自動化不銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列(lie)檢測(ce)探(tan)頭是(shi)磁場傳感(gan)器的載體和組合，是(shi)漏(lou)磁檢測(ce)信(xin)號的收集器。隨著漏(lou)磁檢測(ce)應用的不斷深(shen)入(ru)和檢測(ce)要求的逐步提高，除了磁化問題，另一(yi)個核心(xin)就是(shi)漏(lou)磁檢測(ce)探(tan)頭的設計。若探(tan)頭性能不好或者不合適，則會出現漏(lou)判或者誤判，嚴(yan)重(zhong)影(ying)響漏(lou)磁檢測(ce)的可靠性。
另一方面，沒有(you)一種探頭是萬能的。由于自(zi)然缺陷的形態(tai)千變萬化，檢(jian)測(ce)探頭必然存在(zai)局(ju)限性，漏判或誤判的情況在(zai)檢(jian)測(ce)實(shi)踐中時有(you)發生。下(xia)面對檢(jian)測(ce)探頭的內部結構和檢(jian)測(ce)特性進行分(fen)析。
一、漏磁檢(jian)測探頭的結構形式
目前，最(zui)具代表性的不銹鋼管漏(lou)磁檢測(ce)(ce)傳感(gan)器有(you)兩種：霍爾元件和感(gan)應(ying)線圈(quan)，尤其是集成霍爾元件和光刻平面線圈(quan)。為了獲得較高的磁場測(ce)(ce)量空間分辨力和相對寬(kuan)廣的掃查(cha)范圍，檢測(ce)(ce)探頭芯結構有(you)多種形式。
1. 點(dian)(dian)(dian)檢(jian)測(ce)形式 在檢(jian)測(ce)探頭中(zhong)，對(dui)某一點(dian)(dian)(dian)上或(huo)微小區(qu)域的(de)漏(lou)磁場測(ce)量，并且每(mei)個測(ce)點(dian)(dian)(dian)對(dui)應于一個獨(du)立的(de)信號通道，如(ru)圖3-6a所示，以(yi)下簡稱為點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探頭。很(hen)明顯，點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探頭中(zhong)每(mei)個點(dian)(dian)(dian)能(neng)夠(gou)掃查的(de)檢(jian)測(ce)范圍很(hen)小，但空間分辨力高，如(ru)單個霍爾(er)元(yuan)件的(de)敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)線圈(quan)也可做(zuo)到φ1mm內。
2. 線(xian)(xian)檢(jian)測形式 在(zai)檢(jian)測探(tan)頭(tou)中，對一(yi)條線(xian)(xian)上的(de)(de)漏磁(ci)(ci)場(chang)進行綜(zong)合測量，如圖(tu)3-6b所示，以下簡稱為線(xian)(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)。例如，用(yong)感應(ying)(ying)線(xian)(xian)圈(quan)檢(jian)測時(shi)，將線(xian)(xian)圈(quan)做(zuo)成條狀，則它感應(ying)(ying)的(de)(de)是線(xian)(xian)圈(quan)掃查路(lu)徑對應(ying)(ying)空(kong)間(jian)范圍內的(de)(de)漏磁(ci)(ci)通的(de)(de)變化。用(yong)霍(huo)爾(er)(er)元(yuan)件檢(jian)測時(shi)，采用(yong)線(xian)(xian)陣排列，將多(duo)個元(yuan)件檢(jian)測信(xin)(xin)號用(yong)加法器疊加后(hou)輸出(chu)單(dan)個通道信(xin)(xin)號，則該信(xin)(xin)號反映的(de)(de)是霍(huo)爾(er)(er)元(yuan)件線(xian)(xian)陣長度內的(de)(de)磁(ci)(ci)感應(ying)(ying)強度的(de)(de)平(ping)均值(zhi)。
在(zai)漏磁檢測中，上述兩種形(xing)式(shi)是最基(ji)本的(de)(de)(de)形(xing)式(shi)，由此(ci)可以組合成多種形(xing)式(shi)的(de)(de)(de)探頭，如圖3-6c所示的(de)(de)(de)平面(mian)內的(de)(de)(de)面(mian)陣列探頭，以及圖3-6d所示的(de)(de)(de)多個平面(mian)上的(de)(de)(de)立體陣列探頭。
