鍛件的(de)質量(liang)要(yao)求主要(yao)表現在鋼的(de)純凈(jing)(jing)性(xing)(xing)(xing)、均勻(yun)(yun)性(xing)(xing)(xing)和致(zhi)密性(xing)(xing)(xing)三個方面(mian)。純凈(jing)(jing)性(xing)(xing)(xing)、均勻(yun)(yun)性(xing)(xing)(xing)和致(zhi)密性(xing)(xing)(xing)的(de)任何(he)不完(wan)善都(dou)會(hui)影響(xiang)質量(liang)而成為缺(que)陷,缺(que)陷越(yue)嚴重,對質量(liang)影響(xiang)也越(yue)大(da),缺(que)陷如超(chao)過(guo)限度(du)則導致(zhi)鍛件質量(liang)不能滿足技術條件的(de)要(yao)求而報廢,故道道工序均應嚴加控制。下面(mian)我(wo)們(men)就和江蘇容(rong)大(da)一起看看鍛件成分分析都(dou)是哪些方面(mian)?


1. 化學成(cheng)分分析


  一般化學成(cheng)分分析(xi)(xi)主要(yao)(yao)為碳、錳、硅(gui)、硫、磷及合金(jin)元(yuan)素(su)的含量(liang)。鍛件(jian)從(cong)相(xiang)當冒口端取(qu)樣,重要(yao)(yao)鍛件(jian)為了了解(jie)偏析(xi)(xi)程度需從(cong)水、冒口兩端取(qu)樣,特殊件(jian)或(huo)缺(que)陷 (及失效(xiao))分析(xi)(xi),往(wang)往(wang)還需要(yao)(yao)分析(xi)(xi)氣體(ti)、夾(jia)雜物及微量(liang)雜質元(yuan)素(su)的含量(liang),供質量(liang)確認(ren)或(huo)研究使用。


2. 力學性能試(shi)驗


  常用(yong)的力學(xue)性(xing)能試驗(yan)為硬度、拉深、沖(chong)擊和彎曲(qu)試驗(yan)。從性(xing)能數(shu)據(ju)可以發現材質存(cun)在的問題,鋼中氣泡、疏松、裂紋、晶粒度及(ji)回火(huo)脆性(xing)等(deng)往往均可在力學(xue)性(xing)能試樣的斷口上(shang)反(fan)映(ying)出來。


3. 低倍(bei)檢(jian)驗


  硫(liu)印(yin)、酸(suan)洗(xi)、斷口是常(chang)用的(de)低倍檢驗項目。硫(liu)印(yin)可以(yi)顯(xian)示硫(liu)在截面(mian)上(shang)的(de)分(fen)布情況(kuang);酸(suan)洗(xi)可以(yi)顯(xian)示截面(mian)上(shang)的(de)成分(fen)偏析、疏(shu)松、縮孔、皮下氣泡、夾雜物(wu)、翻(fan)皮、白(bai)點裂紋等各種宏觀缺陷;斷口檢驗可以(yi)發現(xian)硫(liu)印(yin)、酸(suan)洗(xi)所沒能(neng)顯(xian)露出來的(de)缺陷,是一種簡便(bian)而適用的(de)方法。


4. 金相高(gao)倍檢驗(yan)


  這種方(fang)法廣(guang)泛(fan)用(yong)于(yu)(yu)微觀(guan)檢查(cha),也常用(yong)于(yu)(yu)研(yan)究(jiu)宏觀(guan)缺(que)陷(xian)的(de)微觀(guan)特征。 是用(yong)光學顯微鏡(LM)在放大50至(zhi)2000倍下觀(guan)察(cha)制備(bei)好(hao)的(de)金(jin)相試(shi)樣,檢查(cha)夾雜物、金(jin)屬(shu)顯微組織及晶(jing)粒度等。 


5. 無損檢測


  通常(chang)用的(de)有磁粉、熒(ying)光、著色、射線、渦流(liu)和(he)超聲波等(deng)(deng)方(fang)法(fa)。正確(que)選(xuan)擇探(tan)傷方(fang)法(fa)對(dui)(dui)鍛(duan)(duan)件表(biao)面(mian)(mian)及內部的(de)缺陷(xian)進(jin)(jin)(jin)行(xing)全面(mian)(mian)細(xi)致地檢(jian)查(cha),可以(yi)(yi)(yi)準確(que)地判斷(duan)存在缺陷(xian)的(de),大小、數(shu)量及分(fen)布,在鍛(duan)(duan)件的(de)質量檢(jian)查(cha)中(zhong),無損檢(jian)測(ce)(ce)現(xian)(xian)已成(cheng)為(wei)一種(zhong)(zhong)極為(wei)重要(yao)的(de)方(fang)法(fa)之一。 通過上述的(de)幾種(zhong)(zhong)檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa),可以(yi)(yi)(yi)發現(xian)(xian)鍛(duan)(duan)件中(zhong)的(de)缺陷(xian),了(le)解其(qi)大小、數(shu)量、分(fen)布及宏觀、微觀形(xing)(xing)貌(mao)(mao)。但有時只憑這(zhe)些檢(jian)驗結果還(huan)不足(zu)以(yi)(yi)(yi)判定缺陷(xian)的(de)性(xing)質和(he)明確(que)其(qi)產生原因。為(wei)了(le)對(dui)(dui)所發現(xian)(xian)問題(ti)作進(jin)(jin)(jin)一步(bu)研究,還(huan)需(xu)(xu)對(dui)(dui)其(qi)微觀形(xing)(xing)貌(mao)(mao)作進(jin)(jin)(jin)一步(bu)觀察,對(dui)(dui)成(cheng)分(fen)或第二相夾雜(za)物類型及其(qi)組成(cheng)和(he)含量做進(jin)(jin)(jin)一步(bu)測(ce)(ce)定。這(zhe)就需(xu)(xu)要(yao)比(bi)較現(xian)(xian)代的(de)研究手段(duan)(duan),如掃描電子(zi)顯微鏡 (SEM)、電子(zi)探(tan)針(WDS波譜儀(yi)及EDS能譜儀(yi))和(he)俄歇(xie)電子(zi)譜儀(yi)(AES)等(deng)(deng),它們是一般檢(jian)測(ce)(ce)手段(duan)(duan)的(de)深化和(he)補充。