自動化不銹鋼管(guan)漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢測(ce)探(tan)頭(tou)是磁場(chang)傳感器(qi)的(de)載體和組合，是漏(lou)磁檢測(ce)信號的(de)收集(ji)器(qi)。隨著(zhu)漏(lou)磁檢測(ce)應用的(de)不斷深(shen)入和檢測(ce)要求(qiu)的(de)逐步提(ti)高(gao)，除(chu)了磁化問(wen)題，另一個核心就是漏(lou)磁檢測(ce)探(tan)頭(tou)的(de)設計。若探(tan)頭(tou)性能不好(hao)或者不合適，則會(hui)出現漏(lou)判或者誤(wu)判，嚴重(zhong)影(ying)響漏(lou)磁檢測(ce)的(de)可(ke)靠性。
另(ling)一方面(mian)，沒有一種探(tan)頭是萬能的。由于自然缺陷的形態千(qian)變萬化，檢測(ce)探(tan)頭必(bi)然存在局限性，漏判(pan)或誤判(pan)的情況在檢測(ce)實踐中時有發生。下面(mian)對檢測(ce)探(tan)頭的內部結構和檢測(ce)特性進行分析。
一、漏磁檢(jian)測探(tan)頭的結構形式(shi)
目前(qian)，最具代(dai)表性的(de)(de)不銹鋼管漏磁檢(jian)測傳(chuan)感器有兩種：霍爾(er)元(yuan)件和感應線圈，尤其是集(ji)成霍爾(er)元(yuan)件和光刻平面線圈。為(wei)了(le)獲得較高(gao)的(de)(de)磁場測量空間分辨力(li)和相對寬廣的(de)(de)掃查范圍，檢(jian)測探頭(tou)芯結構有多種形式(shi)。
1. 點(dian)檢測(ce)(ce)形式 在檢測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭中(zhong)，對(dui)某一(yi)點(dian)上或(huo)微小(xiao)區域的(de)漏磁(ci)場測(ce)(ce)量，并且每個(ge)(ge)測(ce)(ce)點(dian)對(dui)應于一(yi)個(ge)(ge)獨立的(de)信(xin)號(hao)通道(dao)，如(ru)圖(tu)3-6a所示，以下簡稱(cheng)為點(dian)檢探(tan)(tan)頭。很(hen)(hen)明顯，點(dian)檢探(tan)(tan)頭中(zhong)每個(ge)(ge)點(dian)能夠掃查的(de)檢測(ce)(ce)范圍(wei)很(hen)(hen)小(xiao)，但空(kong)間分辨力高，如(ru)單(dan)個(ge)(ge)霍(huo)爾元件的(de)敏感面積(ji)只有0.2×0.2m㎡，點(dian)檢用檢測(ce)(ce)線圈也可做到(dao)φ1mm內。
2. 線(xian)檢(jian)(jian)測(ce)形式 在檢(jian)(jian)測(ce)探頭(tou)中，對(dui)一條線(xian)上的(de)漏磁(ci)(ci)場(chang)進行綜合測(ce)量(liang)，如圖3-6b所(suo)示，以下簡(jian)稱為線(xian)檢(jian)(jian)探頭(tou)。例如，用(yong)感(gan)應線(xian)圈(quan)檢(jian)(jian)測(ce)時，將線(xian)圈(quan)做成條狀(zhuang)，則它感(gan)應的(de)是線(xian)圈(quan)掃查路徑對(dui)應空間(jian)范圍內的(de)漏磁(ci)(ci)通的(de)變化。用(yong)霍(huo)爾(er)元(yuan)件檢(jian)(jian)測(ce)時，采用(yong)線(xian)陣排列，將多個元(yuan)件檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)號(hao)用(yong)加法器疊加后輸出單個通道(dao)信(xin)號(hao)，則該信(xin)號(hao)反(fan)映的(de)是霍(huo)爾(er)元(yuan)件線(xian)陣長度內的(de)磁(ci)(ci)感(gan)應強(qiang)度的(de)平均值。
在漏磁檢(jian)測中，上述兩種(zhong)形(xing)式是最(zui)基本的(de)形(xing)式，由此可(ke)以組合(he)成多種(zhong)形(xing)式的(de)探(tan)(tan)頭，如圖3-6c所示(shi)的(de)平(ping)(ping)面內的(de)面陣列探(tan)(tan)頭，以及圖3-6d所示(shi)的(de)多個(ge)平(ping)(ping)面上的(de)立體陣列探(tan)(tan)頭。
二、漏(lou)磁檢測(ce)探(tan)頭的(de)檢測(ce)特性
1. 缺陷類型
不銹鋼(gang)管(guan)在進行(xing)漏磁檢測方(fang)法和設(she)備的考核(he)時，常采用機加工(gong)或電火花方(fang)式刻(ke)制標準人工(gong)缺陷，自(zi)然缺陷可表達成它們的組合形(xing)式。為便于分析和精確(que)評估，將標準缺陷分成下列三類。
（1）點(dian)(dian)狀(zhuang)缺陷(xian) 點(dian)(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)的面積小(xiao)，集中(zhong)在一(yi)點(dian)(dian)或小(xiao)圈內(nei)，如(ru)標準缺陷(xian)里的通孔，自然缺陷(xian)里的蝕(shi)坑、斑點(dian)(dian)、氣孔等，它們產生的漏磁(ci)場(chang)是一(yi)個(ge)集中(zhong)的點(dian)(dian)團狀(zhuang)場(chang)，分(fen)布范(fan)圍小(xiao)。
