自動化不(bu)銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測探(tan)頭是磁(ci)(ci)場傳感器的載體和組合(he)，是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測信號的收(shou)集(ji)器。隨著(zhu)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測應用(yong)的不(bu)(bu)斷深(shen)入和檢(jian)(jian)測要求的逐(zhu)步提高(gao)，除(chu)了(le)磁(ci)(ci)化問題，另一個核心就是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測探(tan)頭的設(she)計。若探(tan)頭性(xing)能不(bu)(bu)好(hao)或者不(bu)(bu)合(he)適，則會(hui)出現漏(lou)判或者誤判，嚴重影(ying)響漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測的可靠(kao)性(xing)。
另一方面，沒(mei)有一種探頭(tou)是萬能的(de)。由于自然缺陷的(de)形態千(qian)變萬化，檢(jian)測(ce)(ce)探頭(tou)必然存(cun)在(zai)局(ju)限性(xing)(xing)，漏判或誤判的(de)情(qing)況在(zai)檢(jian)測(ce)(ce)實踐(jian)中時有發生。下(xia)面對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)探頭(tou)的(de)內部結構和檢(jian)測(ce)(ce)特(te)性(xing)(xing)進行分析。
一、漏磁(ci)檢測探頭的結(jie)構形式
目前(qian)，最具(ju)代表性的不銹鋼管漏磁(ci)檢測(ce)(ce)傳感器有(you)兩(liang)種：霍(huo)(huo)爾元(yuan)件(jian)和感應線圈(quan)(quan)，尤其是(shi)集成霍(huo)(huo)爾元(yuan)件(jian)和光刻(ke)平面(mian)線圈(quan)(quan)。為了獲得較高(gao)的磁(ci)場測(ce)(ce)量(liang)空(kong)間分辨力和相對寬廣的掃查范圍，檢測(ce)(ce)探頭(tou)芯結構有(you)多種形式。
1. 點檢(jian)(jian)測形式(shi) 在檢(jian)(jian)測探頭(tou)中，對(dui)某(mou)一點上或微小(xiao)區(qu)域的(de)漏(lou)磁場測量，并且每(mei)個(ge)(ge)測點對(dui)應于(yu)一個(ge)(ge)獨立的(de)信(xin)號通道，如(ru)圖(tu)3-6a所(suo)示，以下簡(jian)稱為點檢(jian)(jian)探頭(tou)。很明顯，點檢(jian)(jian)探頭(tou)中每(mei)個(ge)(ge)點能(neng)夠掃查(cha)的(de)檢(jian)(jian)測范圍很小(xiao)，但空間(jian)分辨力高(gao)，如(ru)單個(ge)(ge)霍爾元件的(de)敏感(gan)面積只有0.2×0.2m㎡，點檢(jian)(jian)用檢(jian)(jian)測線圈也可做到φ1mm內(nei)。
2. 線(xian)檢測(ce)(ce)形式 在檢測(ce)(ce)探頭(tou)中，對一(yi)條(tiao)線(xian)上的(de)(de)漏磁(ci)場進(jin)行綜合(he)測(ce)(ce)量(liang)，如圖3-6b所示，以(yi)下簡(jian)稱(cheng)為(wei)線(xian)檢探頭(tou)。例如，用感應(ying)線(xian)圈檢測(ce)(ce)時，將線(xian)圈做成條(tiao)狀，則(ze)它(ta)感應(ying)的(de)(de)是(shi)線(xian)圈掃(sao)查(cha)路徑對應(ying)空間范圍內(nei)的(de)(de)漏磁(ci)通的(de)(de)變化。用霍(huo)爾元(yuan)件檢測(ce)(ce)時，采(cai)用線(xian)陣排列(lie)，將多個元(yuan)件檢測(ce)(ce)信(xin)號用加法器疊加后輸出單個通道信(xin)號，則(ze)該信(xin)號反映的(de)(de)是(shi)霍(huo)爾元(yuan)件線(xian)陣長度內(nei)的(de)(de)磁(ci)感應(ying)強度的(de)(de)平(ping)均值(zhi)。
在(zai)漏磁檢測中，上(shang)述兩種(zhong)(zhong)形式是最基本的(de)形式，由此(ci)可以(yi)組合成多種(zhong)(zhong)形式的(de)探頭，如圖3-6c所(suo)示(shi)的(de)平面內的(de)面陣列探頭，以(yi)及圖3-6d所(suo)示(shi)的(de)多個(ge)平面上(shang)的(de)立體陣列探頭。
二、漏磁檢測探頭(tou)的檢測特(te)性
