自動化不銹鋼管(guan)漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣(zhen)列檢測(ce)探(tan)頭是磁(ci)(ci)場傳(chuan)感器(qi)的(de)(de)載體和(he)組合(he)，是漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)信號(hao)的(de)(de)收集器(qi)。隨著漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)應用(yong)的(de)(de)不斷深(shen)入和(he)檢測(ce)要求(qiu)的(de)(de)逐(zhu)步提高，除了磁(ci)(ci)化(hua)問(wen)題(ti)，另一個核心就是漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)探(tan)頭的(de)(de)設計。若探(tan)頭性能(neng)不好或者不合(he)適，則(ze)會出現漏(lou)判(pan)(pan)或者誤判(pan)(pan)，嚴(yan)重影響漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)的(de)(de)可靠(kao)性。
另(ling)一(yi)方面(mian)，沒(mei)有(you)(you)一(yi)種探(tan)頭(tou)是萬能的。由(you)于自(zi)然缺陷的形態千變萬化，檢(jian)測(ce)(ce)(ce)探(tan)頭(tou)必然存在局限性，漏(lou)判(pan)或誤判(pan)的情況在檢(jian)測(ce)(ce)(ce)實踐中時(shi)有(you)(you)發(fa)生。下面(mian)對檢(jian)測(ce)(ce)(ce)探(tan)頭(tou)的內部結構和檢(jian)測(ce)(ce)(ce)特(te)性進行分(fen)析。
一(yi)、漏磁檢(jian)測探頭的結構(gou)形式
目前，最(zui)具(ju)代表性的不銹鋼管漏磁檢測傳感(gan)(gan)器有(you)兩種(zhong)：霍(huo)爾元件(jian)和感(gan)(gan)應線(xian)圈，尤其是集(ji)成霍(huo)爾元件(jian)和光(guang)刻平面線(xian)圈。為了(le)獲得(de)較高的磁場(chang)測量空間分辨力和相(xiang)對寬廣的掃(sao)查范圍，檢測探頭芯結(jie)構有(you)多種(zhong)形(xing)式。
1. 點(dian)(dian)(dian)檢(jian)測(ce)(ce)形式(shi) 在(zai)檢(jian)測(ce)(ce)探(tan)頭中(zhong)，對某一點(dian)(dian)(dian)上(shang)或微小(xiao)區域的(de)(de)漏磁場測(ce)(ce)量(liang)，并且每個(ge)測(ce)(ce)點(dian)(dian)(dian)對應于(yu)一個(ge)獨立的(de)(de)信號通道，如圖3-6a所(suo)示，以下簡稱(cheng)為點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭。很(hen)明顯，點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭中(zhong)每個(ge)點(dian)(dian)(dian)能夠掃查的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)范圍很(hen)小(xiao)，但空(kong)間分辨力高，如單個(ge)霍爾元件的(de)(de)敏感面積(ji)只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)(ce)線圈也可做到(dao)φ1mm內(nei)。
2. 線(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)形(xing)式 在檢(jian)測(ce)(ce)探頭(tou)中，對一條(tiao)線(xian)(xian)上(shang)的(de)(de)漏磁場進行綜合測(ce)(ce)量(liang)，如(ru)圖3-6b所示(shi)，以下簡稱為線(xian)(xian)檢(jian)探頭(tou)。例如(ru)，用(yong)感(gan)應(ying)線(xian)(xian)圈(quan)檢(jian)測(ce)(ce)時(shi)，將(jiang)線(xian)(xian)圈(quan)做成條(tiao)狀，則(ze)它(ta)感(gan)應(ying)的(de)(de)是線(xian)(xian)圈(quan)掃查(cha)路徑對應(ying)空間范圍內的(de)(de)漏磁通(tong)的(de)(de)變化。用(yong)霍爾元件檢(jian)測(ce)(ce)時(shi)，采用(yong)線(xian)(xian)陣排列，將(jiang)多個(ge)元件檢(jian)測(ce)(ce)信號(hao)(hao)用(yong)加法(fa)器(qi)疊加后(hou)輸(shu)出單個(ge)通(tong)道信號(hao)(hao)，則(ze)該信號(hao)(hao)反映的(de)(de)是霍爾元件線(xian)(xian)陣長(chang)度(du)內的(de)(de)磁感(gan)應(ying)強度(du)的(de)(de)平(ping)均(jun)值(zhi)。