（2）線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian) 線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)寬長比很小，形(xing)成一條線(xian)，如標(biao)準缺(que)陷(xian)里的(de)矩形(xing)刻(ke)槽、自然缺(que)陷(xian)里的(de)裂紋等，它們產生的(de)漏磁(ci)場(chang)是沿(yan)線(xian)條的(de)帶狀(zhuang)場(chang)。
（3）體狀缺(que)陷 體狀缺(que)陷的(de)長、寬、深(shen)尺寸(cun)均較大，形成坑或窩，如標準缺(que)陷中的(de)大不(bu)通孔、自然缺(que)陷里的(de)片(pian)狀腐(fu)蝕(shi)等，它(ta)們產生的(de)漏磁場(chang)分(fen)布范圍(wei)廣。
2. 不同結構探頭的檢測特性
不銹鋼管在漏(lou)磁(ci)檢測(ce)(ce)中(zhong)，特別要強調空(kong)間和(he)方(fang)(fang)向的概念。因為，漏(lou)磁(ci)場是空(kong)間場，且(qie)具(ju)有方(fang)(fang)向性；漏(lou)磁(ci)檢測(ce)(ce)信號是時間域的，且(qie)沒(mei)有相位(wei)信息；不僅檢測(ce)(ce)探頭(tou)具(ju)有敏感方(fang)(fang)向，而且(qie)檢測(ce)(ce)探頭(tou)的掃查路徑也具(ju)有方(fang)(fang)向性，不同方(fang)(fang)向均會對檢測(ce)(ce)信號及其(qi)特征產生(sheng)影(ying)響。
另一(yi)方面，應(ying)該特別注意缺(que)陷漏(lou)磁(ci)場(chang)的(de)(de)表征(zheng)形式，在這里，漏(lou)磁(ci)場(chang)強度(du)和漏(lou)磁(ci)場(chang)梯度(du)存(cun)在著本質的(de)(de)不(bu)同。霍(huo)(huo)爾元件(jian)和感(gan)應(ying)線圈(quan)兩種器件(jian)的(de)(de)應(ying)用也有著根本的(de)(de)區(qu)別。霍(huo)(huo)爾元件(jian)可以測量(liang)空(kong)(kong)間(jian)某(mou)點上的(de)(de)磁(ci)場(chang)強度(du)，而感(gan)應(ying)線圈(quan)卻無(wu)法實(shi)現；感(gan)應(ying)線圈(quan)感(gan)應(ying)的(de)(de)是(shi)空(kong)(kong)間(jian)一(yi)定范圍(wei)內的(de)(de)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)變化程度(du)，相反，霍(huo)(huo)爾元件(jian)不(bu)可以測量(liang)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)變化，它測量(liang)的(de)(de)是(shi)一(yi)定空(kong)(kong)間(jian)范圍(wei)內的(de)(de)磁(ci)感(gan)應(ying)強度(du)的(de)(de)平均值(zhi)。
下(xia)面(mian)將逐一分析兩(liang)種基(ji)本(ben)探頭(tou)形式對不同(tong)類型缺(que)陷的(de)檢測信(xin)號(hao)特(te)性。
a. 點檢(jian)探頭的信號特(te)性
點檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)測(ce)量(liang)的(de)是空間某點上的(de)漏磁感(gan)應強(qiang)度(du)(du)(du)或磁通量(liang)的(de)變(bian)化。點檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)對(dui)(dui)點狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)是“針尖對(dui)(dui)麥芒(mang)”，空間相對(dui)(dui)位置的(de)微小(xiao)變(bian)化，均(jun)有(you)可(ke)能引起(qi)檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)號幅(fu)度(du)(du)(du)的(de)波動(dong)。點狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)漏磁場分布是尖峰狀(zhuang)(zhuang)的(de)，當點檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)正對(dui)(dui)峰頂時，信(xin)號幅(fu)度(du)(du)(du)最大，偏離時信(xin)號幅(fu)度(du)(du)(du)將急(ji)劇下降。因(yin)此，用點檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)去(qu)檢(jian)(jian)測(ce)點狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)時將會產(chan)生不穩(wen)定的(de)信(xin)號，導(dao)致(zhi)誤判(pan)或漏判(pan)。進行檢(jian)(jian)測(ce)設備標定時，也難將各通道(dao)的(de)靈敏度(du)(du)(du)調(diao)整到一致(zhi)。
