由加工方法留(liu)下的表(biao)(biao)面(mian)痕跡的深(shen)淺、疏密(mi)、形(xing)狀和紋理都有差異，生(sheng)(sheng)產運行(xing)中(zhong)產生(sheng)(sheng)的表(biao)(biao)面(mian)痕跡更是千(qian)奇百怪。這些微觀的和宏(hong)觀的幾何(he)不平整在漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)檢測中(zhong)均會引(yin)起(qi)磁(ci)(ci)(ci)場泄漏(lou)(lou)(lou)，由此帶來的背景漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)場信號將會影(ying)響微小裂紋的漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)場測量，并進一步影(ying)響到(dao)漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)檢測的檢測極限(xian)。為此，研(yan)究表(biao)(biao)面(mian)粗糙度對裂紋漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)檢測的影(ying)響具有重要意義。
1. 表面粗(cu)糙度試塊
采用Q235碳素結構(gou)鋼制作(zuo)試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)，試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)尺寸長300mm、寬(kuan)100mm、厚14mm。首先，將三塊(kuai)(kuai)(kuai)試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)表(biao)(biao)(biao)面利用飛刀進(jin)行(xing)銑削(xue)加(jia)工，如圖(tu)(tu)1-6所示，其表(biao)(biao)(biao)面粗糙度(du)(du)值從左到(dao)右依(yi)次(ci)為(wei)Ra3.2μm、Ra6.3μm、Ra12.5μm，編號(hao)(hao)1、2、3。然后，利用立銑加(jia)工另外(wai)三塊(kuai)(kuai)(kuai)試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)表(biao)(biao)(biao)面，如圖(tu)(tu)1-7所示，其表(biao)(biao)(biao)面粗糙度(du)(du)值從左到(dao)右依(yi)次(ci)為(wei) Ra3.2μm、Ra6.3μm、Ra12.5μm，編號(hao)(hao)4、5、6。另外(wai)，再采用平(ping)磨(mo)加(jia)工一塊(kuai)(kuai)(kuai)試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)表(biao)(biao)(biao)面，此種方式獲得的(de)表(biao)(biao)(biao)面質(zhi)量較好，其表(biao)(biao)(biao)面粗糙度(du)(du)值為(wei)Ra0.2μm，編號(hao)(hao)7。所有試(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)表(biao)(biao)(biao)面均刻有一組寬(kuan)度(du)(du)為(wei)20μm，深度(du)(du)不同的(de)人工線(xian)狀缺(que)陷，尺寸如圖(tu)(tu)1-8所示，從左到(dao)右深度(du)(du)依(yi)次(ci)為(wei)20μm、45μm、70μm，相鄰缺(que)陷的(de)間距(ju)為(wei)70mm。
2. 表面粗糙(cao)度對漏磁(ci)檢測信號的影響(xiang)試驗(yan)
檢測(ce)(ce)裝(zhuang)置主要由(you)磁化(hua)器、檢測(ce)(ce)探頭(tou)(tou)(tou)、信號(hao)采集(ji)系統(tong)、上(shang)(shang)(shang)位機(ji)(ji)等部分(fen)組(zu)(zu)(zu)(zu)成，如(ru)圖(tu)1-9所示(shi)。磁化(hua)器由(you)兩(liang)組(zu)(zu)(zu)(zu)線圈組(zu)(zu)(zu)(zu)成，檢測(ce)(ce)探頭(tou)(tou)(tou)安裝(zhuang)在兩(liang)組(zu)(zu)(zu)(zu)線圈中間，以保證(zheng)檢測(ce)(ce)探頭(tou)(tou)(tou)所在的位置磁場分(fen)布(bu)均勻。探頭(tou)(tou)(tou)安裝(zhuang)在一T形支架上(shang)(shang)(shang)，T形支架固定在兩(liang)組(zu)(zu)(zu)(zu)線圈上(shang)(shang)(shang)方。鋼板在支撐輪的驅(qu)動(dong)(dong)(dong)下(xia)做勻速運(yun)動(dong)(dong)(dong)，在移動(dong)(dong)(dong)過程中，試塊始(shi)終與探頭(tou)(tou)(tou)保持緊密(mi)貼合。檢測(ce)(ce)探頭(tou)(tou)(tou)將磁場信息(xi)轉換成電信號(hao)，并(bing)由(you)采集(ji)卡(ka)進(jin)行(xing)A-D轉換后進(jin)入(ru)計算機(ji)(ji)，由(you)上(shang)(shang)(shang)位機(ji)(ji)軟件(jian)進(jin)行(xing)顯示(shi)。