在漏磁檢測中，上(shang)述兩種形式(shi)(shi)是最基本的(de)(de)形式(shi)(shi)，由此可以(yi)組合成(cheng)多種形式(shi)(shi)的(de)(de)探頭(tou)，如圖3-6c所(suo)(suo)示的(de)(de)平(ping)面(mian)內的(de)(de)面(mian)陣列(lie)探頭(tou)，以(yi)及圖3-6d所(suo)(suo)示的(de)(de)多個平(ping)面(mian)上(shang)的(de)(de)立(li)體陣列(lie)探頭(tou)。
二、漏(lou)磁檢測(ce)探頭的檢測(ce)特性
1. 缺陷類型
不銹(xiu)鋼(gang)管在進行(xing)漏磁檢(jian)測方(fang)法和(he)設備(bei)的考(kao)核時，常采用機加工(gong)或(huo)電(dian)火花方(fang)式(shi)刻(ke)制標準人(ren)工(gong)缺陷(xian)，自(zi)然缺陷(xian)可(ke)表(biao)達成它們的組合形式(shi)。為便于分析和(he)精(jing)確評估(gu)，將標準缺陷(xian)分成下列三類。
（1）點(dian)(dian)狀缺陷 點(dian)(dian)狀缺陷的(de)面積小(xiao)，集(ji)(ji)中在一(yi)點(dian)(dian)或小(xiao)圈(quan)內(nei)，如標準缺陷里的(de)通孔，自然缺陷里的(de)蝕(shi)坑、斑(ban)點(dian)(dian)、氣(qi)孔等，它們產(chan)生(sheng)的(de)漏磁場是一(yi)個集(ji)(ji)中的(de)點(dian)(dian)團狀場，分布范圍小(xiao)。
（2）線(xian)狀缺陷(xian) 線(xian)狀缺陷(xian)的寬長比很小，形成一條(tiao)線(xian)，如標準(zhun)缺陷(xian)里(li)的矩形刻槽、自然(ran)缺陷(xian)里(li)的裂紋等(deng)，它(ta)們產(chan)生的漏磁(ci)場是沿(yan)線(xian)條(tiao)的帶狀場。
（3）體狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian) 體狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)的長(chang)、寬、深尺(chi)寸(cun)均較大，形成坑或窩，如標準(zhun)缺(que)陷(xian)(xian)中的大不(bu)通孔(kong)、自然(ran)缺(que)陷(xian)(xian)里的片(pian)狀(zhuang)腐蝕等，它們產生的漏磁場分布范圍廣。
2. 不同結(jie)構探(tan)頭的檢(jian)測特性
不(bu)(bu)銹鋼管(guan)在漏(lou)磁檢測(ce)中，特別要(yao)強調空(kong)間和方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)的概(gai)念。因為，漏(lou)磁場(chang)是空(kong)間場(chang)，且(qie)(qie)具有方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)性(xing)；漏(lou)磁檢測(ce)信號(hao)是時間域的，且(qie)(qie)沒(mei)有相位(wei)信息；不(bu)(bu)僅檢測(ce)探頭(tou)具有敏感方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)，而(er)且(qie)(qie)檢測(ce)探頭(tou)的掃查路徑也(ye)具有方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)性(xing)，不(bu)(bu)同方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)均會(hui)對檢測(ce)信號(hao)及(ji)其特征產生影響。
另(ling)一(yi)方面，應該特別注(zhu)意缺(que)陷漏磁(ci)場(chang)的(de)(de)(de)表征形式，在這里，漏磁(ci)場(chang)強度和(he)(he)漏磁(ci)場(chang)梯度存在著(zhu)本質的(de)(de)(de)不同。霍爾元件(jian)和(he)(he)感(gan)應線(xian)圈兩種器(qi)件(jian)的(de)(de)(de)應用也(ye)有(you)著(zhu)根本的(de)(de)(de)區別。霍爾元件(jian)可以測量空間(jian)(jian)某點上的(de)(de)(de)磁(ci)場(chang)強度，而感(gan)應線(xian)圈卻無法實現；感(gan)應線(xian)圈感(gan)應的(de)(de)(de)是(shi)空間(jian)(jian)一(yi)定范(fan)圍內的(de)(de)(de)磁(ci)通量的(de)(de)(de)變(bian)化程度，相(xiang)反，霍爾元件(jian)不可以測量磁(ci)通量的(de)(de)(de)變(bian)化，它測量的(de)(de)(de)是(shi)一(yi)定空間(jian)(jian)范(fan)圍內的(de)(de)(de)磁(ci)感(gan)應強度的(de)(de)(de)平均值。