點檢探頭檢測(ce)線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)時，很容易掃查到線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)產生(sheng)的“山脈”狀(zhuang)漏磁場的某一個縱斷面，檢測(ce)信號幅度將正比(bi)于線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的深度。當線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)長度大于一定(ding)值時，設備標定(ding)或檢測(ce)信號的一致性和穩定(ding)性均較好。
b. 線檢探頭的信號特性
線(xian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)測量的是探(tan)(tan)頭(tou)長(chang)(chang)度(du)范圍內的平(ping)均(jun)磁感應強度(du)或磁通量的變化(hua)。與(yu)(yu)(yu)(yu)點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)相比，線(xian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的輸出信號特性(xing)不但(dan)與(yu)(yu)(yu)(yu)缺陷(xian)的深度(du)有關(guan)(guan)，而且與(yu)(yu)(yu)(yu)缺陷(xian)的長(chang)(chang)度(du)有關(guan)(guan)，最終與(yu)(yu)(yu)(yu)缺陷(xian)缺失的截(jie)面(mian)積成比例。這類探(tan)(tan)頭(tou)不能(neng)直接獲得與(yu)(yu)(yu)(yu)缺陷(xian)深度(du)相關(guan)(guan)的信息，因為長(chang)(chang)而淺的缺陷(xian)與(yu)(yu)(yu)(yu)短而深的缺陷(xian)在(zai)檢(jian)測信號幅度(du)上有可能(neng)是一樣的。
線(xian)檢(jian)(jian)探頭對(dui)點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)的檢(jian)(jian)測(ce)是(shi)“滴水不漏”。由于線(xian)檢(jian)(jian)探頭的長度(du)遠大于點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)的長度(du)，在檢(jian)(jian)測(ce)路徑上，缺陷(xian)相(xiang)對(dui)于探頭位置變化時(shi)，不會影(ying)響檢(jian)(jian)測(ce)信號的幅度(du)，因而一致性(xing)較好。
線檢探頭檢測線狀缺陷時，情況較為復雜(za)，探頭與缺陷的長度比以及位(wei)置(zhi)關系均會(hui)影(ying)響(xiang)信號(hao)幅值。下面(mian)舉例分析(xi)。
如圖3-7a所示，用有效長(chang)度(du)為(wei)(wei)25mm的(de)(de)(de)(de)(de)(de)線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)25mm長(chang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)刻槽。當探(tan)頭(tou)(tou)正對(dui)刻槽時，獲得最大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號幅(fu)值；當探(tan)頭(tou)(tou)與(yu)(yu)刻槽的(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置錯(cuo)開時，信(xin)號幅(fu)值將隨著探(tan)頭(tou)(tou)與(yu)(yu)缺(que)陷交(jiao)叉重疊程度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)減小而減弱，此(ci)種(zhong)狀態(tai)對(dui)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)是不(bu)利的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，不(bu)論是設備標定還是檢(jian)(jian)測(ce)(ce)應用均(jun)很難獲得一(yi)致的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號。