a. 表面粗(cu)糙度對同一深度裂(lie)紋信(xin)噪(zao)比的影響
首先(xian)，利用(yong)平(ping)磨(mo)試(shi)(shi)塊7進行飽和(he)磁(ci)化(hua)(hua)下的(de)(de)漏磁(ci)檢測(ce)試(shi)(shi)驗。試(shi)(shi)塊的(de)(de)磁(ci)化(hua)(hua)方向(xiang)垂直于人工線狀缺陷，試(shi)(shi)塊以恒(heng)定的(de)(de)速度(du)沿磁(ci)化(hua)(hua)方向(xiang)運動(dong)，檢測(ce)結果(guo)如圖1-10所(suo)示。
從圖中可以(yi)看出(chu)，由于(yu)平磨的表面質量較好，并(bing)未帶來明顯的噪(zao)聲(sheng)信號。另外，信號峰值與缺陷(xian)的深(shen)(shen)度成正(zheng)相關(guan)規律，當缺陷(xian)深(shen)(shen)度為20μm左右時，基本無法檢測出(chu)缺陷(xian)信號。
保持試(shi)驗條件不變，獲(huo)得1～7號試(shi)塊上70μm缺陷(xian)的信噪(zao)比，如圖1-11所示，信噪(zao)比公式為 : SNR=20log(S/N) (1-1) ,式中，S代表信號最(zui)(zui)大幅值；N代表噪聲(sheng)最(zui)(zui)大幅值。
分(fen)析(xi)圖1-11曲線變化規(gui)律(lv)可知，對于深度(du)(du)(du)(du)為70μm的(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷，隨著表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)粗糙(cao)(cao)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)斷增大(da)，檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪比逐(zhu)漸降低。其中，在(zai)表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)粗糙(cao)(cao)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)Ra=12.5μmm的(de)(de)(de)(de)(de)(de)3號(hao)(hao)(hao)和6號(hao)(hao)(hao)試(shi)塊上(shang)，缺(que)(que)陷檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪比非常低，已經不(bu)能清晰分(fen)辨出(chu)缺(que)(que)陷信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)。在(zai)表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)粗糙(cao)(cao)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)Ra＝3.2μm的(de)(de)(de)(de)(de)(de)1號(hao)(hao)(hao)和4號(hao)(hao)(hao)試(shi)塊上(shang)，缺(que)(que)陷檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪比較(jiao)高(gao)，而平磨試(shi)塊上(shang)同等深度(du)(du)(du)(du)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪比最高(gao)。由此可見，對于微小缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)粗糙(cao)(cao)度(du)(du)(du)(du)會(hui)直接(jie)影響檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)(xin)(xin)噪比，較(jiao)大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)粗糙(cao)(cao)度(du)(du)(du)(du)值(zhi)甚至會(hui)帶(dai)來漏(lou)判或誤(wu)判。換言之，在(zai)表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)粗糙(cao)(cao)度(du)(du)(du)(du)確定的(de)(de)(de)(de)(de)(de)情況下，試(shi)件上(shang)可檢(jian)測(ce)(ce)(ce)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)(de)(de)深度(du)(du)(du)(du)存在(zai)極限。
b. 表面(mian)粗糙度(du)對不同(tong)深度(du)裂(lie)紋信噪比的影響
保持試驗條件不變，探頭以相同速度掃查(cha)所(suo)有試塊，對不同深度的裂紋進(jin)行漏磁檢測。各(ge)試塊得到的缺陷檢測信號如圖1-12所(suo)示(shi)。
分析(xi)檢測結果，根據式(shi)（1-1）得到在不同表面(mian)粗糙(cao)度(du)下信號信噪比關于裂(lie)紋深度(du)的關系曲線，如圖1-13和圖1-14所示。