二、漏磁(ci)檢(jian)測(ce)探頭的檢(jian)測(ce)特性(xing)
1. 缺陷(xian)類型
不銹鋼管在(zai)進行漏磁檢測方法和設備的考(kao)核時，常采用機加工或(huo)電火花方式刻制標準(zhun)(zhun)人工缺陷(xian)，自然缺陷(xian)可(ke)表(biao)達成(cheng)它們(men)的組合形式。為(wei)便(bian)于(yu)分析和精確評估，將(jiang)標準(zhun)(zhun)缺陷(xian)分成(cheng)下列三(san)類(lei)。
（1）點(dian)(dian)狀缺陷(xian) 點(dian)(dian)狀缺陷(xian)的(de)面積小，集中在(zai)一點(dian)(dian)或(huo)小圈內，如標準缺陷(xian)里的(de)通孔，自然缺陷(xian)里的(de)蝕坑、斑(ban)點(dian)(dian)、氣孔等，它們(men)產生的(de)漏(lou)磁場是一個集中的(de)點(dian)(dian)團狀場，分(fen)布范圍小。
（2）線狀缺陷(xian) 線狀缺陷(xian)的(de)(de)寬長比很小，形成一條線，如標(biao)準缺陷(xian)里的(de)(de)矩形刻槽、自然缺陷(xian)里的(de)(de)裂紋等，它(ta)們產生的(de)(de)漏磁場(chang)(chang)是沿線條的(de)(de)帶狀場(chang)(chang)。
（3）體狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian) 體狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)長、寬、深尺寸(cun)均較大(da)，形成坑或窩，如標準缺(que)陷(xian)(xian)(xian)中的(de)大(da)不通(tong)孔、自然缺(que)陷(xian)(xian)(xian)里的(de)片狀腐蝕等，它(ta)們(men)產生的(de)漏磁場分布(bu)范圍(wei)廣。
2. 不同結(jie)構探(tan)頭的檢測(ce)特性
不銹鋼管在(zai)漏磁檢(jian)(jian)測中，特(te)別要強(qiang)調空間和(he)方(fang)向的概念。因為，漏磁場(chang)是空間場(chang)，且(qie)具(ju)有方(fang)向性(xing)；漏磁檢(jian)(jian)測信(xin)號(hao)(hao)是時間域的，且(qie)沒有相位信(xin)息；不僅檢(jian)(jian)測探頭(tou)具(ju)有敏(min)感方(fang)向，而且(qie)檢(jian)(jian)測探頭(tou)的掃查路徑(jing)也具(ju)有方(fang)向性(xing)，不同方(fang)向均(jun)會對檢(jian)(jian)測信(xin)號(hao)(hao)及其(qi)特(te)征產生影響。
另一(yi)(yi)方面，應該特別注意缺陷漏(lou)磁(ci)場的(de)(de)表征(zheng)形式，在這里，漏(lou)磁(ci)場強(qiang)度(du)(du)和(he)漏(lou)磁(ci)場梯度(du)(du)存在著(zhu)本質的(de)(de)不同。霍爾(er)元件(jian)(jian)和(he)感應線(xian)(xian)圈兩種(zhong)器件(jian)(jian)的(de)(de)應用也(ye)有著(zhu)根本的(de)(de)區別。霍爾(er)元件(jian)(jian)可以(yi)測量空(kong)間某點上的(de)(de)磁(ci)場強(qiang)度(du)(du)，而感應線(xian)(xian)圈卻無法實(shi)現；感應線(xian)(xian)圈感應的(de)(de)是空(kong)間一(yi)(yi)定(ding)范圍(wei)內的(de)(de)磁(ci)通量的(de)(de)變化程度(du)(du)，相反，霍爾(er)元件(jian)(jian)不可以(yi)測量磁(ci)通量的(de)(de)變化，它測量的(de)(de)是一(yi)(yi)定(ding)空(kong)間范圍(wei)內的(de)(de)磁(ci)感應強(qiang)度(du)(du)的(de)(de)平(ping)均值。
下面將逐一分析(xi)兩種(zhong)基本探頭形(xing)式對不同類(lei)型缺陷的檢(jian)測信(xin)號特性。
a. 點檢探頭(tou)的信(xin)號特性