圖3-7中(zhong)左(zuo)邊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)粗(cu)線(xian)段(duan)為(wei)(wei)線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)，中(zhong)間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)細線(xian)段(duan)為(wei)(wei)不(bu)同位置的(de)(de)(de)(de)(de)(de)線(xian)狀缺(que)陷，右邊為(wei)(wei)不(bu)同探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號幅(fu)度(du)。為(wei)(wei)實現(xian)線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)致性檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，有如下兩種(zhong)做法：
①. 減小(xiao)(xiao)線檢探頭(tou)的(de)(de)有效長(chang)(chang)度，讓它(ta)小(xiao)(xiao)于或等(deng)于線狀缺陷長(chang)(chang)度的(de)(de)一(yi)半(ban)，同時將(jiang)相鄰(lin)檢測探頭(tou)按50％重疊布置，如圖3-7b所示。可以(yi)看出，不論缺陷從(cong)哪個(ge)路(lu)徑通過探頭(tou)陣列，均可在(zai)某一(yi)檢測單(dan)元(yuan)中(zhong)獲得一(yi)個(ge)最大的(de)(de)信(xin)號幅值，而在(zai)其他檢測單(dan)元(yuan)中(zhong)得到較小(xiao)(xiao)的(de)(de)信(xin)號幅值。
此時(shi)(shi)，由(you)于線(xian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)長度遠大于探(tan)頭長度，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭測(ce)量的是(shi)漏(lou)磁場“山脈”中(zhong)的某一(yi)(yi)段，如果線(xian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)深度一(yi)(yi)致，它可(ke)以(yi)直(zhi)接反映出(chu)深度信(xin)息(xi)。將(jiang)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭的長度再不斷縮小，線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭則變成點檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭。此時(shi)(shi)，在(zai)采(cai)用標(biao)準人(ren)工缺(que)陷(xian)進行設(she)備(bei)標(biao)定時(shi)(shi)，任(ren)何狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)態均可(ke)得到一(yi)(yi)致的檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種(zhong)檢(jian)測方法(fa)測量的是線(xian)狀缺(que)(que)陷的平均磁(ci)感應(ying)強度，因而，它反映(ying)不了(le)線(xian)狀缺(que)(que)陷的深(shen)度信息。當缺(que)(que)陷的長度逐漸減小時，則轉變成線(xian)檢(jian)探頭對點狀缺(que)(que)陷的檢(jian)測。
3. 面向(xiang)對象的檢(jian)測探頭設計和選用
在漏(lou)磁檢(jian)測(ce)中，應該根據(ju)具體的檢(jian)測(ce)要求來設(she)計(ji)和選擇合適的探頭芯結構，下面給出幾(ji)種探頭設(she)計(ji)和選用原(yuan)則。
a. 缺陷的(de)(de)深(shen)度檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)應(ying)該選(xuan)擇點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭 點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭反映的(de)(de)是(shi)局部(bu)磁(ci)感(gan)應(ying)強度或其變(bian)化(hua)。當(dang)裂紋(wen)較長時(shi)，測(ce)(ce)(ce)點(dian)相當(dang)于對無(wu)限長矩形槽(cao)的(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)，因而(er)，測(ce)(ce)(ce)點(dian)的(de)(de)信(xin)號幅度與缺陷深(shen)度密切相關。但是(shi)，當(dang)線(xian)狀缺陷越(yue)(yue)來越(yue)(yue)短時(shi)，測(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)誤(wu)差也就越(yue)(yue)來越(yue)(yue)大(da)，特(te)別地，對點(dian)狀缺陷的(de)(de)深(shen)度探(tan)測(ce)(ce)(ce)幾乎不可(ke)能。
