自動化不銹(xiu)鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭是磁(ci)(ci)場傳感(gan)器的(de)(de)(de)載體和組合(he)，是漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信號的(de)(de)(de)收集器。隨(sui)著漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)應用的(de)(de)(de)不斷深入和檢(jian)(jian)測(ce)(ce)要求(qiu)的(de)(de)(de)逐步提(ti)高，除了磁(ci)(ci)化問(wen)題，另一(yi)個核心就(jiu)是漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭的(de)(de)(de)設計。若探(tan)(tan)頭性能不好或者(zhe)不合(he)適，則會出現漏(lou)(lou)判或者(zhe)誤判，嚴重影響漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)可靠性。
另一方面，沒有一種探頭是萬能的。由(you)于(yu)自然缺陷的形(xing)態千變萬化(hua)，檢(jian)(jian)測(ce)探頭必然存(cun)在局(ju)限性，漏判或誤判的情況(kuang)在檢(jian)(jian)測(ce)實(shi)踐(jian)中時有發(fa)生。下面對(dui)檢(jian)(jian)測(ce)探頭的內部結構和檢(jian)(jian)測(ce)特性進行分析。
一(yi)、漏磁(ci)檢測探(tan)頭(tou)的結構形式(shi)
目前(qian)，最具代表性(xing)的(de)不銹鋼管(guan)漏磁檢測(ce)傳感(gan)器有兩種：霍爾(er)元件和感(gan)應線(xian)圈，尤其是集(ji)成霍爾(er)元件和光刻平面線(xian)圈。為了獲得較(jiao)高的(de)磁場測(ce)量空間(jian)分辨力和相(xiang)對寬(kuan)廣的(de)掃查范圍，檢測(ce)探頭芯結構有多種形式。
1. 點(dian)檢測(ce)形式 在檢測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)中(zhong)，對(dui)某一點(dian)上或微小區域的(de)漏磁場測(ce)量(liang)，并且(qie)每個測(ce)點(dian)對(dui)應于一個獨立的(de)信號(hao)通道，如(ru)圖(tu)3-6a所示，以下(xia)簡稱為點(dian)檢探(tan)頭(tou)(tou)。很明(ming)顯，點(dian)檢探(tan)頭(tou)(tou)中(zhong)每個點(dian)能夠掃查的(de)檢測(ce)范圍很小，但空間分辨力(li)高，如(ru)單個霍(huo)爾元件的(de)敏感面積只(zhi)有0.2×0.2m㎡，點(dian)檢用(yong)檢測(ce)線圈也可做到φ1mm內(nei)。
2. 線(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)形式 在檢(jian)測(ce)(ce)探頭(tou)中，對一條線(xian)(xian)上的(de)漏磁(ci)場進(jin)行(xing)綜合測(ce)(ce)量(liang)，如圖3-6b所示(shi)，以下(xia)簡稱為線(xian)(xian)檢(jian)探頭(tou)。例(li)如，用感(gan)應線(xian)(xian)圈(quan)檢(jian)測(ce)(ce)時(shi)，將線(xian)(xian)圈(quan)做成條狀(zhuang)，則(ze)它感(gan)應的(de)是(shi)線(xian)(xian)圈(quan)掃查(cha)路徑對應空間(jian)范圍內(nei)的(de)漏磁(ci)通的(de)變化。用霍爾元件(jian)(jian)檢(jian)測(ce)(ce)時(shi)，采用線(xian)(xian)陣(zhen)排列，將多個元件(jian)(jian)檢(jian)測(ce)(ce)信(xin)號用加(jia)法器疊加(jia)后輸出單(dan)個通道(dao)信(xin)號，則(ze)該信(xin)號反映的(de)是(shi)霍爾元件(jian)(jian)線(xian)(xian)陣(zhen)長度(du)(du)內(nei)的(de)磁(ci)感(gan)應強度(du)(du)的(de)平均值。
在漏磁檢(jian)測中，上述兩種形式(shi)(shi)是最基本(ben)的(de)形式(shi)(shi)，由此可以(yi)組合成(cheng)多種形式(shi)(shi)的(de)探頭(tou)，如圖(tu)3-6c所(suo)示的(de)平面內的(de)面陣列探頭(tou)，以(yi)及圖(tu)3-6d所(suo)示的(de)多個(ge)平面上的(de)立體陣列探頭(tou)。
二、漏磁檢測(ce)探頭的(de)檢測(ce)特(te)性