1. 缺陷類型
不(bu)銹鋼管在進行漏(lou)磁檢(jian)測方法(fa)和設(she)備的(de)考核時，常(chang)采用機(ji)加工(gong)或(huo)電火花方式刻制標準人工(gong)缺(que)陷(xian)(xian)，自然缺(que)陷(xian)(xian)可表達成(cheng)它們的(de)組合形式。為便于分析和精確評(ping)估，將標準缺(que)陷(xian)(xian)分成(cheng)下列三類。
（1）點狀缺(que)陷 點狀缺(que)陷的(de)(de)面積小，集中(zhong)在一點或小圈內，如標準(zhun)缺(que)陷里的(de)(de)通孔，自然缺(que)陷里的(de)(de)蝕坑(keng)、斑點、氣孔等，它們產生的(de)(de)漏磁場是一個集中(zhong)的(de)(de)點團狀場，分布(bu)范圍小。
（2）線狀缺(que)陷 線狀缺(que)陷的(de)(de)(de)寬長比很(hen)小，形(xing)成一條(tiao)線，如標準缺(que)陷里的(de)(de)(de)矩形(xing)刻(ke)槽、自然缺(que)陷里的(de)(de)(de)裂紋等，它(ta)們產(chan)生的(de)(de)(de)漏磁場是沿線條(tiao)的(de)(de)(de)帶狀場。
（3）體(ti)狀缺陷 體(ti)狀缺陷的(de)(de)(de)長、寬、深尺寸(cun)均較(jiao)大，形成坑或窩，如標準缺陷中的(de)(de)(de)大不通孔、自(zi)然缺陷里(li)的(de)(de)(de)片狀腐蝕等(deng)，它們產生(sheng)的(de)(de)(de)漏磁場分(fen)布(bu)范圍廣(guang)。
2. 不同(tong)結構探頭的(de)檢(jian)測特(te)性
不(bu)銹(xiu)鋼管在漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測中，特別要強調空間(jian)和(he)方向(xiang)的(de)概念。因為(wei)，漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)場(chang)是(shi)空間(jian)場(chang)，且具(ju)有(you)(you)(you)方向(xiang)性；漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測信號是(shi)時(shi)間(jian)域的(de)，且沒有(you)(you)(you)相位信息(xi)；不(bu)僅檢(jian)(jian)測探(tan)頭具(ju)有(you)(you)(you)敏(min)感方向(xiang)，而且檢(jian)(jian)測探(tan)頭的(de)掃查路徑也(ye)具(ju)有(you)(you)(you)方向(xiang)性，不(bu)同方向(xiang)均會(hui)對(dui)檢(jian)(jian)測信號及(ji)其特征產生(sheng)影(ying)響。
另一(yi)方(fang)面，應(ying)(ying)該特別注(zhu)意缺(que)陷漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)的(de)(de)表(biao)征形式，在這(zhe)里，漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)強(qiang)度(du)和(he)漏(lou)磁(ci)(ci)場(chang)梯(ti)度(du)存在著本(ben)質的(de)(de)不同。霍爾(er)元(yuan)件(jian)和(he)感(gan)應(ying)(ying)線圈兩(liang)種器件(jian)的(de)(de)應(ying)(ying)用也有著根本(ben)的(de)(de)區別。霍爾(er)元(yuan)件(jian)可(ke)(ke)以(yi)測量(liang)空間(jian)某(mou)點上的(de)(de)磁(ci)(ci)場(chang)強(qiang)度(du)，而(er)感(gan)應(ying)(ying)線圈卻(que)無(wu)法(fa)實現(xian)；感(gan)應(ying)(ying)線圈感(gan)應(ying)(ying)的(de)(de)是(shi)空間(jian)一(yi)定范圍(wei)內的(de)(de)磁(ci)(ci)通量(liang)的(de)(de)變化(hua)程(cheng)度(du)，相(xiang)反，霍爾(er)元(yuan)件(jian)不可(ke)(ke)以(yi)測量(liang)磁(ci)(ci)通量(liang)的(de)(de)變化(hua)，它測量(liang)的(de)(de)是(shi)一(yi)定空間(jian)范圍(wei)內的(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)的(de)(de)平均值(zhi)。
下面將逐一分析兩種基本(ben)探頭形式(shi)對不同類型缺陷的檢測(ce)信號特(te)性。