在鋼管漏(lou)磁(ci)檢(jian)測(ce)校樣(yang)過(guo)程中，一般均以(yi)通(tong)(tong)孔(kong)作為標(biao)定試樣(yang)上(shang)的(de)標(biao)準缺陷，這樣(yang)，大(da)、小孔(kong)的(de)深(shen)度(du)一致(zhi)，孔(kong)徑(jing)(jing)尺寸(cun)反映出缺失截面積的(de)線性(xing)變(bian)化，因而，漏(lou)磁(ci)磁(ci)通(tong)(tong)量(liang)也將發(fa)生線性(xing)變(bian)化。對于不通(tong)(tong)孔(kong)，當(dang)孔(kong)的(de)深(shen)度(du)和直徑(jing)(jing)均為變(bian)量(liang)時，僅通(tong)(tong)過(guo)尋(xun)找孔(kong)深(shen)與孔(kong)徑(jing)(jing)的(de)乘積與信號幅度(du)關系(xi)去反演或推算深(shen)度(du)是(shi)不可能的(de)。這也是(shi)僅采用(yong)漏(lou)磁(ci)方法進行檢(jian)測(ce)的(de)不足。
b. 缺陷的損失截面(mian)積檢測(ce)應(ying)該選擇線檢探(tan)(tan)頭 線檢探(tan)(tan)頭的信號(hao)幅(fu)度(du)與(yu)缺陷損失的截面(mian)積成比例，因而(er)有較好(hao)的測(ce)量(liang)精(jing)度(du)。在有些(xie)檢測(ce)對象中應(ying)用較好(hao)。
c. 缺(que)(que)陷的(de)(de)長(chang)度(du)檢(jian)(jian)(jian)測應該用點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)陣列或(huo)點(dian)線(xian)組(zu)合式探(tan)(tan)頭(tou) 點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)敏感(gan)(gan)于缺(que)(que)陷的(de)(de)深(shen)(shen)度(du)，當(dang)(dang)采(cai)用點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)陣列時，缺(que)(que)陷長(chang)度(du)覆蓋的(de)(de)通道數量可(ke)以(yi)反映其長(chang)度(du)信息(xi)；另一方面，當(dang)(dang)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)大(da)于缺(que)(que)陷的(de)(de)長(chang)度(du)時，感(gan)(gan)應的(de)(de)是深(shen)(shen)度(du)和長(chang)度(du)的(de)(de)共同信息(xi)，如在其感(gan)(gan)應范圍內并列布置一個或(huo)多個點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)感(gan)(gan)受深(shen)(shen)度(du)信息(xi)，則裂紋(wen)的(de)(de)長(chang)度(du)就可(ke)以(yi)計(ji)算出來。
從信號處理角度來看，點線組合式探(tan)頭需(xu)要的(de)通道數(shu)量較少，可(ke)以同時獲得缺陷的(de)深度、長(chang)度、缺失截面積等信息，具有較強的(de)應用價值(zhi)。
d. 斜向(xiang)(xiang)裂紋采用點(dian)檢(jian)探頭陣列檢(jian)測(ce) 在漏(lou)磁檢(jian)測(ce)中，當(dang)缺(que)陷(xian)(xian)走向(xiang)(xiang)與(yu)磁化(hua)場(chang)方向(xiang)(xiang)不垂直時(shi)，漏(lou)磁場(chang)的(de)(de)強度將降低，從而獲得(de)較小的(de)(de)信(xin)(xin)號幅(fu)值(zhi)。因(yin)此，斜向(xiang)(xiang)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)檢(jian)測(ce)與(yu)評(ping)估，需要首先檢(jian)測(ce)出裂紋的(de)(de)走向(xiang)(xiang)，并(bing)且根據(ju)走向(xiang)(xiang)修正(zheng)漏(lou)磁場(chang)信(xin)(xin)號幅(fu)度，再進行深度判別。
