鍛(duan)件(jian)的質(zhi)量要求主要表現在鋼的純(chun)(chun)凈性(xing)(xing)、均勻(yun)(yun)性(xing)(xing)和(he)致密性(xing)(xing)三個方面(mian)。純(chun)(chun)凈性(xing)(xing)、均勻(yun)(yun)性(xing)(xing)和(he)致密性(xing)(xing)的任何(he)不完善都會影響(xiang)質(zhi)量而(er)成(cheng)為缺(que)陷,缺(que)陷越(yue)嚴重(zhong),對質(zhi)量影響(xiang)也越(yue)大,缺(que)陷如超過限度則(ze)導致鍛(duan)件(jian)質(zhi)量不能滿足(zu)技術條件(jian)的要求而(er)報廢,故(gu)道道工序(xu)均應嚴加(jia)控制。下(xia)面(mian)我們就和(he)江蘇容(rong)大一起看看鍛(duan)件(jian)成(cheng)分分析都是哪(na)些(xie)方面(mian)?
1. 化學成分分析
一般化學成分(fen)分(fen)析(xi)主要(yao)為碳、錳(meng)、硅、硫、磷及合(he)金元素的含量(liang)。鍛件(jian)從相當冒口(kou)端(duan)取(qu)樣,重要(yao)鍛件(jian)為了了解偏析(xi)程度需(xu)(xu)從水(shui)、冒口(kou)兩(liang)端(duan)取(qu)樣,特殊件(jian)或缺陷(xian) (及失(shi)效)分(fen)析(xi),往往還(huan)需(xu)(xu)要(yao)分(fen)析(xi)氣體(ti)、夾(jia)雜物(wu)及微量(liang)雜質元素的含量(liang),供質量(liang)確認或研究使用。
2. 力學性能試驗
常用的力學性能試(shi)驗為硬度(du)(du)、拉深、沖擊和(he)彎曲試(shi)驗。從性能數據可(ke)以發現材質存在的問題,鋼(gang)中氣(qi)泡、疏松、裂紋、晶粒度(du)(du)及回火脆性等(deng)往(wang)往(wang)均(jun)可(ke)在力學性能試(shi)樣的斷口上(shang)反映出來。
3. 低倍檢(jian)驗(yan)
硫印(yin)、酸(suan)(suan)洗(xi)、斷口是常用(yong)的(de)低倍(bei)檢(jian)驗項目。硫印(yin)可(ke)以(yi)顯(xian)示(shi)硫在截面(mian)(mian)上的(de)分布情況;酸(suan)(suan)洗(xi)可(ke)以(yi)顯(xian)示(shi)截面(mian)(mian)上的(de)成(cheng)分偏析、疏松、縮孔、皮下氣泡、夾(jia)雜物、翻皮、白點裂紋等各(ge)種(zhong)宏觀缺(que)陷;斷口檢(jian)驗可(ke)以(yi)發現硫印(yin)、酸(suan)(suan)洗(xi)所沒能顯(xian)露出來的(de)缺(que)陷,是一種(zhong)簡便而適用(yong)的(de)方(fang)法。
4. 金相高倍檢(jian)驗
這種方法廣(guang)泛用于微觀檢(jian)查,也常用于研究宏(hong)觀缺(que)陷的(de)微觀特(te)征。 是用光學顯(xian)微鏡(jing)(LM)在(zai)放(fang)大(da)50至2000倍(bei)下(xia)觀察制備(bei)好(hao)的(de)金(jin)相(xiang)試樣(yang),檢(jian)查夾雜物、金(jin)屬顯(xian)微組(zu)織及晶粒度等。
5. 無損檢測
通常(chang)用的(de)(de)有(you)磁粉、熒光、著色、射線(xian)、渦流和(he)(he)超聲波等(deng)方法。正(zheng)確選擇探傷方法對(dui)鍛件(jian)表面及(ji)內(nei)部的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)進(jin)行(xing)全(quan)面細致地檢(jian)(jian)查(cha),可以準確地判斷存在缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de),大(da)小、數(shu)量(liang)及(ji)分(fen)(fen)布,在鍛件(jian)的(de)(de)質量(liang)檢(jian)(jian)查(cha)中,無損檢(jian)(jian)測現(xian)(xian)已成(cheng)為(wei)(wei)一(yi)種(zhong)極為(wei)(wei)重要的(de)(de)方法之(zhi)一(yi)。 通過上(shang)述的(de)(de)幾種(zhong)檢(jian)(jian)測方法,可以發現(xian)(xian)鍛件(jian)中的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian),了解其(qi)(qi)大(da)小、數(shu)量(liang)、分(fen)(fen)布及(ji)宏觀(guan)(guan)、微觀(guan)(guan)形貌。但有(you)時(shi)只憑這些檢(jian)(jian)驗(yan)結果還不(bu)足(zu)以判定(ding)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)性質和(he)(he)明確其(qi)(qi)產生原因。為(wei)(wei)了對(dui)所發現(xian)(xian)問題作(zuo)進(jin)一(yi)步研(yan)究(jiu),還需對(dui)其(qi)(qi)微觀(guan)(guan)形貌作(zuo)進(jin)一(yi)步觀(guan)(guan)察,對(dui)成(cheng)分(fen)(fen)或第二相夾(jia)雜物類型及(ji)其(qi)(qi)組成(cheng)和(he)(he)含(han)量(liang)做(zuo)進(jin)一(yi)步測定(ding)。這就需要比較(jiao)現(xian)(xian)代的(de)(de)研(yan)究(jiu)手(shou)段(duan),如掃描(miao)電子(zi)顯微鏡 (SEM)、電子(zi)探針(WDS波譜(pu)(pu)儀及(ji)EDS能譜(pu)(pu)儀)和(he)(he)俄歇電子(zi)譜(pu)(pu)儀(AES)等(deng),它們是一(yi)般檢(jian)(jian)測手(shou)段(duan)的(de)(de)深(shen)化和(he)(he)補充。