1. 缺陷類型
不銹鋼管(guan)在(zai)進行漏磁檢測(ce)方法和(he)設(she)備(bei)的考核時(shi)，常采用機加工或(huo)電火(huo)花(hua)方式(shi)刻制標準(zhun)人工缺(que)(que)陷(xian)，自(zi)然缺(que)(que)陷(xian)可表達成(cheng)它(ta)們的組合(he)形式(shi)。為便于(yu)分析和(he)精(jing)確評估(gu)，將(jiang)標準(zhun)缺(que)(que)陷(xian)分成(cheng)下列(lie)三類。
（1）點狀(zhuang)缺陷(xian) 點狀(zhuang)缺陷(xian)的面積小，集中(zhong)在一(yi)點或小圈內，如標(biao)準缺陷(xian)里的通孔(kong)，自然(ran)缺陷(xian)里的蝕坑(keng)、斑點、氣孔(kong)等，它們產生的漏磁場是(shi)一(yi)個集中(zhong)的點團狀(zhuang)場，分布范圍小。
（2）線狀(zhuang)缺陷 線狀(zhuang)缺陷的(de)寬長(chang)比很小，形成一(yi)條線，如標準缺陷里的(de)矩(ju)形刻槽、自然缺陷里的(de)裂紋等，它(ta)們產生的(de)漏磁場(chang)是(shi)沿線條的(de)帶狀(zhuang)場(chang)。
（3）體狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian) 體狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷(xian)的長、寬、深尺寸均較(jiao)大，形成(cheng)坑或窩(wo)，如標準(zhun)缺(que)陷(xian)中的大不通孔、自(zi)然缺(que)陷(xian)里的片狀(zhuang)(zhuang)腐蝕等，它(ta)們(men)產(chan)生的漏磁(ci)場分布范圍廣。
2. 不同結構探頭(tou)的(de)檢測特性
不(bu)銹(xiu)鋼管在漏(lou)磁(ci)檢(jian)測中，特別要強調(diao)空(kong)間和(he)方向的概念。因為，漏(lou)磁(ci)場是(shi)空(kong)間場，且(qie)具有(you)方向性(xing)；漏(lou)磁(ci)檢(jian)測信(xin)號是(shi)時間域的，且(qie)沒有(you)相位信(xin)息(xi)；不(bu)僅(jin)檢(jian)測探(tan)頭具有(you)敏感方向，而(er)且(qie)檢(jian)測探(tan)頭的掃(sao)查路徑(jing)也具有(you)方向性(xing)，不(bu)同方向均會對檢(jian)測信(xin)號及其特征產生影響(xiang)。
另一方面，應(ying)(ying)(ying)(ying)該特別注意缺陷(xian)漏(lou)磁(ci)(ci)場的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表征形式，在這里，漏(lou)磁(ci)(ci)場強度(du)和(he)漏(lou)磁(ci)(ci)場梯(ti)度(du)存在著本質的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)不同。霍(huo)爾(er)(er)元(yuan)件(jian)和(he)感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)線圈兩種器件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)應(ying)(ying)(ying)(ying)用也有著根本的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)區別。霍(huo)爾(er)(er)元(yuan)件(jian)可(ke)以測(ce)量(liang)(liang)空間某點上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)場強度(du)，而(er)感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)線圈卻無法實現(xian)；感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)線圈感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是空間一定范(fan)圍內(nei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)變化(hua)程度(du)，相(xiang)反，霍(huo)爾(er)(er)元(yuan)件(jian)不可(ke)以測(ce)量(liang)(liang)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)變化(hua)，它測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是一定空間范(fan)圍內(nei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)強度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)平均值。