下面將逐一分析兩種基本(ben)探頭形式對不(bu)同類(lei)型(xing)缺陷(xian)的(de)檢(jian)測信號特性。
a. 點檢(jian)探頭的信號特性
點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭測(ce)量的(de)是(shi)(shi)空間(jian)某點(dian)(dian)(dian)(dian)上的(de)漏磁感應強度(du)(du)或(huo)磁通(tong)量的(de)變(bian)化。點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭對點(dian)(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)檢(jian)測(ce)是(shi)(shi)“針尖對麥芒”，空間(jian)相對位置的(de)微小(xiao)變(bian)化，均(jun)有可(ke)能(neng)引起檢(jian)測(ce)信(xin)號幅(fu)度(du)(du)的(de)波動(dong)。點(dian)(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)漏磁場分布(bu)是(shi)(shi)尖峰狀(zhuang)的(de)，當點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭正對峰頂時，信(xin)號幅(fu)度(du)(du)最大，偏離時信(xin)號幅(fu)度(du)(du)將(jiang)急劇下降。因(yin)此(ci)，用(yong)點(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭去檢(jian)測(ce)點(dian)(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)時將(jiang)會(hui)產生不穩(wen)定的(de)信(xin)號，導致(zhi)誤判或(huo)漏判。進行(xing)檢(jian)測(ce)設備標定時，也難將(jiang)各(ge)通(tong)道的(de)靈敏度(du)(du)調整(zheng)到(dao)一致(zhi)。
點檢(jian)探頭(tou)檢(jian)測(ce)線(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)(que)陷時，很容易掃查到線(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)(que)陷產生的(de)“山脈”狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)漏磁場的(de)某一(yi)個縱斷面，檢(jian)測(ce)信號(hao)幅度將正比于(yu)線(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)(que)陷的(de)深(shen)度。當(dang)線(xian)(xian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)(que)陷長度大于(yu)一(yi)定值時，設備標定或(huo)檢(jian)測(ce)信號(hao)的(de)一(yi)致性(xing)和穩(wen)定性(xing)均(jun)較好。
b. 線檢探頭(tou)的信號特性(xing)
線檢(jian)(jian)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)測量的(de)是探(tan)(tan)(tan)頭(tou)長度(du)(du)范圍內的(de)平均磁感應強度(du)(du)或磁通量的(de)變化。與(yu)(yu)(yu)(yu)點檢(jian)(jian)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)相(xiang)比(bi)，線檢(jian)(jian)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)的(de)輸出信號特性不但與(yu)(yu)(yu)(yu)缺(que)陷(xian)的(de)深度(du)(du)有(you)關，而(er)且與(yu)(yu)(yu)(yu)缺(que)陷(xian)的(de)長度(du)(du)有(you)關，最終與(yu)(yu)(yu)(yu)缺(que)陷(xian)缺(que)失的(de)截面積成比(bi)例。這(zhe)類探(tan)(tan)(tan)頭(tou)不能(neng)直接獲(huo)得與(yu)(yu)(yu)(yu)缺(que)陷(xian)深度(du)(du)相(xiang)關的(de)信息，因為長而(er)淺的(de)缺(que)陷(xian)與(yu)(yu)(yu)(yu)短而(er)深的(de)缺(que)陷(xian)在檢(jian)(jian)測信號幅度(du)(du)上有(you)可(ke)能(neng)是一樣的(de)。