點檢(jian)探(tan)頭測量的(de)是空間某(mou)點上的(de)漏(lou)磁(ci)感應強度或磁(ci)通(tong)量的(de)變化(hua)。點檢(jian)探(tan)頭對(dui)點狀(zhuang)缺陷的(de)檢(jian)測是“針(zhen)尖(jian)對(dui)麥芒”，空間相(xiang)對(dui)位置(zhi)的(de)微小變化(hua)，均有可能引起檢(jian)測信(xin)(xin)號(hao)(hao)幅度的(de)波動。點狀(zhuang)缺陷的(de)漏(lou)磁(ci)場分布是尖(jian)峰狀(zhuang)的(de)，當點檢(jian)探(tan)頭正對(dui)峰頂時，信(xin)(xin)號(hao)(hao)幅度最大，偏離時信(xin)(xin)號(hao)(hao)幅度將(jiang)急(ji)劇下(xia)降。因此，用點檢(jian)探(tan)頭去(qu)檢(jian)測點狀(zhuang)缺陷時將(jiang)會(hui)產生不穩定的(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)，導致(zhi)誤判(pan)或漏(lou)判(pan)。進行檢(jian)測設(she)備標定時，也難將(jiang)各(ge)通(tong)道(dao)的(de)靈敏度調整到一致(zhi)。
點檢(jian)探頭檢(jian)測(ce)線狀缺(que)陷(xian)時(shi)(shi)，很容易掃查到線狀缺(que)陷(xian)產生的(de)(de)“山脈”狀漏磁場的(de)(de)某(mou)一(yi)個縱斷(duan)面，檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)幅度將正比于線狀缺(que)陷(xian)的(de)(de)深(shen)度。當線狀缺(que)陷(xian)長(chang)度大(da)于一(yi)定值(zhi)時(shi)(shi)，設備標定或檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)的(de)(de)一(yi)致性和穩定性均(jun)較好(hao)。
b. 線檢(jian)探(tan)頭的信號特性
線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)測量的(de)是探(tan)(tan)頭(tou)長度范圍內的(de)平均(jun)磁(ci)(ci)感應強度或磁(ci)(ci)通量的(de)變化。與點檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)相(xiang)比，線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)輸出(chu)信號(hao)特性不但與缺陷(xian)的(de)深(shen)度有關，而(er)且與缺陷(xian)的(de)長度有關，最終與缺陷(xian)缺失的(de)截面積(ji)成比例。這類(lei)探(tan)(tan)頭(tou)不能直(zhi)接(jie)獲得與缺陷(xian)深(shen)度相(xiang)關的(de)信息(xi)，因(yin)為長而(er)淺的(de)缺陷(xian)與短(duan)而(er)深(shen)的(de)缺陷(xian)在檢(jian)測信號(hao)幅度上(shang)有可(ke)能是一樣的(de)。
線檢(jian)探(tan)頭對點(dian)狀缺(que)陷(xian)的檢(jian)測(ce)(ce)(ce)是“滴(di)水(shui)不(bu)漏”。由(you)于(yu)線檢(jian)探(tan)頭的長度(du)遠大(da)于(yu)點(dian)狀缺(que)陷(xian)的長度(du)，在(zai)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)路(lu)徑上(shang)，缺(que)陷(xian)相對于(yu)探(tan)頭位置變化時，不(bu)會影(ying)響(xiang)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信號的幅(fu)度(du)，因而(er)一(yi)致性(xing)較好。
線檢探頭檢測線狀缺陷(xian)時，情(qing)況(kuang)較為(wei)復(fu)雜，探頭與(yu)缺陷(xian)的長(chang)度比以及(ji)位置(zhi)關系均會(hui)影響信號(hao)幅值。下面舉例分析。