下面將逐一分(fen)析兩種基本(ben)探頭(tou)形式(shi)對不同(tong)類(lei)型缺陷的檢測信號特性。
a. 點檢探頭(tou)的信號(hao)特性
點(dian)檢(jian)探頭(tou)測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)是(shi)空(kong)間某點(dian)上的(de)(de)(de)漏(lou)磁感應強度或(huo)磁通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)變(bian)化。點(dian)檢(jian)探頭(tou)對(dui)(dui)點(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)是(shi)“針尖對(dui)(dui)麥芒”，空(kong)間相對(dui)(dui)位置的(de)(de)(de)微小變(bian)化，均有可能引起檢(jian)測(ce)信(xin)號幅度的(de)(de)(de)波動(dong)。點(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)漏(lou)磁場分布是(shi)尖峰狀(zhuang)(zhuang)的(de)(de)(de)，當點(dian)檢(jian)探頭(tou)正對(dui)(dui)峰頂時(shi)，信(xin)號幅度最大，偏離(li)時(shi)信(xin)號幅度將急劇下降。因此，用點(dian)檢(jian)探頭(tou)去檢(jian)測(ce)點(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷時(shi)將會產生不(bu)穩定(ding)的(de)(de)(de)信(xin)號，導致誤(wu)判或(huo)漏(lou)判。進行檢(jian)測(ce)設備標(biao)定(ding)時(shi)，也(ye)難(nan)將各通道的(de)(de)(de)靈敏度調(diao)整到一致。
點檢(jian)探頭檢(jian)測線狀缺(que)陷時(shi)，很容(rong)易(yi)掃查(cha)到線狀缺(que)陷產(chan)生(sheng)的“山脈”狀漏磁場的某一(yi)個(ge)縱斷面，檢(jian)測信號(hao)幅度(du)將正比于(yu)(yu)線狀缺(que)陷的深(shen)度(du)。當線狀缺(que)陷長度(du)大于(yu)(yu)一(yi)定值(zhi)時(shi)，設備標定或檢(jian)測信號(hao)的一(yi)致性和穩定性均較好。
b. 線(xian)檢探頭的信號特性(xing)
線(xian)檢(jian)探(tan)頭測(ce)量(liang)(liang)的是探(tan)頭長(chang)度(du)范圍內的平均(jun)磁感應強度(du)或磁通(tong)量(liang)(liang)的變化。與(yu)點檢(jian)探(tan)頭相比，線(xian)檢(jian)探(tan)頭的輸出(chu)信(xin)號(hao)特(te)性不但(dan)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)的深(shen)度(du)有(you)關(guan)，而且(qie)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)的長(chang)度(du)有(you)關(guan)，最終與(yu)缺(que)(que)陷(xian)缺(que)(que)失的截(jie)面(mian)積成比例。這類探(tan)頭不能直接(jie)獲得(de)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)深(shen)度(du)相關(guan)的信(xin)息，因為長(chang)而淺的缺(que)(que)陷(xian)與(yu)短而深(shen)的缺(que)(que)陷(xian)在檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)幅度(du)上有(you)可能是一樣的。
線檢(jian)(jian)探頭對(dui)點(dian)狀缺(que)陷的檢(jian)(jian)測(ce)是(shi)“滴水不漏”。由于線檢(jian)(jian)探頭的長度遠大于點(dian)狀缺(que)陷的長度，在檢(jian)(jian)測(ce)路(lu)徑上，缺(que)陷相對(dui)于探頭位置變化時(shi)，不會影響檢(jian)(jian)測(ce)信號(hao)的幅度，因而一致性(xing)較好。