線檢探(tan)頭對點(dian)狀缺陷的(de)(de)檢測(ce)(ce)是“滴水不漏”。由于(yu)(yu)線檢探(tan)頭的(de)(de)長度遠(yuan)大于(yu)(yu)點(dian)狀缺陷的(de)(de)長度，在檢測(ce)(ce)路(lu)徑上，缺陷相對于(yu)(yu)探(tan)頭位置變化時(shi)，不會影(ying)響檢測(ce)(ce)信(xin)號的(de)(de)幅(fu)度，因而一致性較(jiao)好。
線(xian)檢探頭(tou)檢測(ce)線(xian)狀缺陷時(shi)，情況(kuang)較(jiao)為(wei)復雜，探頭(tou)與缺陷的(de)長度比以及位置關系均會影響(xiang)信號幅值。下面舉例分析。
如圖3-7a所示，用有效長(chang)度為(wei)25mm的(de)線(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)25mm長(chang)的(de)刻(ke)槽。當探(tan)(tan)頭(tou)正(zheng)對刻(ke)槽時，獲得最大(da)的(de)信(xin)號幅(fu)值；當探(tan)(tan)頭(tou)與刻(ke)槽的(de)位(wei)置錯開時，信(xin)號幅(fu)值將隨著(zhu)探(tan)(tan)頭(tou)與缺陷交(jiao)叉(cha)重疊(die)程度的(de)減小而減弱，此種(zhong)狀(zhuang)態對檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)是(shi)不(bu)利的(de)，不(bu)論是(shi)設備標(biao)定還是(shi)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)應用均很難獲得一致(zhi)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)號。圖3-7中左邊的(de)粗線(xian)(xian)(xian)段為(wei)線(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)，中間的(de)細線(xian)(xian)(xian)段為(wei)不(bu)同位(wei)置的(de)線(xian)(xian)(xian)狀(zhuang)缺陷，右邊為(wei)不(bu)同探(tan)(tan)頭(tou)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)號幅(fu)度。為(wei)實現線(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)一致(zhi)性檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，有如下兩種(zhong)做(zuo)法：
①. 減小(xiao)線(xian)檢探頭的有(you)效長(chang)度，讓它(ta)小(xiao)于或(huo)等于線(xian)狀缺(que)陷長(chang)度的一(yi)半，同時將(jiang)相鄰檢測探頭按50％重疊布置(zhi)，如圖3-7b所示。可以(yi)看出(chu)，不論缺(que)陷從(cong)哪個(ge)路徑通(tong)過探頭陣(zhen)列，均可在某一(yi)檢測單元中獲得一(yi)個(ge)最大的信號幅(fu)值，而在其他檢測單元中得到較(jiao)小(xiao)的信號幅(fu)值。
此時(shi)(shi)，由于線(xian)狀缺(que)陷長度(du)遠大于探頭(tou)(tou)長度(du)，檢(jian)測探頭(tou)(tou)測量的(de)是漏磁(ci)場(chang)“山脈”中的(de)某一(yi)段，如果線(xian)狀缺(que)陷深度(du)一(yi)致，它可以直接反映出深度(du)信息。將線(xian)檢(jian)探頭(tou)(tou)的(de)長度(du)再不(bu)斷縮小(xiao)，線(xian)檢(jian)探頭(tou)(tou)則變成點檢(jian)探頭(tou)(tou)。此時(shi)(shi)，在(zai)采用標準人工缺(que)陷進行設備標定時(shi)(shi)，任何狀態均可得到一(yi)致的(de)檢(jian)測信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此(ci)種(zhong)檢(jian)(jian)測方法(fa)測量的(de)是線(xian)狀缺陷(xian)的(de)平(ping)均磁感應強(qiang)度，因而，它反(fan)映不了線(xian)狀缺陷(xian)的(de)深度信息。當缺陷(xian)的(de)長度逐漸減小時，則轉變(bian)成線(xian)檢(jian)(jian)探頭對點(dian)狀缺陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)測。