如圖(tu)3-7a所示(shi)，用(yong)有效(xiao)長(chang)度(du)為25mm的(de)(de)線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)檢(jian)測(ce)25mm長(chang)的(de)(de)刻槽(cao)(cao)。當(dang)探(tan)頭(tou)正對刻槽(cao)(cao)時，獲(huo)得(de)最大(da)的(de)(de)信號幅(fu)值(zhi)；當(dang)探(tan)頭(tou)與刻槽(cao)(cao)的(de)(de)位置錯開(kai)時，信號幅(fu)值(zhi)將隨著探(tan)頭(tou)與缺陷(xian)交叉重疊程度(du)的(de)(de)減小而減弱，此種(zhong)(zhong)狀態對檢(jian)測(ce)是(shi)不(bu)利的(de)(de)，不(bu)論是(shi)設備(bei)標定(ding)還(huan)是(shi)檢(jian)測(ce)應用(yong)均很難獲(huo)得(de)一致的(de)(de)檢(jian)測(ce)信號。圖(tu)3-7中左邊的(de)(de)粗線(xian)段(duan)為線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)，中間的(de)(de)細線(xian)段(duan)為不(bu)同位置的(de)(de)線(xian)狀缺陷(xian)，右邊為不(bu)同探(tan)頭(tou)的(de)(de)檢(jian)測(ce)信號幅(fu)度(du)。為實現(xian)線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)的(de)(de)一致性檢(jian)測(ce)，有如下兩種(zhong)(zhong)做法：
①. 減小(xiao)線檢探(tan)頭(tou)的(de)有(you)效長(chang)度(du)(du)，讓它小(xiao)于(yu)或等于(yu)線狀缺陷(xian)長(chang)度(du)(du)的(de)一半，同時將相(xiang)鄰檢測探(tan)頭(tou)按(an)50％重疊布置，如圖3-7b所示。可以看出(chu)，不論(lun)缺陷(xian)從哪個(ge)(ge)路徑通過探(tan)頭(tou)陣(zhen)列，均(jun)可在(zai)某一檢測單元中獲得一個(ge)(ge)最大(da)的(de)信號(hao)幅值，而在(zai)其他檢測單元中得到(dao)較小(xiao)的(de)信號(hao)幅值。
此時，由于線(xian)狀缺(que)陷長(chang)度(du)(du)遠大(da)于探(tan)頭長(chang)度(du)(du)，檢(jian)測(ce)探(tan)頭測(ce)量的(de)是漏磁場“山(shan)脈”中的(de)某一段(duan)，如果線(xian)狀缺(que)陷深度(du)(du)一致，它可以直接反映出深度(du)(du)信(xin)息(xi)。將線(xian)檢(jian)探(tan)頭的(de)長(chang)度(du)(du)再(zai)不斷縮小，線(xian)檢(jian)探(tan)頭則變成點(dian)檢(jian)探(tan)頭。此時，在采用標(biao)準人工缺(que)陷進行設備標(biao)定時，任何狀態(tai)均可得到一致的(de)檢(jian)測(ce)信(xin)號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢(jian)測方法測量(liang)的(de)是線狀缺(que)陷(xian)(xian)的(de)平(ping)均磁感(gan)應強(qiang)度(du)(du)，因而，它反映不了線狀缺(que)陷(xian)(xian)的(de)深度(du)(du)信息。當缺(que)陷(xian)(xian)的(de)長(chang)度(du)(du)逐漸減小時，則轉(zhuan)變(bian)成(cheng)線檢(jian)探(tan)頭(tou)對(dui)點(dian)狀缺(que)陷(xian)(xian)的(de)檢(jian)測。
3. 面向對象(xiang)的檢測探(tan)頭設(she)計和(he)選用
在漏(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測中，應(ying)該根據具體的(de)(de)檢(jian)(jian)測要求(qiu)來設(she)計和選(xuan)擇合適的(de)(de)探頭(tou)芯結構，下(xia)面給出幾種探頭(tou)設(she)計和選(xuan)用原則。