線檢(jian)探頭檢(jian)測線狀缺(que)陷時，情況較(jiao)為(wei)復雜，探頭與(yu)缺(que)陷的長度比以(yi)及位置(zhi)關系均會影響信(xin)號幅值。下面(mian)舉例分(fen)析。
如(ru)圖3-7a所示，用(yong)(yong)有(you)效長度(du)為25mm的(de)線(xian)檢(jian)探(tan)頭檢(jian)測25mm長的(de)刻(ke)槽。當探(tan)頭正對刻(ke)槽時，獲(huo)得最大的(de)信(xin)號(hao)幅值；當探(tan)頭與刻(ke)槽的(de)位置錯(cuo)開時，信(xin)號(hao)幅值將隨著探(tan)頭與缺陷交(jiao)叉(cha)重疊程度(du)的(de)減小而(er)減弱，此(ci)種(zhong)狀態對檢(jian)測是(shi)(shi)不(bu)利的(de)，不(bu)論是(shi)(shi)設備標定還是(shi)(shi)檢(jian)測應用(yong)(yong)均很難(nan)獲(huo)得一致(zhi)的(de)檢(jian)測信(xin)號(hao)。圖3-7中左(zuo)邊的(de)粗線(xian)段為線(xian)檢(jian)探(tan)頭，中間的(de)細線(xian)段為不(bu)同(tong)位置的(de)線(xian)狀缺陷，右(you)邊為不(bu)同(tong)探(tan)頭的(de)檢(jian)測信(xin)號(hao)幅度(du)。為實現線(xian)檢(jian)探(tan)頭的(de)一致(zhi)性檢(jian)測，有(you)如(ru)下兩種(zhong)做法：
①. 減小線檢探(tan)(tan)頭的有效長度，讓它(ta)小于(yu)或等于(yu)線狀缺陷長度的一(yi)半(ban)，同時將相鄰(lin)檢測探(tan)(tan)頭按(an)50％重疊布置(zhi)，如(ru)圖3-7b所(suo)示。可以看出，不(bu)論缺陷從哪個路徑(jing)通過(guo)探(tan)(tan)頭陣列，均可在某一(yi)檢測單元中(zhong)獲得(de)一(yi)個最大的信(xin)號幅(fu)值，而在其他檢測單元中(zhong)得(de)到較小的信(xin)號幅(fu)值。
此(ci)時，由(you)于線(xian)狀(zhuang)缺陷長度遠大于探(tan)頭(tou)(tou)長度，檢測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)測(ce)量的是漏磁場“山脈(mo)”中的某一段，如果線(xian)狀(zhuang)缺陷深度一致，它可以(yi)直接反映出深度信(xin)息。將線(xian)檢探(tan)頭(tou)(tou)的長度再不斷(duan)縮小，線(xian)檢探(tan)頭(tou)(tou)則變成(cheng)點(dian)檢探(tan)頭(tou)(tou)。此(ci)時，在采用標準人工缺陷進行設備標定(ding)時，任(ren)何(he)狀(zhuang)態均可得到(dao)一致的檢測(ce)信(xin)號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢(jian)測(ce)方法測(ce)量的(de)是線(xian)狀缺陷(xian)(xian)的(de)平均(jun)磁(ci)感(gan)應強(qiang)度(du)，因而(er)，它反映(ying)不了(le)線(xian)狀缺陷(xian)(xian)的(de)深度(du)信(xin)息。當缺陷(xian)(xian)的(de)長度(du)逐漸減小時，則轉變成線(xian)檢(jian)探頭(tou)對點狀缺陷(xian)(xian)的(de)檢(jian)測(ce)。
3. 面向對象的檢測探頭設計和選用
在漏磁檢(jian)測中，應該根(gen)據具體的(de)檢(jian)測要求來(lai)設(she)(she)計(ji)和選擇合適的(de)探(tan)頭芯(xin)結構，下面給(gei)出幾種(zhong)探(tan)頭設(she)(she)計(ji)和選用原則。
a. 缺(que)陷的(de)深度(du)(du)檢測(ce)應(ying)該選擇點(dian)(dian)(dian)檢探(tan)頭(tou) 點(dian)(dian)(dian)檢探(tan)頭(tou)反映的(de)是局部磁感應(ying)強度(du)(du)或(huo)其(qi)變(bian)化。當裂紋較(jiao)長時(shi)，測(ce)點(dian)(dian)(dian)相當于對無限(xian)長矩形槽的(de)探(tan)測(ce)，因而(er)，測(ce)點(dian)(dian)(dian)的(de)信號幅度(du)(du)與缺(que)陷深度(du)(du)密切相關(guan)。但是，當線狀缺(que)陷越(yue)(yue)來(lai)越(yue)(yue)短時(shi)，測(ce)量的(de)誤差(cha)也就越(yue)(yue)來(lai)越(yue)(yue)大(da)，特別(bie)地，對點(dian)(dian)(dian)狀缺(que)陷的(de)深度(du)(du)探(tan)測(ce)幾(ji)乎(hu)不可能(neng)。