3. 面向(xiang)對(dui)象的檢測探頭設計和選用
在漏磁(ci)檢測(ce)中，應該根據具體(ti)的檢測(ce)要(yao)求來設計和選(xuan)擇合適的探(tan)頭(tou)芯結(jie)構，下面(mian)給(gei)出幾種探(tan)頭(tou)設計和選(xuan)用原則。
a. 缺(que)(que)(que)陷的(de)(de)深度(du)(du)(du)檢(jian)測(ce)應(ying)該選擇點(dian)檢(jian)探(tan)頭 點(dian)檢(jian)探(tan)頭反(fan)映的(de)(de)是局部磁(ci)感應(ying)強度(du)(du)(du)或其(qi)變(bian)化(hua)。當裂紋(wen)較長時，測(ce)點(dian)相(xiang)當于(yu)對無限長矩形槽的(de)(de)探(tan)測(ce)，因而(er)，測(ce)點(dian)的(de)(de)信(xin)號幅(fu)度(du)(du)(du)與缺(que)(que)(que)陷深度(du)(du)(du)密(mi)切相(xiang)關。但是，當線(xian)狀缺(que)(que)(que)陷越(yue)(yue)來越(yue)(yue)短時，測(ce)量的(de)(de)誤差也就越(yue)(yue)來越(yue)(yue)大(da)，特別地，對點(dian)狀缺(que)(que)(que)陷的(de)(de)深度(du)(du)(du)探(tan)測(ce)幾乎不可能。
在鋼管(guan)漏磁(ci)(ci)檢測(ce)校樣過程中(zhong)，一般均(jun)以通(tong)孔(kong)作為(wei)標定試樣上的(de)標準缺(que)(que)陷，這樣，大、小(xiao)孔(kong)的(de)深(shen)度一致，孔(kong)徑尺寸反映出缺(que)(que)失截面積(ji)的(de)線性變(bian)(bian)化，因而，漏磁(ci)(ci)磁(ci)(ci)通(tong)量(liang)也(ye)(ye)將(jiang)發生線性變(bian)(bian)化。對(dui)于不(bu)通(tong)孔(kong)，當孔(kong)的(de)深(shen)度和直(zhi)徑均(jun)為(wei)變(bian)(bian)量(liang)時，僅(jin)通(tong)過尋找(zhao)孔(kong)深(shen)與孔(kong)徑的(de)乘積(ji)與信號幅度關系去反演或推算深(shen)度是不(bu)可能的(de)。這也(ye)(ye)是僅(jin)采用漏磁(ci)(ci)方法(fa)進行檢測(ce)的(de)不(bu)足。
b. 缺陷的損失截(jie)面積檢(jian)測(ce)應該選擇線檢(jian)探頭 線檢(jian)探頭的信號幅度與缺陷損失的截(jie)面積成比例，因(yin)而有(you)較好(hao)的測(ce)量精度。在有(you)些檢(jian)測(ce)對象(xiang)中(zhong)應用較好(hao)。
c. 缺(que)陷(xian)的(de)(de)長(chang)(chang)度(du)(du)檢測應(ying)該用(yong)點檢探頭陣列或點線(xian)組合式探頭 點檢探頭敏(min)感于缺(que)陷(xian)的(de)(de)深度(du)(du)，當采(cai)用(yong)點檢探頭陣列時，缺(que)陷(xian)長(chang)(chang)度(du)(du)覆蓋的(de)(de)通道數量可以反映(ying)其(qi)長(chang)(chang)度(du)(du)信(xin)息(xi)；另(ling)一方面，當線(xian)檢探頭大(da)于缺(que)陷(xian)的(de)(de)長(chang)(chang)度(du)(du)時，感應(ying)的(de)(de)是深度(du)(du)和長(chang)(chang)度(du)(du)的(de)(de)共同信(xin)息(xi)，如在其(qi)感應(ying)范圍內并列布(bu)置一個(ge)或多個(ge)點檢探頭感受深度(du)(du)信(xin)息(xi)，則(ze)裂紋的(de)(de)長(chang)(chang)度(du)(du)就可以計(ji)算出來。
從信號處理角度來看(kan)，點線組合式探(tan)頭需要的(de)(de)通道數量較少(shao)，可以同時獲得缺陷(xian)的(de)(de)深度、長度、缺失截(jie)面積(ji)等信息(xi)，具有較強的(de)(de)應用價值。