a. 點(dian)檢(jian)探(tan)頭的信(xin)號特性
點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)測量(liang)的(de)是(shi)空間某(mou)點(dian)(dian)(dian)上的(de)漏(lou)磁感(gan)應強(qiang)度(du)或磁通(tong)量(liang)的(de)變化。點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)對點(dian)(dian)(dian)狀缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)測是(shi)“針尖對麥芒(mang)”，空間相對位置的(de)微小變化，均有可能引起檢(jian)(jian)測信號幅度(du)的(de)波動(dong)。點(dian)(dian)(dian)狀缺(que)陷(xian)的(de)漏(lou)磁場分(fen)布是(shi)尖峰狀的(de)，當點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)正對峰頂時，信號幅度(du)最(zui)大，偏離時信號幅度(du)將急劇下降。因(yin)此，用點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)去檢(jian)(jian)測點(dian)(dian)(dian)狀缺(que)陷(xian)時將會產生不穩定(ding)的(de)信號，導致誤(wu)判或漏(lou)判。進行檢(jian)(jian)測設備標定(ding)時，也難(nan)將各通(tong)道的(de)靈(ling)敏度(du)調整到一致。
點檢(jian)(jian)探頭檢(jian)(jian)測(ce)線(xian)狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian)時，很容易掃查到(dao)線(xian)狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian)產生的(de)(de)(de)“山脈”狀漏(lou)磁場(chang)的(de)(de)(de)某一(yi)個縱斷面，檢(jian)(jian)測(ce)信號(hao)幅度(du)將正比(bi)于(yu)線(xian)狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)深度(du)。當線(xian)狀缺(que)陷(xian)(xian)(xian)長度(du)大(da)于(yu)一(yi)定值時，設備標定或檢(jian)(jian)測(ce)信號(hao)的(de)(de)(de)一(yi)致性和穩定性均(jun)較(jiao)好。
b. 線檢(jian)探(tan)頭的信(xin)號特(te)性
線檢探(tan)(tan)頭測量的(de)是(shi)探(tan)(tan)頭長(chang)度(du)范圍內(nei)的(de)平(ping)均磁感應強度(du)或磁通量的(de)變化(hua)。與(yu)點檢探(tan)(tan)頭相比，線檢探(tan)(tan)頭的(de)輸出信號(hao)特性不(bu)但(dan)與(yu)缺(que)陷的(de)深(shen)(shen)度(du)有(you)關，而(er)且與(yu)缺(que)陷的(de)長(chang)度(du)有(you)關，最終與(yu)缺(que)陷缺(que)失的(de)截(jie)面(mian)積成比例(li)。這(zhe)類探(tan)(tan)頭不(bu)能直接(jie)獲得與(yu)缺(que)陷深(shen)(shen)度(du)相關的(de)信息，因為長(chang)而(er)淺的(de)缺(que)陷與(yu)短而(er)深(shen)(shen)的(de)缺(que)陷在檢測信號(hao)幅度(du)上有(you)可能是(shi)一樣的(de)。
線檢探頭(tou)對點狀(zhuang)缺(que)(que)陷的(de)檢測是“滴水不(bu)漏”。由于(yu)(yu)線檢探頭(tou)的(de)長(chang)(chang)度(du)(du)遠大于(yu)(yu)點狀(zhuang)缺(que)(que)陷的(de)長(chang)(chang)度(du)(du)，在檢測路徑上，缺(que)(que)陷相對于(yu)(yu)探頭(tou)位置(zhi)變(bian)化時，不(bu)會影響檢測信號的(de)幅度(du)(du)，因(yin)而一致性較好(hao)。
線(xian)檢探頭檢測線(xian)狀缺陷時，情況(kuang)較為復(fu)雜(za)，探頭與缺陷的(de)長度比以及位置(zhi)關(guan)系均會(hui)影(ying)響信號幅(fu)值(zhi)。下面舉(ju)例分析。