a. 缺(que)陷的(de)(de)深度(du)(du)檢測(ce)應該選(xuan)擇點(dian)檢探(tan)(tan)頭 點(dian)檢探(tan)(tan)頭反映的(de)(de)是局部(bu)磁感應強度(du)(du)或其變化(hua)。當(dang)裂(lie)紋較長(chang)時，測(ce)點(dian)相(xiang)當(dang)于對(dui)無限長(chang)矩(ju)形槽(cao)的(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)，因而，測(ce)點(dian)的(de)(de)信號幅度(du)(du)與缺(que)陷深度(du)(du)密切相(xiang)關。但(dan)是，當(dang)線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷越(yue)來(lai)越(yue)短時，測(ce)量的(de)(de)誤差(cha)也就越(yue)來(lai)越(yue)大，特別地，對(dui)點(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷的(de)(de)深度(du)(du)探(tan)(tan)測(ce)幾乎不可能(neng)。
在鋼管漏磁(ci)檢測(ce)校樣(yang)(yang)過程中(zhong)，一般均(jun)以通(tong)孔(kong)(kong)(kong)作為標定試樣(yang)(yang)上(shang)的(de)(de)標準(zhun)缺(que)(que)陷，這樣(yang)(yang)，大、小(xiao)孔(kong)(kong)(kong)的(de)(de)深度(du)(du)(du)一致(zhi)，孔(kong)(kong)(kong)徑尺寸反映出(chu)缺(que)(que)失截面積的(de)(de)線性(xing)變(bian)化，因(yin)而，漏磁(ci)磁(ci)通(tong)量也將發生線性(xing)變(bian)化。對(dui)于不通(tong)孔(kong)(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)(kong)的(de)(de)深度(du)(du)(du)和直徑均(jun)為變(bian)量時，僅通(tong)過尋找孔(kong)(kong)(kong)深與(yu)孔(kong)(kong)(kong)徑的(de)(de)乘積與(yu)信號幅度(du)(du)(du)關系(xi)去反演或(huo)推算深度(du)(du)(du)是不可能的(de)(de)。這也是僅采用漏磁(ci)方法進行(xing)檢測(ce)的(de)(de)不足(zu)。
b. 缺陷的(de)損(sun)失截面積(ji)檢測(ce)應該選擇線檢探頭(tou) 線檢探頭(tou)的(de)信號幅度與缺陷損(sun)失的(de)截面積(ji)成比例(li)，因而有較好的(de)測(ce)量精度。在有些檢測(ce)對象中應用較好。
c. 缺陷的(de)(de)(de)長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)(du)檢測應該用點(dian)(dian)檢探頭陣(zhen)列或點(dian)(dian)線(xian)組(zu)合式探頭 點(dian)(dian)檢探頭敏感于(yu)缺陷的(de)(de)(de)深度(du)(du)(du)，當(dang)采用點(dian)(dian)檢探頭陣(zhen)列時，缺陷長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)(du)覆蓋的(de)(de)(de)通道(dao)數量(liang)可以反映其(qi)長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)(du)信(xin)息(xi)；另一方(fang)面，當(dang)線(xian)檢探頭大于(yu)缺陷的(de)(de)(de)長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)(du)時，感應的(de)(de)(de)是深度(du)(du)(du)和長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)共同(tong)信(xin)息(xi)，如在其(qi)感應范圍內(nei)并(bing)列布置一個(ge)或多個(ge)點(dian)(dian)檢探頭感受深度(du)(du)(du)信(xin)息(xi)，則裂紋的(de)(de)(de)長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)(du)就(jiu)可以計(ji)算出來(lai)。
從信(xin)號(hao)處理角度(du)來看，點線組合式探頭需要的(de)通道(dao)數量較少，可以同時獲(huo)得(de)缺陷(xian)的(de)深度(du)、長度(du)、缺失截面積(ji)等信(xin)息，具有(you)較強的(de)應用價值(zhi)。