d. 斜向(xiang)裂(lie)紋采用點檢探頭陣(zhen)列檢測 在漏磁(ci)檢測中，當缺(que)(que)陷走(zou)(zou)向(xiang)與(yu)磁(ci)化場方向(xiang)不(bu)垂直時，漏磁(ci)場的(de)(de)強度(du)將(jiang)降(jiang)低(di)，從而獲得較小的(de)(de)信(xin)號(hao)幅值。因此(ci)，斜向(xiang)缺(que)(que)陷的(de)(de)檢測與(yu)評(ping)估(gu)，需要首先檢測出裂(lie)紋的(de)(de)走(zou)(zou)向(xiang)，并且根據走(zou)(zou)向(xiang)修正漏磁(ci)場信(xin)號(hao)幅度(du)，再進行深度(du)判別。
另一方(fang)面(mian)，當探頭(tou)掃查路徑垂直于缺(que)陷走向時(shi)，檢(jian)(jian)測信號幅(fu)(fu)值最(zui)大(da)；隨著兩者夾(jia)角不斷減小(xiao)(xiao)，檢(jian)(jian)測信號幅(fu)(fu)值逐漸(jian)降低，同時(shi)信號特性也將發生明(ming)顯變化。此時(shi)，線檢(jian)(jian)探頭(tou)的檢(jian)(jian)測信號特性變化很(hen)大(da)，點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)的信號幅(fu)(fu)度波(bo)動卻很(hen)小(xiao)(xiao)。因(yin)此，可(ke)利(li)用點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)陣列中各通道(dao)獲得最(zui)大(da)幅(fu)(fu)值的時(shi)間(jian)差異來(lai)推算缺(que)陷走向，為后續的信號補償與缺(que)陷判別奠定基(ji)礎，如圖(tu)3-8所示。
漏(lou)磁設(she)備(bei)的檢測能力(li)與(yu)探頭芯結構密切相關，從目前應用情況來看，漏(lou)磁檢測方法對內(nei)外部腐蝕(shi)坑、內(nei)外部周(zhou)／軸向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)均有較(jiao)好的檢測精度，同時，對斜向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)具(ju)有一定的檢測能力(li)。但(dan)是，漏(lou)磁檢測方法對微裂(lie)(lie)紋(wen)，如初期的疲(pi)勞(lao)裂(lie)(lie)紋(wen)、熱處理的應力(li)裂(lie)(lie)紋(wen)、軋(ya)制時的微機械裂(lie)(lie)紋(wen)和折疊不太(tai)敏感。究其原因，微裂(lie)(lie)紋(wen)的開口均小(xiao)于0.05mm，漏(lou)磁場強(qiang)度較(jiao)低，因此(ci)，有必要(yao)輔以(yi)渦流、超聲等其他檢測方法。
我國進口漏磁檢(jian)測設備采用(yong)的(de)(de)基本(ben)都(dou)是基于線(xian)圈(quan)的(de)(de)線(xian)檢(jian)探頭，這種配(pei)置(zhi)需要的(de)(de)信號(hao)通道數量相(xiang)對(dui)較少(shao)、探靴(xue)的(de)(de)有效覆蓋范圍(wei)大。但是，這種方式對(dui)缺(que)陷的(de)(de)深度評(ping)定(ding)需要一定(ding)的(de)(de)輔助條件，而且對(dui)斜向缺(que)陷的(de)(de)檢(jian)測靈敏度較低。
在具體(ti)應(ying)(ying)用(yong)過程中(zhong)，首先應(ying)(ying)分析檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)要求和(he)對象特點(dian)，其(qi)次要認識探(tan)(tan)頭(tou)芯的(de)(de)形式和(he)結(jie)構。總的(de)(de)來講，采用(yong)線檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)去檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)線狀缺陷的(de)(de)深度(du)信(xin)(xin)息和(he)采用(yong)點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)去評(ping)定點(dian)狀缺陷的(de)(de)長度(du)信(xin)(xin)息均是(shi)不現實的(de)(de)；高(gao)精度(du)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)需(xu)要以大量的(de)(de)獨立測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量通道(dao)和(he)信(xin)(xin)號處(chu)理系統為(wei)代價，因此，應(ying)(ying)根據(ju)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)目標綜合權衡。