如(ru)圖(tu)3-7a所示，用(yong)有效(xiao)長度為25mm的(de)(de)(de)(de)(de)(de)線(xian)檢探(tan)頭檢測(ce)(ce)25mm長的(de)(de)(de)(de)(de)(de)刻(ke)(ke)槽(cao)。當(dang)探(tan)頭正對刻(ke)(ke)槽(cao)時，獲得(de)最大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號幅(fu)值；當(dang)探(tan)頭與刻(ke)(ke)槽(cao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置錯開時，信號幅(fu)值將隨(sui)著探(tan)頭與缺(que)(que)陷交叉(cha)重疊程度的(de)(de)(de)(de)(de)(de)減(jian)小而減(jian)弱，此種狀(zhuang)態對檢測(ce)(ce)是(shi)不(bu)利的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，不(bu)論(lun)是(shi)設備標定還(huan)是(shi)檢測(ce)(ce)應用(yong)均很難獲得(de)一(yi)致(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)信號。圖(tu)3-7中(zhong)左邊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)粗線(xian)段為線(xian)檢探(tan)頭，中(zhong)間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)細(xi)線(xian)段為不(bu)同位置的(de)(de)(de)(de)(de)(de)線(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷，右邊為不(bu)同探(tan)頭的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)信號幅(fu)度。為實現線(xian)檢探(tan)頭的(de)(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)致(zhi)性檢測(ce)(ce)，有如(ru)下(xia)兩種做法：
①. 減小(xiao)線檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)的(de)(de)有效長度，讓它小(xiao)于或等于線狀缺陷長度的(de)(de)一半，同時(shi)將相鄰檢(jian)(jian)測探頭(tou)(tou)按(an)50％重疊布置，如圖3-7b所示。可以(yi)看出，不論缺陷從哪個(ge)路徑(jing)通過探頭(tou)(tou)陣列，均(jun)可在(zai)某一檢(jian)(jian)測單(dan)(dan)元(yuan)中獲得一個(ge)最(zui)大的(de)(de)信(xin)號(hao)幅值(zhi)，而在(zai)其他(ta)檢(jian)(jian)測單(dan)(dan)元(yuan)中得到較(jiao)小(xiao)的(de)(de)信(xin)號(hao)幅值(zhi)。
此時(shi)，由于線(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)長度(du)遠(yuan)大于探頭長度(du)，檢測探頭測量的是漏(lou)磁場“山脈(mo)”中(zhong)的某一(yi)段(duan)，如(ru)果線(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)深(shen)度(du)一(yi)致，它(ta)可以直接反映出深(shen)度(du)信息(xi)。將線(xian)檢探頭的長度(du)再不斷縮小，線(xian)檢探頭則(ze)變成點檢探頭。此時(shi)，在采(cai)用標(biao)準(zhun)人(ren)工缺(que)(que)陷(xian)進行設備標(biao)定(ding)時(shi)，任何狀態(tai)均可得(de)到(dao)一(yi)致的檢測信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此(ci)種(zhong)檢測方法測量的(de)是(shi)線(xian)狀缺(que)(que)陷的(de)平均磁(ci)感應強度，因而，它(ta)反(fan)映不了線(xian)狀缺(que)(que)陷的(de)深度信(xin)息(xi)。當缺(que)(que)陷的(de)長(chang)度逐漸(jian)減小(xiao)時，則轉變成線(xian)檢探頭(tou)對(dui)點狀缺(que)(que)陷的(de)檢測。
3. 面向對象的(de)檢測探頭設(she)計和選用(yong)
在漏磁檢測中，應該(gai)根據具(ju)體(ti)的檢測要求來設計(ji)和選(xuan)擇合適(shi)的探頭芯(xin)結構，下面給(gei)出幾種探頭設計(ji)和選(xuan)用原則(ze)。