分析圖1-13所示飛(fei)刀銑(xian)(xian)表(biao)(biao)面上(shang)(shang)不同(tong)深度(du)(du)缺陷(xian)的(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪(zao)(zao)比曲(qu)線，對于相(xiang)同(tong)的(de)(de)(de)表(biao)(biao)面粗糙度(du)(du)，隨(sui)著人(ren)工裂紋深度(du)(du)的(de)(de)(de)減(jian)小，缺陷(xian)信(xin)(xin)(xin)號的(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪(zao)(zao)比降低。與此對應，如圖1-14所示，從(cong)立銑(xian)(xian)試(shi)塊(kuai)的(de)(de)(de)測試(shi)結果(guo)可以看出，在(zai)一(yi)定表(biao)(biao)面粗糙度(du)(du)下，裂紋深度(du)(du)變化引起的(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪(zao)(zao)比變化趨(qu)勢與飛(fei)刀銑(xian)(xian)試(shi)塊(kuai)基(ji)本一(yi)致(zhi)。但是，由于表(biao)(biao)面加(jia)工方(fang)式的(de)(de)(de)差異，兩組(zu)試(shi)塊(kuai)表(biao)(biao)面峰谷不平的(de)(de)(de)分布(bu)規律并非完全一(yi)樣，從(cong)而導致(zhi)采(cai)用不同(tong)加(jia)工方(fang)式形成的(de)(de)(de)相(xiang)同(tong)表(biao)(biao)面粗糙度(du)(du)表(biao)(biao)面上(shang)(shang)的(de)(de)(de)相(xiang)同(tong)深度(du)(du)缺陷(xian)信(xin)(xin)(xin)噪(zao)(zao)比不同(tong)。
以上(shang)試驗(yan)結果(guo)表(biao)明，在(zai)(zai)表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)確定的情(qing)況下，存(cun)在(zai)(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)檢測(ce)裂紋極(ji)限(xian)深(shen)(shen)度(du)(du)(du)。如果(guo)裂紋深(shen)(shen)度(du)(du)(du)小于極(ji)限(xian)深(shen)(shen)度(du)(du)(du)，受信噪比的影(ying)響，漏磁(ci)(ci)(ci)檢測(ce)靈敏(min)度(du)(du)(du)將降低。表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)對漏磁(ci)(ci)(ci)檢測(ce)的影(ying)響機理在(zai)(zai)于，表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)引(yin)(yin)起表(biao)面(mian)(mian)微觀峰谷不(bu)(bu)平輪(lun)廓，在(zai)(zai)兩種不(bu)(bu)同磁(ci)(ci)(ci)導率材(cai)料的分界面(mian)(mian)上(shang)，存(cun)在(zai)(zai)磁(ci)(ci)(ci)折射現象，上(shang)凸和下凹的輪(lun)廓引(yin)(yin)起了對應表(biao)面(mian)(mian)上(shang)方(fang)磁(ci)(ci)(ci)場的不(bu)(bu)同分布。
3. 粗糙表面的磁場分布
鐵磁(ci)(ci)性材料的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)漏磁(ci)(ci)檢(jian)測機理通常(chang)是(shi)基于下(xia)凹型缺陷(xian)處的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)場泄(xie)漏，而MFL（Magnetic Flux Leakage）完整(zheng)(zheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測機理并非傳(chuan)統簡單的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)描述(shu)，如(ru)“磁(ci)(ci)場泄(xie)漏”“產生(sheng)漏磁(ci)(ci)信(xin)號(hao)”這(zhe)(zhe)樣一個過程。如(ru)圖1-15所示，從磁(ci)(ci)折射的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)角度(du)考慮，漏磁(ci)(ci)檢(jian)測中，缺陷(xian)附(fu)近(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感應(ying)強度(du)變(bian)化(hua)主要是(shi)界面兩側不同(tong)介質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)導(dao)(dao)率差異引起的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)。