d. 斜向(xiang)裂紋(wen)采用點檢探頭陣列檢測(ce)(ce) 在漏磁檢測(ce)(ce)中，當缺陷(xian)走向(xiang)與磁化場方向(xiang)不垂直時，漏磁場的強度(du)(du)將(jiang)降低(di)，從而獲得(de)較小(xiao)的信號(hao)幅值。因此，斜向(xiang)缺陷(xian)的檢測(ce)(ce)與評估，需要(yao)首先檢測(ce)(ce)出裂紋(wen)的走向(xiang)，并且根據走向(xiang)修正漏磁場信號(hao)幅度(du)(du)，再(zai)進行深度(du)(du)判別。
另一方面，當探(tan)頭(tou)掃(sao)查路徑垂直于(yu)缺陷(xian)(xian)走(zou)(zou)向時，檢(jian)測(ce)信(xin)(xin)號幅(fu)值(zhi)(zhi)最大(da)(da)(da)；隨著兩者夾角不(bu)斷減小，檢(jian)測(ce)信(xin)(xin)號幅(fu)值(zhi)(zhi)逐漸降低(di)，同時信(xin)(xin)號特性也將發生(sheng)明顯變化。此時，線檢(jian)探(tan)頭(tou)的檢(jian)測(ce)信(xin)(xin)號特性變化很大(da)(da)(da)，點檢(jian)探(tan)頭(tou)的信(xin)(xin)號幅(fu)度(du)波動卻很小。因此，可利用點檢(jian)探(tan)頭(tou)陣列中各通道獲得最大(da)(da)(da)幅(fu)值(zhi)(zhi)的時間差異來推算缺陷(xian)(xian)走(zou)(zou)向，為后續的信(xin)(xin)號補(bu)償與缺陷(xian)(xian)判別奠定基礎，如(ru)圖3-8所示。
漏磁(ci)(ci)(ci)設備的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)能力與探頭芯結(jie)構密(mi)切相關(guan)，從(cong)目前應用情況來看，漏磁(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)對內外(wai)部(bu)腐蝕(shi)坑(keng)、內外(wai)部(bu)周／軸向裂紋(wen)(wen)均有(you)較好的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)精度，同時(shi)，對斜向裂紋(wen)(wen)具有(you)一定的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)能力。但(dan)是，漏磁(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)對微(wei)裂紋(wen)(wen)，如初(chu)期(qi)的(de)(de)疲勞裂紋(wen)(wen)、熱處理的(de)(de)應力裂紋(wen)(wen)、軋制時(shi)的(de)(de)微(wei)機械裂紋(wen)(wen)和(he)折疊不(bu)太敏(min)感。究(jiu)其原因，微(wei)裂紋(wen)(wen)的(de)(de)開口均小于0.05mm，漏磁(ci)(ci)(ci)場強度較低(di)，因此，有(you)必要輔以(yi)渦流、超(chao)聲等其他檢(jian)(jian)(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)。
我國進口漏磁檢測設備(bei)采(cai)用的(de)基本都(dou)是(shi)基于線圈(quan)的(de)線檢探(tan)頭，這(zhe)種(zhong)配置(zhi)需要的(de)信號通道(dao)數量相對(dui)較少、探(tan)靴的(de)有效覆蓋范圍大。但是(shi)，這(zhe)種(zhong)方式對(dui)缺陷的(de)深度評定需要一(yi)定的(de)輔(fu)助條(tiao)件，而(er)且對(dui)斜向缺陷的(de)檢測靈(ling)敏(min)度較低。
在具體(ti)應(ying)用過程中，首先應(ying)分(fen)析檢(jian)測(ce)要求和(he)對象(xiang)特點，其(qi)次要認識(shi)探(tan)頭芯的(de)(de)形式(shi)和(he)結構。總的(de)(de)來講，采用線(xian)檢(jian)探(tan)頭去(qu)檢(jian)測(ce)線(xian)狀缺陷的(de)(de)深度信(xin)息和(he)采用點檢(jian)探(tan)頭去(qu)評定(ding)點狀缺陷的(de)(de)長度信(xin)息均(jun)是不現實(shi)的(de)(de)；高(gao)精度的(de)(de)檢(jian)測(ce)需(xu)要以大量的(de)(de)獨立(li)測(ce)量通道和(he)信(xin)號(hao)處理系(xi)統為代價，因此，應(ying)根據檢(jian)測(ce)目標綜合權衡。