在鋼管漏磁(ci)檢測校樣過(guo)(guo)程中，一般均以通(tong)(tong)孔(kong)(kong)作(zuo)為標定(ding)試樣上的(de)(de)標準缺(que)陷，這樣，大、小(xiao)孔(kong)(kong)的(de)(de)深(shen)度(du)一致，孔(kong)(kong)徑(jing)尺(chi)寸反映出缺(que)失截面積(ji)的(de)(de)線(xian)性(xing)變化(hua)，因(yin)而(er)，漏磁(ci)磁(ci)通(tong)(tong)量(liang)也(ye)將發生線(xian)性(xing)變化(hua)。對(dui)于(yu)不通(tong)(tong)孔(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)的(de)(de)深(shen)度(du)和直徑(jing)均為變量(liang)時，僅通(tong)(tong)過(guo)(guo)尋找孔(kong)(kong)深(shen)與孔(kong)(kong)徑(jing)的(de)(de)乘積(ji)與信(xin)號(hao)幅度(du)關系去反演或推(tui)算深(shen)度(du)是不可能的(de)(de)。這也(ye)是僅采用漏磁(ci)方法(fa)進行檢測的(de)(de)不足。
b. 缺陷的(de)損失截(jie)面(mian)積(ji)檢測應該(gai)選擇線檢探頭(tou)(tou) 線檢探頭(tou)(tou)的(de)信號幅度(du)與缺陷損失的(de)截(jie)面(mian)積(ji)成比例，因而有(you)較好(hao)(hao)的(de)測量精度(du)。在有(you)些檢測對象中應用(yong)較好(hao)(hao)。
c. 缺(que)陷(xian)的(de)(de)長(chang)(chang)(chang)度(du)檢(jian)測應該用(yong)點檢(jian)探頭(tou)陣列(lie)(lie)或點線組合式探頭(tou) 點檢(jian)探頭(tou)敏感(gan)(gan)于(yu)缺(que)陷(xian)的(de)(de)深(shen)度(du)，當采用(yong)點檢(jian)探頭(tou)陣列(lie)(lie)時，缺(que)陷(xian)長(chang)(chang)(chang)度(du)覆(fu)蓋的(de)(de)通道數量可以(yi)(yi)反映其(qi)長(chang)(chang)(chang)度(du)信息；另一方面，當線檢(jian)探頭(tou)大(da)于(yu)缺(que)陷(xian)的(de)(de)長(chang)(chang)(chang)度(du)時，感(gan)(gan)應的(de)(de)是(shi)深(shen)度(du)和(he)長(chang)(chang)(chang)度(du)的(de)(de)共同信息，如(ru)在其(qi)感(gan)(gan)應范(fan)圍(wei)內并列(lie)(lie)布置一個或多個點檢(jian)探頭(tou)感(gan)(gan)受深(shen)度(du)信息，則裂紋的(de)(de)長(chang)(chang)(chang)度(du)就可以(yi)(yi)計(ji)算出來。
從信(xin)(xin)號處理角度來看，點線組合(he)式探頭需要的通道數量較(jiao)少，可(ke)以同時獲得(de)缺(que)陷的深度、長度、缺(que)失截面積等信(xin)(xin)息，具有較(jiao)強的應用價(jia)值。
d. 斜向(xiang)(xiang)裂(lie)紋采用(yong)點檢探頭陣列檢測(ce) 在漏(lou)(lou)磁(ci)檢測(ce)中，當缺(que)陷(xian)走(zou)向(xiang)(xiang)與磁(ci)化場(chang)方向(xiang)(xiang)不垂直時，漏(lou)(lou)磁(ci)場(chang)的強度(du)(du)將降(jiang)低(di)，從而獲(huo)得較(jiao)小(xiao)的信(xin)號幅值。因此(ci)，斜向(xiang)(xiang)缺(que)陷(xian)的檢測(ce)與評(ping)估，需要首先檢測(ce)出裂(lie)紋的走(zou)向(xiang)(xiang)，并且根(gen)據走(zou)向(xiang)(xiang)修正漏(lou)(lou)磁(ci)場(chang)信(xin)號幅度(du)(du)，再進行(xing)深(shen)度(du)(du)判別(bie)。