a. 缺(que)陷(xian)(xian)的(de)深(shen)度檢(jian)測(ce)應該選擇(ze)點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭 點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭反映的(de)是局部磁感(gan)應強度或其變化。當裂(lie)紋較長時，測(ce)點(dian)(dian)相當于對無限長矩形槽的(de)探(tan)測(ce)，因而，測(ce)點(dian)(dian)的(de)信號幅度與缺(que)陷(xian)(xian)深(shen)度密切相關。但是，當線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)越(yue)(yue)來越(yue)(yue)短時，測(ce)量的(de)誤差(cha)也就越(yue)(yue)來越(yue)(yue)大，特別(bie)地，對點(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)深(shen)度探(tan)測(ce)幾乎不可(ke)能(neng)。
在鋼管漏(lou)磁(ci)檢測(ce)校樣(yang)過程(cheng)中，一般均以通(tong)孔(kong)(kong)作為標定(ding)試樣(yang)上的(de)(de)(de)標準缺(que)陷，這(zhe)樣(yang)，大、小孔(kong)(kong)的(de)(de)(de)深(shen)(shen)度一致(zhi)，孔(kong)(kong)徑尺寸反(fan)映出缺(que)失截面積的(de)(de)(de)線性變化(hua)，因而(er)，漏(lou)磁(ci)磁(ci)通(tong)量(liang)也(ye)將發(fa)生(sheng)線性變化(hua)。對于不(bu)通(tong)孔(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)的(de)(de)(de)深(shen)(shen)度和直徑均為變量(liang)時，僅通(tong)過尋找孔(kong)(kong)深(shen)(shen)與孔(kong)(kong)徑的(de)(de)(de)乘積與信號幅度關系去(qu)反(fan)演或推(tui)算深(shen)(shen)度是不(bu)可能的(de)(de)(de)。這(zhe)也(ye)是僅采用漏(lou)磁(ci)方法進行檢測(ce)的(de)(de)(de)不(bu)足(zu)。
b. 缺(que)陷的(de)損失截面積(ji)檢(jian)測(ce)應(ying)該選(xuan)擇(ze)線檢(jian)探(tan)頭(tou) 線檢(jian)探(tan)頭(tou)的(de)信(xin)號幅(fu)度與缺(que)陷損失的(de)截面積(ji)成比例，因而有較好的(de)測(ce)量精度。在有些檢(jian)測(ce)對象(xiang)中應(ying)用較好。
c. 缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)長(chang)度檢(jian)測應(ying)該用(yong)點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣(zhen)列(lie)(lie)(lie)或點(dian)(dian)(dian)線(xian)組合式(shi)探(tan)頭(tou)(tou)(tou) 點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)敏感于(yu)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)深度，當(dang)采(cai)用(yong)點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣(zhen)列(lie)(lie)(lie)時(shi)，缺陷(xian)(xian)長(chang)度覆(fu)蓋的(de)(de)(de)通道數量可(ke)以反(fan)映(ying)其長(chang)度信息(xi)；另一方面，當(dang)線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)大(da)于(yu)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)長(chang)度時(shi)，感應(ying)的(de)(de)(de)是(shi)深度和長(chang)度的(de)(de)(de)共(gong)同(tong)信息(xi)，如在其感應(ying)范圍內并列(lie)(lie)(lie)布置一個(ge)或多個(ge)點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)感受深度信息(xi)，則裂紋的(de)(de)(de)長(chang)度就可(ke)以計(ji)算出(chu)來(lai)。