不同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)由于界面處的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)折射現象，在(zai)凹型缺陷(xian)如(ru)裂紋(wen)或腐蝕下(xia)產生(sheng)“正(zheng)”的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)MFL信(xin)號(hao)，而在(zai)小突起物存在(zai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)地方，代表(biao)凸狀缺陷(xian)則產生(sheng)“負”的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)MFL信(xin)號(hao)。基于這(zhe)(zhe)兩種(zhong)情(qing)況，前者(zhe)導(dao)(dao)致上凸的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)，后者(zhe)產生(sheng)一個凹陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)。由于這(zhe)(zhe)種(zhong)凹凸信(xin)號(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)存在(zai)，當(dang)感應(ying)單元沿著凹凸不平的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面進行掃查時(shi)，捕獲到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)必定影(ying)響(xiang)最(zui)終檢(jian)測結(jie)果。在(zai)微(wei)尺(chi)度(du)條(tiao)件下(xia)，工件表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面粗糙(cao)度(du)模型中，緊密相連的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)“上凸”部分和“下(xia)凹”部分會產生(sheng)不同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)折射效應(ying)，故采用這(zhe)(zhe)種(zhong)完整(zheng)(zheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)漏磁(ci)(ci)檢(jian)測機理。
無論(lun)采用哪種加(jia)工方(fang)法，受刀具與零件(jian)(jian)間的(de)(de)運動、摩擦，機床(chuang)的(de)(de)振(zhen)動及零件(jian)(jian)的(de)(de)塑性變形等因素的(de)(de)影響，所獲得(de)的(de)(de)工件(jian)(jian)表(biao)面都(dou)存(cun)在(zai)微觀的(de)(de)不(bu)平痕(hen)跡，即為表(biao)面粗(cu)糙度(du)，通常波(bo)距(ju)小于(yu)1mm。工件(jian)(jian)在(zai)使用過程中的(de)(de)磨(mo)損(sun)、腐蝕介質的(de)(de)侵蝕消耗也會造成表(biao)面粗(cu)糙，這(zhe)種較小間距(ju)的(de)(de)
峰谷所組(zu)成的(de)微觀幾何輪(lun)廓(kuo)構成表(biao)面紋理粗糙(cao)度，通(tong)常采用二(er)維表(biao)面粗糙(cao)度評定(ding)標準即能(neng)(neng)基(ji)本滿(man)足機加工零件(jian)要(yao)求，常用評定(ding)參數優先選用輪(lun)廓(kuo)算術平均偏差(cha)Ra，能(neng)(neng)夠直接反映(ying)工件(jian)表(biao)面峰谷不平的(de)狀態。Ra的(de)定(ding)義(yi)常通(tong)過(guo)圖1-16表(biao)示(shi)。
由Ra的(de)(de)(de)(de)定義可(ke)知，其主要反映工(gong)件表(biao)(biao)面(mian)這種(zhong)峰(feng)谷不平的(de)(de)(de)(de)狀態，在漏(lou)磁檢(jian)測中(zhong)，這種(zhong)峰(feng)谷不平的(de)(de)(de)(de)狀態會引(yin)起工(gong)件表(biao)(biao)面(mian)磁場強度的(de)(de)(de)(de)分(fen)布變(bian)化。Ra反映的(de)(de)(de)(de)是垂(chui)直于工(gong)件表(biao)(biao)面(mian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)高度變(bian)化，漏(lou)磁檢(jian)測中(zhong)的(de)(de)(de)(de)垂(chui)直于工(gong)件表(biao)(biao)面(mian)方向(xiang)對應(ying)著(zhu)缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)深度方向(xiang)，因此建立表(biao)(biao)面(mian)粗(cu)糙度元的(de)(de)(de)(de)簡(jian)化模型可(ke)以分(fen)析工(gong)件粗(cu)糙表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)漏(lou)磁場分(fen)布規律。