另一(yi)方面(mian)，當(dang)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)掃查路徑垂直于缺陷走(zou)向(xiang)時，檢測信(xin)號(hao)(hao)(hao)幅值(zhi)最大；隨著兩者夾(jia)角不斷減小(xiao)(xiao)，檢測信(xin)號(hao)(hao)(hao)幅值(zhi)逐漸(jian)降低(di)，同時信(xin)號(hao)(hao)(hao)特性也(ye)將發生明(ming)顯(xian)變化(hua)。此(ci)時，線檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)檢測信(xin)號(hao)(hao)(hao)特性變化(hua)很大，點(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)幅度波(bo)動(dong)卻很小(xiao)(xiao)。因此(ci)，可(ke)利(li)用點(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)陣列中各通道獲(huo)得最大幅值(zhi)的(de)(de)時間(jian)差異來推算缺陷走(zou)向(xiang)，為后續的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)補償與缺陷判(pan)別奠定(ding)基礎，如圖3-8所示。
漏(lou)磁(ci)(ci)設備(bei)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)能力與探頭芯結構密切(qie)相(xiang)關，從目前應用(yong)情況(kuang)來看，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)對(dui)(dui)內外部腐(fu)蝕(shi)坑、內外部周／軸向(xiang)裂紋(wen)(wen)(wen)均(jun)有較好(hao)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)精度，同(tong)時(shi)，對(dui)(dui)斜向(xiang)裂紋(wen)(wen)(wen)具有一定的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)能力。但是，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)對(dui)(dui)微裂紋(wen)(wen)(wen)，如初期的(de)(de)(de)(de)疲(pi)勞裂紋(wen)(wen)(wen)、熱(re)處(chu)理的(de)(de)(de)(de)應力裂紋(wen)(wen)(wen)、軋制(zhi)時(shi)的(de)(de)(de)(de)微機械裂紋(wen)(wen)(wen)和折疊不太(tai)敏感。究其原因，微裂紋(wen)(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)開口均(jun)小于0.05mm，漏(lou)磁(ci)(ci)場強度較低，因此，有必要輔以(yi)渦流、超(chao)聲等(deng)其他檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)。
我(wo)國進(jin)口漏磁檢測設備(bei)采用的(de)(de)基本都是基于線(xian)圈的(de)(de)線(xian)檢探(tan)頭，這(zhe)種(zhong)配置(zhi)需要的(de)(de)信號通道數量相對(dui)較少(shao)、探(tan)靴(xue)的(de)(de)有效覆蓋(gai)范圍大。但(dan)是，這(zhe)種(zhong)方式對(dui)缺陷(xian)的(de)(de)深度(du)評定(ding)需要一定(ding)的(de)(de)輔(fu)助條件，而(er)且(qie)對(dui)斜(xie)向缺陷(xian)的(de)(de)檢測靈敏(min)度(du)較低(di)。
在具(ju)體應用過程中，首先應分析檢(jian)(jian)測(ce)要求(qiu)和對象特點(dian)，其次要認識探(tan)頭芯的(de)(de)形式和結構。總的(de)(de)來(lai)講，采用線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭去(qu)檢(jian)(jian)測(ce)線(xian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)深度(du)信息(xi)和采用點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭去(qu)評(ping)定(ding)點(dian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)長度(du)信息(xi)均是不現實的(de)(de)；高精度(du)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)需要以大量(liang)的(de)(de)獨(du)立測(ce)量(liang)通道和信號(hao)處理系(xi)統為代價，因此，應根據檢(jian)(jian)測(ce)目(mu)標(biao)綜合權(quan)衡。
