鍛(duan)(duan)件的(de)質(zhi)量(liang)(liang)要求主要表現(xian)在鋼(gang)的(de)純凈性(xing)、均(jun)勻性(xing)和(he)致密(mi)性(xing)三(san)個方(fang)面。純凈性(xing)、均(jun)勻性(xing)和(he)致密(mi)性(xing)的(de)任何(he)不完善都會影響(xiang)質(zhi)量(liang)(liang)而(er)成(cheng)(cheng)為缺陷，缺陷越嚴重，對(dui)質(zhi)量(liang)(liang)影響(xiang)也越大(da)，缺陷如超過限度(du)則(ze)導致鍛(duan)(duan)件質(zhi)量(liang)(liang)不能(neng)滿足技術條件的(de)要求而(er)報廢，故道道工序均(jun)應(ying)嚴加控制(zhi)。下面我們就和(he)江(jiang)蘇(su)容大(da)一起(qi)看看鍛(duan)(duan)件成(cheng)(cheng)分分析都是哪些方(fang)面？


1. 化學成分分析


  一般化學成(cheng)分分析主要(yao)為(wei)碳(tan)、錳、硅、硫、磷及(ji)合金(jin)元素(su)的含(han)量(liang)。鍛(duan)件(jian)從相當冒口(kou)端取樣，重要(yao)鍛(duan)件(jian)為(wei)了了解偏析程度需從水、冒口(kou)兩(liang)端取樣,特殊(shu)件(jian)或缺陷(xian) (及(ji)失效)分析，往往還需要(yao)分析氣體、夾雜物(wu)及(ji)微(wei)量(liang)雜質元素(su)的含(han)量(liang)，供質量(liang)確認或研究使用(yong)。


2. 力(li)學性能試驗


  常用的力學性能(neng)試(shi)驗(yan)為硬(ying)度(du)、拉深、沖擊和彎曲試(shi)驗(yan)。從性能(neng)數據(ju)可以發現材(cai)質存在的問題(ti)，鋼中氣泡、疏松、裂紋、晶粒度(du)及回(hui)火脆性等往往均可在力學性能(neng)試(shi)樣的斷(duan)口上反(fan)映出來。


3. 低倍檢驗


  硫(liu)(liu)(liu)印、酸(suan)洗(xi)、斷口(kou)是常用的低倍檢(jian)驗(yan)項目。硫(liu)(liu)(liu)印可以顯示硫(liu)(liu)(liu)在截(jie)面上的分(fen)布(bu)情況;酸(suan)洗(xi)可以顯示截(jie)面上的成分(fen)偏析、疏松、縮(suo)孔、皮下氣泡、夾雜物、翻皮、白點(dian)裂紋等各種(zhong)宏觀缺陷;斷口(kou)檢(jian)驗(yan)可以發現(xian)硫(liu)(liu)(liu)印、酸(suan)洗(xi)所沒能顯露出來的缺陷，是一種(zhong)簡(jian)便而(er)適用的方法(fa)。


4. 金相高倍檢(jian)驗


  這種方法廣泛用(yong)于微(wei)觀(guan)檢查，也常用(yong)于研(yan)究宏觀(guan)缺陷的微(wei)觀(guan)特征(zheng)。 是(shi)用(yong)光學(xue)顯微(wei)鏡(LM)在放大50至(zhi)2000倍下觀(guan)察(cha)制備好的金(jin)相試樣，檢查夾雜物、金(jin)屬顯微(wei)組織及晶粒度等。 


5. 無損檢(jian)測(ce)


  通常(chang)用(yong)的(de)(de)有磁粉(fen)、熒光、著色、射線、渦流(liu)和(he)(he)超聲波(bo)等方法。正(zheng)確選擇(ze)探(tan)傷方法對(dui)鍛件(jian)表面及內部的(de)(de)缺(que)陷進行全面細致地檢(jian)查，可以準確地判斷存(cun)在缺(que)陷的(de)(de)，大小、數量及分布(bu)(bu)，在鍛件(jian)的(de)(de)質量檢(jian)查中，無損檢(jian)測現(xian)(xian)(xian)已(yi)成(cheng)(cheng)(cheng)為一(yi)種極(ji)為重要的(de)(de)方法之一(yi)。 通過上述的(de)(de)幾(ji)種檢(jian)測方法，可以發現(xian)(xian)(xian)鍛件(jian)中的(de)(de)缺(que)陷，了解其大小、數量、分布(bu)(bu)及宏觀(guan)、微觀(guan)形(xing)貌。但有時只憑這些檢(jian)驗結果還不足(zu)以判定(ding)缺(que)陷的(de)(de)性質和(he)(he)明確其產生原因。為了對(dui)所發現(xian)(xian)(xian)問(wen)題作進一(yi)步研究,還需(xu)對(dui)其微觀(guan)形(xing)貌作進一(yi)步觀(guan)察,對(dui)成(cheng)(cheng)(cheng)分或第二相夾雜物類型(xing)及其組(zu)成(cheng)(cheng)(cheng)和(he)(he)含量做進一(yi)步測定(ding)。這就需(xu)要比較現(xian)(xian)(xian)代(dai)的(de)(de)研究手段(duan)，如(ru)掃描電(dian)(dian)子顯微鏡 (SEM)、電(dian)(dian)子探(tan)針(zhen)（WDS波(bo)譜(pu)儀及EDS能譜(pu)儀）和(he)(he)俄歇電(dian)(dian)子譜(pu)儀(AES)等，它們是一(yi)般檢(jian)測手段(duan)的(de)(de)深化(hua)和(he)(he)補(bu)充(chong)。