另一方(fang)面，當探(tan)頭(tou)掃查路徑垂(chui)直于缺陷(xian)(xian)走(zou)向(xiang)時，檢(jian)(jian)測信(xin)(xin)號幅(fu)值(zhi)最大(da)；隨著兩(liang)者夾角不斷(duan)減(jian)小(xiao)，檢(jian)(jian)測信(xin)(xin)號幅(fu)值(zhi)逐漸(jian)降低，同時信(xin)(xin)號特性也將發生(sheng)明顯變化。此時，線檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)的(de)檢(jian)(jian)測信(xin)(xin)號特性變化很(hen)(hen)大(da)，點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)的(de)信(xin)(xin)號幅(fu)度波動卻很(hen)(hen)小(xiao)。因此，可利(li)用(yong)點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)陣(zhen)列(lie)中各通(tong)道(dao)獲得(de)最大(da)幅(fu)值(zhi)的(de)時間差異來(lai)推(tui)算缺陷(xian)(xian)走(zou)向(xiang)，為后續的(de)信(xin)(xin)號補償與(yu)缺陷(xian)(xian)判(pan)別奠(dian)定(ding)基礎(chu)，如(ru)圖3-8所示(shi)。
漏(lou)(lou)磁設備的(de)(de)檢(jian)測(ce)能力(li)與(yu)探頭(tou)芯結構密(mi)切(qie)相關，從目前應用情況來(lai)看，漏(lou)(lou)磁檢(jian)測(ce)方法(fa)對(dui)內外(wai)(wai)部腐(fu)蝕坑、內外(wai)(wai)部周(zhou)／軸(zhou)向裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)均有較(jiao)好的(de)(de)檢(jian)測(ce)精度(du)，同時(shi)，對(dui)斜向裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)具有一(yi)定的(de)(de)檢(jian)測(ce)能力(li)。但是，漏(lou)(lou)磁檢(jian)測(ce)方法(fa)對(dui)微裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)，如初期的(de)(de)疲勞裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)、熱(re)處理的(de)(de)應力(li)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)、軋制(zhi)時(shi)的(de)(de)微機械裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)和(he)折疊不太(tai)敏感(gan)。究其原因(yin)，微裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)的(de)(de)開口均小于0.05mm，漏(lou)(lou)磁場強(qiang)度(du)較(jiao)低(di)，因(yin)此，有必(bi)要輔以渦流、超(chao)聲等(deng)其他檢(jian)測(ce)方法(fa)。
我國進口漏磁(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)設備采用的(de)(de)基(ji)本都是基(ji)于線圈(quan)的(de)(de)線檢(jian)(jian)探頭，這種(zhong)配置需要的(de)(de)信號通道數量相對(dui)較少(shao)、探靴的(de)(de)有效覆蓋范(fan)圍大。但是，這種(zhong)方式對(dui)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)深度(du)(du)評(ping)定需要一定的(de)(de)輔助條件，而且對(dui)斜向缺陷(xian)(xian)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)靈(ling)敏度(du)(du)較低。
在具體應(ying)用(yong)過程中，首先應(ying)分析檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)要(yao)求和(he)(he)(he)對象特點，其次要(yao)認識探頭芯(xin)的(de)(de)(de)形式(shi)和(he)(he)(he)結構。總的(de)(de)(de)來(lai)講，采用(yong)線(xian)檢(jian)(jian)探頭去(qu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)線(xian)狀缺陷的(de)(de)(de)深度信(xin)息(xi)(xi)和(he)(he)(he)采用(yong)點檢(jian)(jian)探頭去(qu)評定(ding)點狀缺陷的(de)(de)(de)長度信(xin)息(xi)(xi)均(jun)是不現實(shi)的(de)(de)(de)；高精度的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)需要(yao)以大(da)量(liang)的(de)(de)(de)獨立測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)通(tong)道和(he)(he)(he)信(xin)號處理系統為代價，因此，應(ying)根(gen)據檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)目(mu)標綜(zong)合權衡。