從信號處(chu)理角度來看，點線組(zu)合式探頭需要(yao)的通道數量較少，可以同時(shi)獲得缺陷的深度、長度、缺失截(jie)面積(ji)等信息，具有較強的應(ying)用價值(zhi)。
d. 斜向(xiang)裂紋采用(yong)點(dian)檢(jian)探頭(tou)陣列檢(jian)測(ce) 在漏磁(ci)檢(jian)測(ce)中，當缺陷走(zou)(zou)向(xiang)與(yu)磁(ci)化(hua)場方向(xiang)不垂(chui)直(zhi)時，漏磁(ci)場的強度(du)將降(jiang)低(di)，從而(er)獲得較小的信號幅值。因此(ci)，斜向(xiang)缺陷的檢(jian)測(ce)與(yu)評估(gu)，需要(yao)首(shou)先檢(jian)測(ce)出裂紋的走(zou)(zou)向(xiang)，并且根據走(zou)(zou)向(xiang)修(xiu)正漏磁(ci)場信號幅度(du)，再(zai)進(jin)行深度(du)判別(bie)。
另一方面，當(dang)探(tan)頭掃(sao)查路徑(jing)垂(chui)直(zhi)于缺(que)陷走(zou)向(xiang)時(shi)，檢測(ce)信(xin)號(hao)幅(fu)值(zhi)最大(da)(da)；隨(sui)著(zhu)兩(liang)者夾角不斷減小(xiao)，檢測(ce)信(xin)號(hao)幅(fu)值(zhi)逐(zhu)漸降(jiang)低，同時(shi)信(xin)號(hao)特(te)性(xing)也將發生明(ming)顯變化。此(ci)時(shi)，線檢探(tan)頭的檢測(ce)信(xin)號(hao)特(te)性(xing)變化很大(da)(da)，點檢探(tan)頭的信(xin)號(hao)幅(fu)度波動(dong)卻很小(xiao)。因此(ci)，可(ke)利用點檢探(tan)頭陣列中各通道獲得(de)最大(da)(da)幅(fu)值(zhi)的時(shi)間差異來推算缺(que)陷走(zou)向(xiang)，為后續的信(xin)號(hao)補(bu)償與缺(que)陷判別奠定(ding)基礎，如圖3-8所示(shi)。
漏(lou)(lou)磁設(she)備(bei)的(de)檢測(ce)(ce)能力與探頭芯結(jie)構密切(qie)相關，從目前應用情況(kuang)來看，漏(lou)(lou)磁檢測(ce)(ce)方(fang)(fang)法(fa)對內外部(bu)腐蝕(shi)坑、內外部(bu)周／軸向裂(lie)紋(wen)均有(you)較好的(de)檢測(ce)(ce)精度，同時(shi)，對斜向裂(lie)紋(wen)具有(you)一定(ding)的(de)檢測(ce)(ce)能力。但(dan)是(shi)，漏(lou)(lou)磁檢測(ce)(ce)方(fang)(fang)法(fa)對微裂(lie)紋(wen)，如初期的(de)疲勞裂(lie)紋(wen)、熱處理(li)的(de)應力裂(lie)紋(wen)、軋制時(shi)的(de)微機械裂(lie)紋(wen)和折疊不太敏感。究其(qi)原因，微裂(lie)紋(wen)的(de)開口均小于0.05mm，漏(lou)(lou)磁場(chang)強度較低，因此，有(you)必要(yao)輔(fu)以渦流、超(chao)聲等其(qi)他檢測(ce)(ce)方(fang)(fang)法(fa)。
我國進口(kou)漏磁檢測設備采用的基本都是(shi)基于線圈的線檢探頭，這種配置需(xu)要(yao)的信號通(tong)道數量相對(dui)(dui)較少、探靴的有效覆(fu)蓋范(fan)圍大。但是(shi)，這種方式對(dui)(dui)缺(que)陷的深度評定(ding)需(xu)要(yao)一定(ding)的輔助條(tiao)件(jian)，而(er)且對(dui)(dui)斜向缺(que)陷的檢測靈敏度較低。
在(zai)具體應(ying)(ying)用(yong)過(guo)程中，首先應(ying)(ying)分析檢(jian)測(ce)要(yao)(yao)求和對象特點，其次要(yao)(yao)認識探(tan)(tan)頭(tou)芯的(de)(de)形式和結構。總的(de)(de)來(lai)講(jiang)，采(cai)用(yong)線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)去檢(jian)測(ce)線狀(zhuang)缺陷的(de)(de)深度(du)信(xin)息和采(cai)用(yong)點檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)去評定點狀(zhuang)缺陷的(de)(de)長度(du)信(xin)息均是不現實的(de)(de)；高精度(du)的(de)(de)檢(jian)測(ce)需(xu)要(yao)(yao)以大量(liang)的(de)(de)獨立測(ce)量(liang)通道和信(xin)號處理系(xi)統為代價(jia)，因此，應(ying)(ying)根據檢(jian)測(ce)目標綜合權衡。