通常采用規(gui)則的(de)(de)三(san)(san)角形(xing)鋸齒(chi)狀表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)來建立表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)模(mo)型，模(mo)擬原本不規(gui)則的(de)(de)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)分(fen)(fen)(fen)布(bu)，便于定性和定量分(fen)(fen)(fen)析。仿(fang)真模(mo)型的(de)(de)特點(dian)是三(san)(san)角形(xing)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)緊(jin)(jin)密(mi)相連，其間(jian)(jian)無間(jian)(jian)隙(xi)。圖1-17所(suo)示為仿(fang)真分(fen)(fen)(fen)析獲得工件及周(zhou)圍(wei)的(de)(de)磁(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)分(fen)(fen)(fen)布(bu)云圖，表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)模(mo)型中代(dai)表(biao)峰谷的(de)(de)凹凸三(san)(san)角形(xing)造成了周(zhou)圍(wei)空間(jian)(jian)磁(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)的(de)(de)分(fen)(fen)(fen)布(bu)變化。A區(qu)域(yu)代(dai)表(biao)上凸三(san)(san)角形(xing)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)，其上方C區(qu)域(yu)的(de)(de)磁(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)弱(ruo)于該(gai)(gai)區(qu)域(yu)周(zhou)圍(wei)的(de)(de)磁(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)；與此同時(shi)，緊(jin)(jin)鄰下凹三(san)(san)角形(xing)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)B的(de)(de)上方也存在(zai)區(qu)域(yu)D，該(gai)(gai)區(qu)域(yu)的(de)(de)磁(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)大于其周(zhou)圍(wei)空間(jian)(jian)的(de)(de)磁(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)。
相對于基準(zhun)面，提離0.15mm，拾取表(biao)面上(shang)方一段長度范(fan)圍(wei)內磁感應(ying)強(qiang)度水(shui)平分(fen)量(liang)變化(hua)曲(qu)線，如圖1-18所示。圖中(zhong)(zhong)仿(fang)真信號呈現出上(shang)凸下凹的變化(hua)規律，與圖1-17中(zhong)(zhong)的磁感應(ying)強(qiang)度變化(hua)規律一致。
當表面(mian)(mian)粗(cu)糙度(du)元(yuan)的(de)高度(du)與(yu)缺(que)陷(xian)深度(du)具有(you)相(xiang)同(tong)數量級時，表面(mian)(mian)粗(cu)糙度(du)元(yuan)引(yin)起的(de)磁(ci)場(chang)變(bian)化(hua)不可(ke)忽略。若缺(que)陷(xian)附近(jin)表面(mian)(mian)粗(cu)糙度(du)元(yuan)產(chan)生(sheng)的(de)漏(lou)磁(ci)場(chang)強度(du)與(yu)缺(que)陷(xian)產(chan)生(sheng)的(de)漏(lou)磁(ci)場(chang)強度(du)相(xiang)當時，將(jiang)難以分辨出缺(que)陷(xian)信號。
在(zai)上述仿真模型中(zhong)，增加(jia)裂(lie)紋，仿真計算得(de)到缺陷所在(zai)區域上方(fang)的(de)(de)(de)(de)漏磁(ci)(ci)場(chang)(chang)磁(ci)(ci)感(gan)應強度(du)(du)水平(ping)分量(liang)變化曲線如圖1-19所示(shi)。顯然，裂(lie)紋周圍的(de)(de)(de)(de)表面(mian)粗糙(cao)度(du)(du)元產(chan)生(sheng)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)噪聲(sheng)信(xin)號(hao)(hao)(hao)，降低(di)了缺陷的(de)(de)(de)(de)信(xin)噪比。當然，在(zai)實際生(sheng)產(chan)過程中(zhong)，可根(gen)據圖1-19 粗糙(cao)表面(mian)裂(lie)紋上方(fang)漏磁(ci)(ci)場(chang)(chang)磁(ci)(ci)感(gan)應強度(du)(du)水平(ping)分量(liang)分布表面(mian)粗糙(cao)度(du)(du)引起(qi)的(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)特征，采用(yong)合適的(de)(de)(de)(de)濾(lv)波(bo)算法去(qu)除噪聲(sheng)信(xin)號(hao)(hao)(hao)，以提高(gao)信(xin)噪比。
