)都有(you)較大影響，因此常(chang)將渦流探傷(shang)用于形狀(zhuang)較規(gui)則、表面較光(guang)潔(jie)的銅管等(deng)非鐵磁性工件探傷(shang)。
5. 滲透探傷方(fang)法
滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利用(yong)(yong)毛細(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)來(lai)進行探(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)方法。對于(yu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)光滑而(er)(er)清(qing)潔的(de)(de)(de)零(ling)部件(jian)，用(yong)(yong)一種帶(dai)色(se)(se)（常(chang)為紅色(se)(se)）或(huo)帶(dai)有熒光的(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性很強的(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，涂覆于(yu)待探(tan)零(ling)部件(jian)的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)(mian)(mian)。若表(biao)面(mian)(mian)(mian)有肉眼不(bu)能直(zhi)接察(cha)知(zhi)的(de)(de)(de)微裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)，由(you)于(yu)該液(ye)(ye)(ye)體的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性很強，它將(jiang)沿(yan)著裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到(dao)(dao)其根部。然后將(jiang)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)(shang)對比(bi)度(du)較大的(de)(de)(de)顯示液(ye)(ye)(ye)（常(chang)為白(bai)色(se)(se)）。放置片(pian)刻后，由(you)于(yu)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)很窄，毛細(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)作用(yong)(yong)顯著，原滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到(dao)(dao)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)內的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)將(jiang)上(shang)(shang)升(sheng)到(dao)(dao)表(biao)面(mian)(mian)(mian)并擴散(san)，在白(bai)色(se)(se)的(de)(de)(de)襯底上(shang)(shang)顯出較粗的(de)(de)(de)紅線，從而(er)(er)顯示出裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)露(lu)于(yu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)形狀，因此(ci)，常(chang)稱(cheng)為著色(se)(se)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)。若滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)是帶(dai)熒光的(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，由(you)毛細(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)上(shang)(shang)升(sheng)到(dao)(dao)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，則會(hui)在紫外燈照射下發出熒光，從而(er)(er)更能顯示出裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)露(lu)于(yu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)形狀，故常(chang)常(chang)又將(jiang)此(ci)時的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)直(zhi)接稱(cheng)為熒光探(tan)傷(shang)(shang)(shang)。此(ci)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)方法也可用(yong)(yong)于(yu)金屬和非金屬表(biao)面(mian)(mian)(mian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)。其使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)液(ye)(ye)(ye)劑有較大氣味，常(chang)有一定毒性。
除以上五大常規方(fang)法外(wai)，近(jin)年來(lai)又有了紅外(wai)、聲發射等一些新的探傷方(fang)法。
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