鍛件的質(zhi)量要(yao)求主要(yao)表現在(zai)鋼的純(chun)凈(jing)性(xing)(xing)、均(jun)勻性(xing)(xing)和(he)致(zhi)密性(xing)(xing)三個方面。純(chun)凈(jing)性(xing)(xing)、均(jun)勻性(xing)(xing)和(he)致(zhi)密性(xing)(xing)的任(ren)何不完善(shan)都(dou)會影響(xiang)質(zhi)量而(er)成為(wei)缺(que)陷，缺(que)陷越(yue)嚴重，對質(zhi)量影響(xiang)也(ye)越(yue)大，缺(que)陷如超過限度則導致(zhi)鍛件質(zhi)量不能(neng)滿足技術條件的要(yao)求而(er)報廢(fei)，故道(dao)道(dao)工序均(jun)應(ying)嚴加控(kong)制。下面我們(men)就(jiu)和(he)江蘇容大一起(qi)看(kan)看(kan)鍛件成分(fen)分(fen)析(xi)都(dou)是哪些方面？


1. 化(hua)學成(cheng)分分析


  一般化學成分分析(xi)主(zhu)要(yao)為碳(tan)、錳、硅、硫、磷及(ji)合(he)金元素(su)的含量。鍛件(jian)從相當冒口端(duan)取樣(yang)，重要(yao)鍛件(jian)為了了解(jie)偏(pian)析(xi)程度(du)需從水、冒口兩端(duan)取樣(yang),特殊件(jian)或(huo)缺陷 (及(ji)失效(xiao))分析(xi)，往往還需要(yao)分析(xi)氣體、夾雜物及(ji)微量雜質元素(su)的含量，供(gong)質量確認(ren)或(huo)研究使用(yong)。


2. 力學性能試驗


  常(chang)用的力學性(xing)能(neng)試驗為硬度、拉深(shen)、沖擊和彎曲試驗。從性(xing)能(neng)數(shu)據(ju)可以發現材質存在(zai)的問題，鋼中氣泡(pao)、疏松、裂紋、晶粒度及回(hui)火脆性(xing)等往往均可在(zai)力學性(xing)能(neng)試樣的斷(duan)口上反映出來。


3. 低倍檢驗


  硫(liu)(liu)印(yin)、酸(suan)洗、斷口是常用(yong)的低倍檢(jian)驗(yan)項目(mu)。硫(liu)(liu)印(yin)可(ke)以顯(xian)示硫(liu)(liu)在截(jie)面上的分布情況;酸(suan)洗可(ke)以顯(xian)示截(jie)面上的成分偏析、疏松、縮孔、皮(pi)下氣泡、夾雜(za)物、翻皮(pi)、白點裂(lie)紋等(deng)各種(zhong)宏觀缺陷(xian);斷口檢(jian)驗(yan)可(ke)以發現(xian)硫(liu)(liu)印(yin)、酸(suan)洗所沒能(neng)顯(xian)露(lu)出來的缺陷(xian)，是一種(zhong)簡便(bian)而適用(yong)的方法(fa)。


4. 金相(xiang)高倍檢驗


  這種方法廣泛(fan)用于(yu)微(wei)觀檢查，也(ye)常用于(yu)研究宏(hong)觀缺陷的微(wei)觀特征。 是用光學顯微(wei)鏡(jing)(LM)在(zai)放大50至2000倍下觀察制備好(hao)的金相試樣，檢查夾雜(za)物、金屬顯微(wei)組織及晶粒度等。 


5. 無損檢測


  通常用的(de)(de)有磁(ci)粉、熒(ying)光、著色(se)、射線(xian)、渦流和(he)(he)(he)超(chao)聲(sheng)波等(deng)方(fang)法(fa)。正(zheng)確選擇探傷方(fang)法(fa)對鍛件(jian)表面及內部(bu)的(de)(de)缺陷進(jin)行全面細致(zhi)地檢(jian)查，可以(yi)(yi)準確地判斷存在(zai)缺陷的(de)(de)，大小、數(shu)量及分(fen)布，在(zai)鍛件(jian)的(de)(de)質(zhi)量檢(jian)查中，無損檢(jian)測現已成為(wei)一(yi)種極為(wei)重要的(de)(de)方(fang)法(fa)之一(yi)。 通過上述(shu)的(de)(de)幾(ji)種檢(jian)測方(fang)法(fa)，可以(yi)(yi)發(fa)現鍛件(jian)中的(de)(de)缺陷，了(le)解(jie)其(qi)大小、數(shu)量、分(fen)布及宏觀(guan)、微(wei)(wei)觀(guan)形貌。但有時(shi)只憑這些檢(jian)驗結果還(huan)不(bu)足以(yi)(yi)判定(ding)缺陷的(de)(de)性質(zhi)和(he)(he)(he)明確其(qi)產(chan)生原因(yin)。為(wei)了(le)對所發(fa)現問(wen)題(ti)作進(jin)一(yi)步(bu)研究,還(huan)需對其(qi)微(wei)(wei)觀(guan)形貌作進(jin)一(yi)步(bu)觀(guan)察,對成分(fen)或第二相夾雜物(wu)類型及其(qi)組成和(he)(he)(he)含(han)量做進(jin)一(yi)步(bu)測定(ding)。這就需要比較現代的(de)(de)研究手段，如掃描電子(zi)(zi)顯微(wei)(wei)鏡 (SEM)、電子(zi)(zi)探針(zhen)（WDS波譜儀及EDS能(neng)譜儀）和(he)(he)(he)俄歇電子(zi)(zi)譜儀(AES)等(deng)，它們(men)是一(yi)般檢(jian)測手段的(de)(de)深化和(he)(he)(he)補充。